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1. WO2020114561 - MESSSYSTEM UND VERFAHREN ZUR VERMESSUNG EINES MESSOBJEKTES, INSBESONDERE EINES KUNSTSTOFF-PROFILS

Veröffentlichungsnummer WO/2020/114561
Veröffentlichungsdatum 11.06.2020
Internationales Aktenzeichen PCT/DE2019/101055
Internationales Anmeldedatum 06.12.2019
IPC
G01B 11/06 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
02zum Messen der Länge, Breite oder Dicke
06zum Messen der Dicke
G01N 21/3581 2014.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
31Untersuchen relativer Materialeffekte bei Wellenlängen, die für spezifische Elemente oder Moleküle charakteristisch sind, z.B. Atomabsorptionsspektrometrie
35mit infrarotem Licht
3581unter Verwendung von fernem Infrarotlicht; unter Verwendung von Terahertz-Strahlung
G01N 21/952 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84Systeme, besonders ausgebildet für spezielle Anwendungen
88Untersuchen der Anwesenheit von Fehlern oder Verunreinigungen
95gekennzeichnet durch das Material oder die Form des zu untersuchenden Gegenstandes
952Prüfen der äußeren Oberfläche von zylindrischen Körpern oder Drähten
G01N 21/954 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84Systeme, besonders ausgebildet für spezielle Anwendungen
88Untersuchen der Anwesenheit von Fehlern oder Verunreinigungen
95gekennzeichnet durch das Material oder die Form des zu untersuchenden Gegenstandes
954Prüfen der inneren Oberfläche von Hohlkörpern, z.B. Bohrungen
G01S 7/41 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
SFunkpeilung; Funknavigationssysteme; Bestimmen der Entfernung oder der Geschwindigkeit mittels Funkwellen; Orten oder Ermitteln der Anwesenheit mittels Reflexion oder Wiederausstrahlung von Funkwellen; vergleichbare Anordnungen mit anderen Wellen
7Einzelheiten der Systeme gemäß den Gruppen G01S13/ , G01S15/ und G01S17/146
02von Systemen gemäß der Gruppe G01S13/57
41Verwendung der Echosignalanalyse zur Zielbeschreibung; Zielbezeichnung; Zielrückstrahlfläche
G01S 13/90 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
SFunkpeilung; Funknavigationssysteme; Bestimmen der Entfernung oder der Geschwindigkeit mittels Funkwellen; Orten oder Ermitteln der Anwesenheit mittels Reflexion oder Wiederausstrahlung von Funkwellen; vergleichbare Anordnungen mit anderen Wellen
13Systeme, die die Reflexion oder Wiederausstrahlung von Funkwellen anwenden, z.B. Radarsysteme; vergleichbare Systeme, die die Reflexion oder Wiederausstrahlung von Wellen, deren Art oder Wellenlänge unerheblich oder unspezifiziert ist, anwenden
88Radar- oder vergleichbare Systeme, besonders ausgebildet für spezifische Anwendungen
89für Kartierung oder Bilderzeugung
90unter Verwendung von Techniken mit synthetischer Apertur
CPC
G01B 11/06
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
06for measuring thickness, e.g. of sheet material
G01B 2210/54
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
2210Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
54Revolving an optical measuring instrument around a body
G01N 21/3581
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
35using infra-red light
3581using far infra-red light; using Terahertz radiation
G01N 21/9515
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
9515Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
G01S 13/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
13Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
88Radar or analogous systems specially adapted for specific applications
G01S 13/90
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
13Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
88Radar or analogous systems specially adapted for specific applications
89for mapping or imaging
90using synthetic aperture techniques ; , e.g. synthetic aperture radar [SAR] techniques
Anmelder
  • INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK [DE]/[DE]
Erfinder
  • KLOSE, Ralph
Vertreter
  • ADVOPAT PATENT- UND RECHTSANWÄLTE
Prioritätsdaten
10 2018 131 370.507.12.2018DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) MESSSYSTEM UND VERFAHREN ZUR VERMESSUNG EINES MESSOBJEKTES, INSBESONDERE EINES KUNSTSTOFF-PROFILS
