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1. WO2020128106 - VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM PUNKTFÖRMIGEN BELEUCHTEN EINER PROBE IN EINEM MIKROSKOP

Veröffentlichungsnummer WO/2020/128106
Veröffentlichungsdatum 25.06.2020
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2019/086988
Internationales Anmeldedatum 23.12.2019
IPC
G02B 21/00 2006.01
GPhysik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
21Mikroskope
G02B 27/58 2006.01
GPhysik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
27Optische Systeme oder Geräte, soweit nicht in einer der Gruppen G02B1/-G02B26/115
58Optische Systeme zur Apodisation oder zur Hyperauflösung; Systeme mit synthetischer Apertur
CPC
G02B 21/0036
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0036Scanning details, e.g. scanning stages
G02B 21/0064
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0052Optical details of the image generation
0064multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
G02B 21/0076
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0052Optical details of the image generation
0076arrangements using fluorescence or luminescence
G02B 21/0084
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
008Details of detection or image processing, including general computer control
0084time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection
G02B 27/58
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
58Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems
Anmelder
  • ABBERIOR INSTRUMENTS GMBH [DE]/[DE]
Erfinder
  • HARKE, Benjamin
  • KASTRUP, Lars
Vertreter
  • HOFFMANN, Jürgen
  • GRABOVAC, Dalibor
Prioritätsdaten
LU10108421.12.2018LU
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM PUNKTFÖRMIGEN BELEUCHTEN EINER PROBE IN EINEM MIKROSKOP
(EN) METHOD AND DEVICE FOR ILLUMINATING A SAMPLE IN A MICROSCOPE IN POINTS
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ÉCLAIRAGE PONCTUEL D'UN ÉCHANTILLON DANS UN MICROSCOPE
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum punktförmigen Beleuchten einer Probe (1) in einem Mikroskop, insbesondere einem MINFLUX-Mikroskop, mit Beleuchtungslicht, wobei die Probe (1) sequentiell an den Beleuchtungspunkten (3) eines vordefinierten oder vordefinierbaren Beleuchtungspunktmusters (2) beleuchtet wird. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass eine laterale Ausdehnung des Beleuchtungspunktmusters (2) kleiner ist als die längste Wellenlänge des Beleuchtungslichtes und dass die Beleuchtungspunkte (3) stets ausschließlich zeitlich versetzt beleuchtet werden und dass jedem Beleuchtungspunkt (3) des Beleuchtungspunktmusters (2) eine eigene von mehreren Einzellichtquellen (4) zugeordnet ist und jeder Beleuchtungspunkt (3) mit dem Fokus eines Beleuchtungslichtbündels (5) der ihm zugeordneten Einzellichtquelle (4) beleuchtet wird.
(EN)
The invention relates to a method for illuminating a sample (1) in a microscope, in particular a MINFLUX microscope, in points using illumination light, wherein the sample (1) is illuminated sequentially at the illumination points (3) of a specified or specifiable illumination point pattern (2). The method is characterized in that a lateral extension of the illumination point pattern (2) is smaller than the longest wavelength of the illumination light, the illumination points (3) are illuminated constantly solely in a temporally offset manner, each illumination point (3) of the illumination point pattern (2) is assigned a dedicated individual light source of a plurality of individual light sources (4), and each illumination point (3) is illuminated using the focal point of an illumination light bundle (5) of the individual light source (4) assigned to the illumination point.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'éclairage ponctuel d'un échantillon (1) dans un microscope, notamment un microscope MINFLUX, avec une lumière d'éclairage, l'échantillon (1) étant éclairé séquentiellement aux points d'éclairage (3) d'un modèle de points d'éclairage (2) prédéfini ou prédéfinissable. Le procédé est caractérisé en ce qu'une extension latérale du modèle de points d'éclairage (2) est plus petite que la longueur d'onde la plus grande de la lumière d'éclairage et en ce que les points d'éclairage (3) sont toujours éclairés exclusivement avec un décalage temporel et en ce qu'à chaque point d'éclairage (3) du modèle de points d'éclairage (2) est associée une source de lumière propre parmi plusieurs sources de lumière individuelles (4) et chaque point d'éclairage (3) est éclairé avec le foyer d'un rayon lumineux d'éclairage (5) de la source de lumière individuelle (4) qui lui est associée.
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