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1. (WO2019049391) DEVICE MALFUNCTION CAUSE INFERENCE SYSTEM
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Veröff.-Nr.: WO/2019/049391 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2018/006539
Veröffentlichungsdatum: 14.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 22.02.2018
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
G Physik
05
Steuern; Regeln
B
Steuer- oder Regelsysteme allgemein; funktionelle Elemente solcher Systeme; Überwachungs- oder Prüfanordnungen für solche Systeme oder Elemente
23
Prüfen oder Überwachen von Steuer- oder Regelsystemen oder ihrer Teile
02
Elektrisches Prüfen oder Überwachen
Anmelder:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Erfinder:
浅井 大輔 ASAI Daisuke; JP
Vertreter:
ポレール特許業務法人 POLAIRE I.P.C.; 東京都中央区日本橋茅場町二丁目13番11号 13-11, Nihonbashikayabacho 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030025, JP
Prioritätsdaten:
2017-17086106.09.2017JP
Titel (EN) DEVICE MALFUNCTION CAUSE INFERENCE SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'INFÉRENCE DE CAUSE DE DYSFONCTIONNEMENT DE DISPOSITIF
(JA) 機器の異常原因推定システム
Zusammenfassung:
(EN) For devices that may be involved in interaction with a person, it is desired that an assessment of a malfunction be carried out while taking into consideration what influence the person had when the malfunction with the device occurred. An objective of the present invention is to provide an inference system for sensing an anomalous operation of a person in a wider range and carrying out a malfunction assessment of a device while taking into consideration the influence of the anomalous operation. This malfunction cause inference system for inferring the cause of a malfunction occurring with a device comprises: an anomalous operation sensing unit for sensing an anomalous operation on the basis of an output from an operation sensor for sensing an operation performed by a person; a device malfunction sensing unit for sensing a malfunction with the device on the basis of an output from a sensor attached to the device for sensing the situation of the device; and a person-caused malfunction assessment unit for assessing whether the anomalous operation has an influence on the device malfunction on the basis of the output of the anomalous operation sensing unit and the output of the device malfunction sensing unit.
(FR) Dans la présente invention, si des dispositifs peuvent être impliqués dans une interaction avec une personne, il est souhaitable qu'une évaluation d'un dysfonctionnement soit effectuée tout en prenant en considération l'influence de la personne lorsque le dysfonctionnement avec le dispositif s'est produit. Un objectif de la présente invention est de fournir un système d'inférence permettant de détecter une opération anormale d'une personne dans une plage plus large et d'effectuer une évaluation de dysfonctionnement d'un dispositif tout en prenant en considération l'influence de l'opération anormale. Ce système d'inférence de cause de dysfonctionnement permettant d'inférer la cause d'un dysfonctionnement se produisant avec un dispositif comprend : une unité de détection d'opération anormale servant à détecter une opération anormale à partir d'une sortie d'un capteur d'opération de manière à détecter une opération effectuée par une personne ; une unité de détection de dysfonctionnement de dispositif servant à détecter un dysfonctionnement avec le dispositif à partir d'une sortie d'un capteur fixé au dispositif de manière à détecter la situation du dispositif ; et une unité d'évaluation de dysfonctionnement provoqué par une personne servant à évaluer si l'opération anormale a une influence ou non sur le dysfonctionnement du dispositif à partir de la sortie de l'unité de détection d'opération anormale et de la sortie de l'unité de détection de dysfonctionnement de dispositif.
(JA) 人とのインタラクションが発生する機器では、機器の異常時に人がどのように影響を及ぼしたかを考慮して、異常の判定を行うことが望ましい。本発明は、より広範囲で人の異常動作を検知し、その影響を考慮して機器の異常判定を行う推定システムを提供することを目的とする。そこで、機器に発生した異常の原因を推定する異常原因推定システムであって、人の動作を検知する動作検知センサの出力に基づき、異常動作を検知する異常動作検知部と、前記機器の状況を検知する機器付帯センサの出力に基づき、機器異常を検知する機器異常検知部と、前記異常動作検知部の出力と、前記機器異常検知部の出力に基づき、機器異常への異常動作の影響の有無を判定する人起因異常判定部と、を備える異常原因推定システムとした。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)