(EN) MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING A MEASUREMENT OBJECT, IN PARTICULAR A PLASTIC PROFILE
(FR) SYSTÈME DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE D'UN OBJET DE MESURE, EN PARTICULIER D'UN PROFILÉ EN MATIÈRE PLASTIQUE
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Messsystem (2) zur Vermessung eines Messobjektes, insbesondere eines Kunststoff profils (3), wobei das Messsystem (2) aufweist: - eine Antennenanordnung (4) aus mehreren THz- Transceivern (5), die jeweils zeitweise aktiv einen THz-Sendestrahl (6) aussenden und zeitweise passiv reflektierte THz-Strahlung (11) aufnehmen, - wobei die Antennenanordnung (4) Messsignale (S1) der Messungen der THz-T ransceiver (5) ausgibt, - eine Verstelleinrichtung (12) zum Verstellen der Antennenmatrix (4) in mehrere Messpositionen (MP1, MP2, MP3) entlang einer Verstellrichtung (m1, m2), z.B. einer Kreisbogenbahn um das Messobjekt (3), - eine Steuer- und Auswerteeinrichtung (14) zur Aufnahme und Auswertung der Messsignale (S1), die derartig eingerichtet ist, dass die Messsignale (S1) der mehreren THz-Transceiver (5) in den mehreren Messpositionen (MP1, MP2,...) durch ein SAR-Auswerteverfahren ausgewertet werden und ein virtuelles Modell (VM) der Grenzflächen (8) des Messobjekts (3) ausgebildet wird, und - nachfolgend die Steuer- und Auswerteeinrichtung (14) aus dem virtuellen Modell (VM) Schichtdicken (d, d4) zwischen den Grenzflächen (8) ermittelt.
(EN)
The invention relates to a measurement system (2) for measuring a measurement object, in particular a plastic profile (3), wherein the measurement system (2) has: - an antenna arrangement (4) comprising a plurality of THz transceivers (5) which each occasionally actively emit a THz transmission beam (6) and occasionally passively receive reflected THz radiation (11), - wherein the antenna arrangement (4) outputs measurement signals (S1) from the measurements of the THz transceivers (5), - an adjustment device (12) for adjusting the antenna matrix (4) in a plurality of measurement positions (MP1, MP2, MP3) along an adjustment direction (m1, m2), for example a circular arcuate path around the measurement object (3), - a control and evaluation device (14) for receiving and evaluating the measurement signals (S1) which is configured in such a manner that the measurement signals (S1) from the plurality of THz transceivers (5) in the plurality of measurement positions (MP1, MP2,...) are evaluated by means of an SAR evaluation method and a virtual model (VM) of the interfaces (8) of the measurement object (3) is formed, and - the control and evaluation device (14) then determines layer thicknesses (d, d4) between the interfaces (8) from the virtual model (VM).
(FR)
L'invention concerne un système de mesure (2) destiné à la mesure d'un objet de mesure, en particulier d'un profilé en matière plastique (3), ledit système de mesure (2) comprenant : un agencement d'antenne (4) d'une pluralité d'émetteurs-récepteurs THz (5), qui, respectivement, émettent temporairement activement un faisceau d'émission THz (6) et reçoivent temporairement passivement le rayonnement THz (11) réfléchi, l'agencement d'antenne (4) délivrant des signaux de mesure (S1) des mesures des émetteurs-récepteurs THz (5) ; un dispositif de réglage (12) pour régler la matrice d'antenne (4) à une pluralité de positions de mesure (MP1, MP2, MP3) le long d'une direction de réglage (m1, m2), p. ex. d'un trajet en arc de cercle autour de l'objet de mesure (3) ; un dispositif de commande et d'évaluation (14) pour enregistrer et évaluer les signaux de mesure (S1), qui est conçu de telle sorte que les signaux de mesure (S1) de la pluralité d'émetteurs-récepteurs THz (5), à la pluralité de positions de mesure (MP1, MP2, ...), sont évalués selon un procédé d'évaluation SAR et un modèle virtuel (VM) des surfaces limites (8) de l'objet de mesure (3) est formé ; et ensuite, le dispositif de commande et d'évaluation (14) détermine à partir du modèle virtuel (VM) des épaisseurs de couche (d, d4) entre les surfaces limites (8).
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