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1. (WO2019053196) MICROCHIP MIT EINER VIELZAHL VON REKONFIGURIERBAREN TESTSTRUKTUREN
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Veröff.-Nr.: WO/2019/053196 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/074898
Veröffentlichungsdatum: 21.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 14.09.2018
IPC:
G01R 31/3185 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
317
Prüfen von digitalen Schaltungen
3181
Funktionsprüfung
3185
Rekonfigurationsschaltungen für Prüfzwecke, z.B. LSSD, Partitionierung
Anmelder:
HOCHSCHULE HAMM-LIPPSTADT [DE/DE]; Marker Allee 76–78 59063 Hamm, DE
Erfinder:
KRENZ-BAATH, René; DE
Vertreter:
SCHMELCHER, Thilo; DE
Prioritätsdaten:
DE 10 2017 216 444.115.09.2017DE
Titel (DE) MICROCHIP MIT EINER VIELZAHL VON REKONFIGURIERBAREN TESTSTRUKTUREN
(EN) MICROCHIP HAVING A PLURALITY OF RECONFIGURABLE TEST STRUCTURES
(FR) MICROPUCE COMPORTANT UNE PLURALITÉ DE STRUCTURES D'ESSAI RECONFIGURABLES
Zusammenfassung:
(DE) Die Erfindung betrifft einen Microchip mit einer Vielzahl von rekonfigurierbaren Teststrukturen, wobei der Microchip über einen Testeingang (TD!) und einen Testausgang (TDO) verfügt, wobei die Vielzahl von Teststrukturen mit dem Testeingang (TDI) und dem Testausgang (TDO) verbindbar sind, wobei für jede der Vielzahl von Teststrukturen ein Zwischenspeicher vorgesehen ist, wobei jede der Vielzahl von Teststrukturen getrennt und nebenläufig unter Zuhilfenahme des jeweiligen Zwischenspeichers und einer entsprechenden individuellen Steuerung getestet werden kann.
(EN) The invention relates to a microchip having a plurality of reconfigurable test structures, wherein: the microchip has a test input (TDI) and a test output (TDO); the plurality of test structures may be connected to the test input (TDI) and the test output (TDO); a buffer memory is provided for each of the plurality of test structures; and each of the plurality of test structures can be tested separately and concurrently using the relevant buffer memory and a corresponding individual control system.
(FR) L'invention concerne une micropuce comprenant une pluralité de structures d'essai reconfigurables, cette micropuce comprenant une entrée d'essai (TDI) et une sortie d'essai (TDO), la pluralité de structures d'essai pouvant être reliées à l'entrée d'essai (TDI) et à la sortie d'essai (TDO), pour chacune de la pluralité de structures d'essai un stockage intermédiaire étant prévu, chacune de la pluralité de structures d'essai pouvant être testée de manière distincte et concomitante au moyen du stockage intermédiaire respectif et d'une unité de commande individuelle correspondante.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)