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1. (WO2019048727) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
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Veröff.-Nr.: WO/2019/048727 Internationale Anmeldenummer PCT/FI2017/050628
Veröffentlichungsdatum: 14.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 06.09.2017
IPC:
G01N 27/07 (2006.01) ,G01N 27/22 (2006.01) ,G01N 33/28 (2006.01) ,G01R 27/26 (2006.01) ,G01R 27/22 (2006.01) ,G01N 33/02 (2006.01) ,G01N 33/34 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
27
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Anwendung elektrischer, elektrochemischer oder magnetischer Mittel
02
durch Ermittlung der Impedanz
04
durch Untersuchen des Widerstandes
06
einer Flüssigkeit
07
Aufbau von Messzellen; Elektroden dazu
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
27
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Anwendung elektrischer, elektrochemischer oder magnetischer Mittel
02
durch Ermittlung der Impedanz
22
durch Untersuchen der Kapazität
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
33
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch spezifische Methoden, soweit sie nicht von den Gruppen G01N1/-G01N31/153
26
Öle; viskose Flüssigkeiten; Anstrichmaterialien; Tinten
28
Öle
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
27
Anordnungen zum Messen des Widerstandes, des Blindwiderstandes, des Scheinwiderstandes oder davon abgeleiteter elektrischer Kenngrößen
02
Messen des reellen oder des komplexen Widerstandes, des Blindwiderstandes, des Scheinwiderstandes oder anderer davon abgeleiteter Zweipolkenngrößen, z.B. Zeitkonstante
26
Messen von Induktivität oder Kapazität; Messen der Güte, z.B. mit Hilfe des Resonanzverfahrens; Messen des Verlustfaktors; Messen der Dielektrizitätskonstante
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
27
Anordnungen zum Messen des Widerstandes, des Blindwiderstandes, des Scheinwiderstandes oder davon abgeleiteter elektrischer Kenngrößen
02
Messen des reellen oder des komplexen Widerstandes, des Blindwiderstandes, des Scheinwiderstandes oder anderer davon abgeleiteter Zweipolkenngrößen, z.B. Zeitkonstante
22
Messen des Widerstandes von fließfähigen Stoffen
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
33
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch spezifische Methoden, soweit sie nicht von den Gruppen G01N1/-G01N31/153
02
Lebensmittel
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
33
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch spezifische Methoden, soweit sie nicht von den Gruppen G01N1/-G01N31/153
34
Papier
Anmelder:
ROCSOLE LTD [FI/FI]; Kauppakatu 20 70100 Kuopio, FI
Erfinder:
LAAKKONEN, Pasi; FI
LEHIKOINEN, Anssi; FI
MONONEN, Mika; FI
VOUTILAINEN, Arto; FI
Vertreter:
PAPULA OY; P.O. Box 981 00101 Helsinki, FI
Prioritätsdaten:
Titel (EN) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
(FR) TOMOGRAPHIE ÉLECTRIQUE DE PROFILAGE VERTICAL
Zusammenfassung:
(EN) An apparatus (600) for determining, by electrical tomography, vertical profile of an electrical property of interest of material(s) in a target volume (618) comprises a measurement probe (610) to be positioned at a plurality of different measurement levels (650) in a target volume and comprising a plurality of measurement elements (111) each having an interface surface (112). Each interface surface has a size, shape, and rotational position. A measurement path (114) is formed between two interface surfaces as dependent on the sizes, shapes, and rotational positions of the two interface surfaces, and the distance between the two interface surfaces. The locations, rotational positions, shapes, and sizes of the interface surfaces are selected to provide at least two different measurement paths differing from each other in one or more of said sizes of, shapes of, rotational positions of, and distances between the associated interface surfaces.
(FR) L'invention concerne un appareil (600) permettant de déterminer, par tomographie électrique, un profil vertical d'une propriété électrique d'intérêt d'un ou plusieurs matériaux dans un volume cible (618) comprenant une sonde de mesure (610) à positionner à une pluralité de niveaux de mesure différents (650) dans un volume cible et comprenant une pluralité d'éléments de mesure (111) possédant chacun une surface d'interface (112). Chaque surface d'interface présente une dimension, une forme et une position de rotation. Un trajet de mesure (114) est formé entre deux surfaces d'interface en fonction des dimensions, des formes et des positions de rotation des deux surfaces d'interface et de la distance entre les deux surfaces d'interface. Les emplacements, les positions de rotation, les formes et les dimensions des surfaces d'interface sont sélectionnés afin de fournir au moins deux trajets de mesure différents différant l'un de l'autre par rapport auxdites tailles, formes, positions de rotation et/ou distances entre les surfaces d'interface associées.
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Veröffentlichungssprache: Englisch (EN)
Anmeldesprache: Englisch (EN)