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1. WO2020127828 - VORRICHTUNG, VERMESSUNGSSYSTEM UND VERFAHREN ZUR ERFASSUNG EINER ZUMINDEST TEILWEISE SPIEGELNDEN OBERFLÄCHE UNTER VERWENDUNG ZWEIER SPIEGELUNGSMUSTER

Veröffentlichungsnummer WO/2020/127828
Veröffentlichungsdatum 25.06.2020
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2019/086451
Internationales Anmeldedatum 19.12.2019
IPC
G01B 11/25 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
25durch Projizieren eines Musters, z.B. Moiré-Streifen, auf den Gegenstand
G01M 11/00 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
MPrüfen der statischen oder dynamischen Massenverteilung rotierender Teile von Maschinen oder Konstruktionen; Prüfen von Konstruktionsteilen oder Apparaten, soweit nicht anderweitig vorgesehen
11Prüfen optischer Apparate; Prüfen von Aufbauten oder Maschinenteilen durch optische Verfahren, soweit nicht anderweitig vorgesehen
G01N 21/95 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84Systeme, besonders ausgebildet für spezielle Anwendungen
88Untersuchen der Anwesenheit von Fehlern oder Verunreinigungen
95gekennzeichnet durch das Material oder die Form des zu untersuchenden Gegenstandes
Anmelder
  • FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. [DE]/[DE]
Erfinder
  • SCHMITT, Peter
  • KOSTKA, Günther
  • SEIFERT, Lars
  • BAUMGÄRTNER, Carina
Vertreter
  • KÖNIG, Andreas
  • ZIMMERMANN, Tankred
  • STÖCKELER, Ferdinand
  • ZINKLER, Franz
  • SCHENK, Markus
  • HERSINA, Günter
  • BURGER, Markus
  • SCHAIRER, Oliver
  • SCHLENKER, Julian
  • PFITZNER, Hannes
Prioritätsdaten
10 2018 222 888.421.12.2018DE
10 2019 201 208.630.01.2019DE
10 2019 201 272.831.01.2019DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VORRICHTUNG, VERMESSUNGSSYSTEM UND VERFAHREN ZUR ERFASSUNG EINER ZUMINDEST TEILWEISE SPIEGELNDEN OBERFLÄCHE UNTER VERWENDUNG ZWEIER SPIEGELUNGSMUSTER
(EN) DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR CAPTURING AN AT LEAST PARTLY REFLECTIVE SURFACE USING TWO REFLECTION PATTERNS
(FR) DISPOSITIF, SYSTÈME DE MESURE ET PROCÉDÉ POUR LA DÉTECTION D’UNE SURFACE AU MOINS PARTIELLEMENT RÉFLÉCHISSANTE PAR L’UTILISATION DE DEUX MOTIFS DE RÉFLEXION
Zusammenfassung
(DE)
Eine Vorrichtung zur Erfassung von zumindest teilweise spiegelnden Oberflächen umfasst eine Detektionsflächenanordnung, eine Beleuchtungseinrichtung, die ausgebildet ist, um ein Beleuchtungsmuster in Richtung der zumindest teilweise spiegelnden Oberfläche auszusenden, um per Spiegelung über die zumindest teilweise spiegelnde Oberfläche ein erstes Spiegelungsmuster und ein zweites Spiegelungsmuster auf die Detektionsflächenanordnung zu projizieren. Die Vorrichtung umfasst eine Erfassungseinheit, die ausgebildet ist, um das erste Spiegelungsmuster und das zweite Spiegelungsmuster von der Detektionsflächenanordnung zu erfassen.
(EN)
A device for capturing at least partly reflective surfaces comprises a detection surface arrangement and an illumination device that is designed to transmit an illumination pattern towards the at least partly reflective surface, in order to project a first reflection pattern and a second reflection pattern onto the detection surface arrangement by reflection via the at least partly reflective surface. The device comprises a capture unit that is designed to capture the first reflection pattern and the second reflection pattern from the detection surface arrangement.
(FR)
Dispositif pour la détection d’une surface au moins partiellement réfléchissante comprenant un dispositif de surface de détection, un dispositif d'éclairage, qui est conçu pour émettre un motif d'éclairage dans la direction de la surface au moins partiellement réfléchissante, afin de projeter par réflexion sur la surface au moins partiellement réfléchissante un premier motif de réflexion et un deuxième motif de réflexion sur le dispositif de surface de détection. Le dispositif comprend une unité de détection, qui est conçue pour détecter le premier motif de réflexion et le deuxième motif de réflexion du dispositif de surface de détection.
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten