Einige Inhalte dieser Anwendung sind momentan nicht verfügbar.
Wenn diese Situation weiterhin besteht, kontaktieren Sie uns bitte unterFeedback&Kontakt
1. (WO2019067774) SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING VARIOUS PROPERTIES OF AN OBJECT
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

Veröff.-Nr.: WO/2019/067774 Internationale Anmeldenummer PCT/US2018/053203
Veröffentlichungsdatum: 04.04.2019 Internationales Anmeldedatum: 27.09.2018
IPC:
G01B 21/04 (2006.01) ,G01B 11/00 (2006.01) ,G01B 7/008 (2006.01) ,G01B 5/008 (2006.01) ,G01N 29/265 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
21
Messanordnungen oder Einzelheiten davon, soweit sie nicht für die in den anderen Gruppen dieser Unterklasse aufgeführten Messmittel besonders ausgebildet sind
02
zum Messen der Länge, der Breite oder der Dicke
04
zum Messen der Koordinaten von Punkten
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
(Deprecated)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
7
Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic means
02
for measuring length, width, or thickness
06
for measuring thickness
08
using capacitive means
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
5
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung mechanischer Messmittel
08
zum Messen von Durchmessern
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
29
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen mittels Ultraschall-, Schall- oder Infraschallwellen; Sichtbarmachen des Inneren von Gegenständen durch Übertragen von Ultraschall-, Schall- oder Infraschallwellen durch den Gegenstand
22
Einzelheiten
26
Anordnungen zur Orientierung oder Abtastung
265
durch Bewegung des Sensors relativ zu einem stationären Messobjekt
Anmelder:
HEXAGON METROLOGY, INC. [US/US]; 250 Circuit Drive North Kingstown, Rhode Island 02852, US
Erfinder:
DEMITER, David; US
Vertreter:
DELANEY, Karoline, A.; US
Prioritätsdaten:
62/564,44128.09.2017US
Titel (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING VARIOUS PROPERTIES OF AN OBJECT
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE MESURE DE DIVERSES PROPRIÉTÉS D'UN OBJET
Zusammenfassung:
(EN) Apparatus adapted to perform a method for measuring various properties of an object, the method comprising: - mounting a first measuring device to an end of an articulated arm coordinate measuring machine, - measuring three dimensional coordinates of a surface of an object using the first device, - mounting a second measuring device to the end of the articulated arm coordinate measuring machine, and - measuring a second property of the object using the second measuring device after the three dimensional coordinates have been measured.
(FR) L'invention concerne un appareil conçu pour effectuer un procédé de mesure de diverses propriétés d'un objet, le procédé consistant à : - monter un premier dispositif de mesure sur une extrémité d'une machine de mesure de coordonnées à bras articulé, - mesurer des coordonnées tridimensionnelles d'une surface d'un objet à l'aide du premier dispositif, - monter un deuxième dispositif de mesure sur l'extrémité de la machine de mesure de coordonnées à bras articulé, et - mesurer une deuxième propriété de l'objet à l'aide du deuxième dispositif de mesure après que les coordonnées tridimensionnelles ont été mesurées.
front page image
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Englisch (EN)
Anmeldesprache: Englisch (EN)