Einige Inhalte dieser Anwendung sind momentan nicht verfügbar.
Wenn diese Situation weiterhin besteht, kontaktieren Sie uns bitte unterFeedback&Kontakt
1. (WO2019053195) SAMMELEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM SAMMELN DISSEKTIERTER ODER ABLATIERTER PROBEN UND MIKROSKOP MIT EINER SOLCHEN EINRICHTUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

Veröff.-Nr.: WO/2019/053195 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/074896
Veröffentlichungsdatum: 21.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 14.09.2018
IPC:
B01L 3/00 (2006.01) ,G01N 1/04 (2006.01) ,G01N 1/28 (2006.01)
B Arbeitsverfahren; Transportieren
01
Physikalische oder chemische Verfahren oder Vorrichtungen allgemein
L
Chemische oder physikalische Laboratoriumsgeräte zum allgemeinen Gebrauch
3
Behälter oder Schalen für Laboratoriumszwecke, z.B. Laborgeräte aus Glas; Tropfgläser
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
1
Probenentnahme; Probenvorbereitung
02
Vorrichtungen zur Entnahme der Proben
04
im festen Zustand, z.B. durch Schneiden
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
1
Probenentnahme; Probenvorbereitung
28
Vorbereiten der Stoffproben für die Untersuchung
Anmelder:
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Str. 17-37 35578 Wetzlar, DE
Erfinder:
SIEMENSEN, Christian; DE
Vertreter:
KUDLEK & GRUNERT PATENTANWÄLTE; 33 04 29 Postfach 33 04 29 80064 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 121 326.014.09.2017DE
Titel (EN) COLLECTION DEVICE AND METHOD FOR COLLECTING DISSECTED OR ABLATED SPECIMENS AND MICROSCOPE HAVING SUCH A DEVICE
(FR) ÉQUIPEMENT COLLECTEUR ET PROCÉDÉ DESTINÉ À COLLECTER DES ÉCHANTILLONS DISSÉQUÉS OU ABLATIS ET MICROSCOPE POURVU D’UN TEL ÉQUIPEMENT
(DE) SAMMELEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM SAMMELN DISSEKTIERTER ODER ABLATIERTER PROBEN UND MIKROSKOP MIT EINER SOLCHEN EINRICHTUNG
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a collection device (50) for collecting specimens that were dissected or ablated from an object (3), comprising a collection container (56) for collecting the dissected or ablated specimens, and an electrode pair (57, 58), which is arranged on the side of the base of the collection container (56) facing away from the object (3), and comprising a voltage supply (53) for applying a voltage to the electrodes of the electrode pair (57, 58), wherein provision is made of a concentrically arranged electrode pair (57, 58) and wherein the voltage applied to the electrode pair (57, 58) produces a divergent electric field, at least in the region of the collection container (56), and a laser microscope system and a corresponding method for collecting dissected or ablated specimens.
(FR) L’invention concerne un équipement collecteur (50) destiné à collecter des échantillons disséqués ou ablatis d’un objet (3) pourvu d’un récipient de capture (56) destiné à capturer les échantillons disséqués ou ablatis, et d’une paire d’électrodes (57, 58) qui est agencée sur les côtés détournés de l’objet (3) du fond du récipient de capture (56), et d’une alimentation en tension (53) destinée à appliquer une tension aux électrodes de la paire d’électrodes (57, 58), une paire d’électrodes (57, 58) agencée concentriquement étant installée et la tension appliquée à la paire d’électrodes (57, 58) produisant au moins au voisinage du récipient de capture (56) un champ électrique divergent, ainsi qu’un système de microscope laser et un procédé correspondant destiné à collecter des échantillons disséqués ou ablatis.
(DE) Die Erfindung betrifft eine Sammeleinrichtung (50) zum Sammeln von aus einem Objekt (3) dissektierten oder ablatierten Proben mit einem Auffangbehältnis (56) zum Auffangen der dissektierten oder ablatierten Proben, und einem Elektrodenpaar (57, 58), das auf der dem Objekt (3) abgewandten Seite des Bodens des Auffangbehältnisses (56) angeordnet ist, und mit einer Spannungsversorgung (53) zum Anlegen einer Spannung an die Elektroden des Elektrodenpaars (57, 58), wobei ein konzentrisch angeordnetes Elektrodenpaar (57, 58) vorgesehen ist und wobei die an das Elektrodenpaar (57, 58) angelegte Spannung zumindest im Bereich des Auffangbehältnisses (56) ein divergentes elektrisches Feld erzeugt, sowie ein Laser-Mikroskopsystem und ein entsprechendes Verfahren zum Sammeln dissektierter oder ablatierter Proben.
front page image
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)