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1. (WO2020007781) DURCHLICHT-REFRAKTOMETER
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Veröff.-Nr.: WO/2020/007781 Internationale Veröffentlichungsnummer: PCT/EP2019/067567
Veröffentlichungsdatum: 09.01.2020 Internationales Anmeldedatum: 01.07.2019
IPC:
G01N 21/41 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17
Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
41
Brechungsvermögen; phasenbeeinflussende Eigenschaften, z.B. optische Weglänge
Anmelder:
ENDRESS+HAUSER PROCESS SOLUTIONS (DEUTSCHLAND) GMBH [DE/DE]; Heinrich-von-Stephan-Str. 8 79100 Freiburg, DE
Erfinder:
MEINERT, Tobias; DE
SCHERER, Benjamin; DE
Vertreter:
ANDRES, Angelika; DE
Prioritätsdaten:
10 2018 116 409.206.07.2018DE
Titel (DE) DURCHLICHT-REFRAKTOMETER
(EN) TRANSMITTED LIGHT REFRACTOMETER
(FR) RÉFRACTOMÈTRE À LUMIÈRE TRANSMISE
Zusammenfassung:
(DE) Die Erfindung betrifft ein Durchlicht-Refraktometer und ein Verfahren zur Bestimmung des Brechungsindex eines Prozessmediums (PM), mit einem Durchlicht-Refraktometer. Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass Messprisma (4) und ein Umlenkelement (5) derart ausgestaltet und entlang einer optischen Achse(z) angeordnet sind, dassein Strahlenbündel (SB) in einem ersten Durchgang ein erstes Mal das Prozessmedium (PM) und das Messprisma (4) durchquert,am Umlenkelement (5) umgelenkt wird,in einem zweiten Durchgang ein zweites Mal das Messprisma (4) und das Prozessmedium (PM) durchquert,in einer zueiner Eintrittsrichtung im Wesentlichen entgegengesetzten Richtung aus dem Prozessmedium (PM) austritt, undmittels des optischen Systems (2) auf die optische Detektoreinheit (6) fokussiert wird, wobei eine Regel-/Auswerteeinheit (7) den Brechungsindex anhand zumindest eines Fokuspunktes (FP1;FP2) bestimmt.
(EN) The invention relates to a transmitted light refractometer and to a method for determining the refractive index of a process medium (PM) using a transmitted light refractometer. The invention is characterized in that a measurement prism (4) and a deflecting element (5) are designed and arranged along an optical axis (z) such that a beam bundle (SB) passes through the process medium (PM) and the measurement prism (4) a first time in a first passage, is deflected on the deflecting element (5), passes through the measurement prism (4) and the process medium (PM) a second time in a second passage, exits the process medium (PM) in a direction substantially opposite the inlet direction, and is focused onto the optical detector unit (6) by means of the optical system (2), wherein a control/analysis unit (7) determines the refractive index using at least one focal point (FP1;FP2).
(FR) L’invention concerne un réfractomètre à lumière transmise et un procédé de détermination de l’indice de réfraction d’un milieu de processus (PM), au moyen d’un réfractomètre à lumière transmise. L’invention est caractérisée en ce que le prisme de mesure (4) et un élément de déviation (5) sont réalisés et agencés le long d’un axe optique (z) de telle sorte qu’un faisceau de rayons (SB) traverse une première fois dans un premier passage le milieu de processus (PM) et le prisme de mesure (4), est dévié au niveau de l’élément de déviation (5), traverse une deuxième fois dans un deuxième passage le prisme de mesure (4) et le milieu de processus (PM), sort du milieu de processus (PM) dans une direction sensiblement opposée à une direction d’entrée, et est concentré au moyen du système optique (2) sur l’unité de détecteur optique (6), une unité de réglage/d’évaluation (7) déterminant l’indice de réfraction à l’aide d’au moins un point focal (FP1 ; FP2).
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)