Einige Inhalte dieser Anwendung sind momentan nicht verfügbar.
Wenn diese Situation weiterhin besteht, kontaktieren Sie uns bitte unterFeedback&Kontakt
1. (WO2019064632) X-RAY IMAGING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD FOR X-RAY IMAGING ELEMENT
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

Veröff.-Nr.: WO/2019/064632 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2018/008420
Veröffentlichungsdatum: 04.04.2019 Internationales Anmeldedatum: 05.03.2018
IPC:
G01T 1/24 (2006.01) ,G01N 23/223 (2006.01) ,G01T 1/36 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
T
Messung von Kern- oder Röntgenstrahlung
1
Messen von Röntgenstrahlung, Gammastrahlung, Teilchenstrahlung oder kosmischer Strahlung
16
Messen der Strahlungsintensität
24
mit Halbleiterdetektoren
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
23
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Anwendung von Wellen- oder Teilchenstrahlung, soweit nicht von G01N21/ oder G01N22/177
22
durch Messen der Sekundäremission
223
mittels Bestrahlung der Probe mit Röntgenstrahlen und Messung der Röntgenstrahlfluoreszenz
G Physik
01
Messen; Prüfen
T
Messung von Kern- oder Röntgenstrahlung
1
Messen von Röntgenstrahlung, Gammastrahlung, Teilchenstrahlung oder kosmischer Strahlung
36
Messen der spektralen Verteilung von Röntgenstrahlen oder Kernstrahlung
Anmelder:
国立研究開発法人物質・材料研究機構 NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE [JP/JP]; 茨城県つくば市千現一丁目2番地1 2-1, Sengen 1-chome, Tsukuba-shi, Ibaraki 3050047, JP
Erfinder:
桜井 健次 SAKURAI, Kenji; JP
趙 文洋 ZHAO, Wenyang; JP
Vertreter:
相川 俊彦 AIKAWA, Toshihiko; JP
Prioritätsdaten:
2017-18736128.09.2017JP
Titel (EN) X-RAY IMAGING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD FOR X-RAY IMAGING ELEMENT
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RAYONS X ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'IMAGE POUR ÉLÉMENT D'IMAGERIE PAR RAYONS X
(JA) X線撮像装置およびX線撮像素子の画像処理方法
Zusammenfassung:
(EN) Provided is an X-ray imaging device in which a CCD imaging element, CMOS imaging element, or semiconductor pixel radiation detector designed for visible light wavelength use is suitable for use as an imaging element of a large-area X-ray spectrometer. The X-ray imaging element for receiving energy rays including X-ray photons from an object to be analyzed has unit light-receiving elements in a two-dimensional layout. The unit light-receiving elements have a two-dimensional region for causing charge sharing by receiving the X-ray photons. An X-ray image generation circuit, with which light reception signals from the X-ray imaging element are read for each of the unit light-receiving elements, compares the light reception signals read from each of the unit light-receiving elements with a first threshold value serving as a criterion for recognition as an effective photon event and a second threshold value serving as a criterion for recognition as noise, and uses the signals that clear the first and second threshold values as effective X-ray photon events to generate an X-ray image.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'imagerie par rayons X dans lequel un élément d'imagerie à dispositif de couplage de charge (CCD), un élément d'imagerie à semi-conducteur complémentaire à l'oxyde de métal (CMOS), ou un détecteur de rayonnement à pixels semi-conducteurs conçu pour une utilisation dans la longueur d'onde de la lumière visible est approprié pour être utilisé en tant qu'élément d'imagerie d'un spectromètre à rayons X de grande surface. L'élément d'imagerie par rayons X pour recevoir des rayons énergétiques comprenant des photons de rayons X provenant d'un objet à analyser comprend des éléments de réception de lumière unitaires dans une configuration bidimensionnelle. Les éléments de réception de lumière unitaires ont une région bidimensionnelle permettant un partage de charge par réception des photons de rayons X. Un circuit de génération d'image en rayons X, avec lequel des signaux de réception de lumière provenant de l'élément d'imagerie par rayons X sont lus pour chacun des éléments de réception de lumière unitaires, compare les signaux de réception de lumière lus provenant de chacun des éléments de réception de lumière unitaires avec une première valeur seuil servant de critère de reconnaissance comme un événement de photon effectif et une seconde valeur seuil servant de critère de reconnaissance comme un bruit, et utilise les signaux qui effacent les première et seconde valeurs seuil comme événements de photons de rayons X efficaces pour générer une image de rayons X.
(JA) 可視光波長用に設計されたCCD撮像素子、CMOS撮像素子または半導体ピクセル放射線検出器を大面積X線分光器の撮像素子として利用するのに適したX線撮像装置を提供する。分析対象物からのX線光子を含むエネルギー線を受光するX線撮像素子であって、当該X線撮像素子は二次元配置の単位受光素子を有すると共に、当該単位受光素子は当該X線光子の受光による電荷共有を生ずる二次元的領域を有する前記X線撮像素子と、このX線撮像素子からの受光信号を各単位受光素子毎に読み込むX線画像生成回路であって、前記各単位受光素子毎に読み込まれた受光信号と、有効な光子事象と認識する基準となる第1のしきい値及びノイズと認識する基準となる第2のしきい値とを比較して、第1及び第2のしきい値を通過したものを有効なX線光子事象として、X線画像を生成する。
front page image
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)