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1. (WO2019048504) MIKROSKOP MIT KOLLISIONSSCHUTZ
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Veröff.-Nr.: WO/2019/048504 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/073910
Veröffentlichungsdatum: 14.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 05.09.2018
IPC:
G02B 21/02 (2006.01) ,G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/26 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
02
Objektive
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
24
Grundlegender Aufbau
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
24
Grundlegender Aufbau
26
Objekttische; Einstellvorrichtungen dafür
Anmelder:
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Str. 17-37 35578 Wetzlar, DE
Erfinder:
HITZLER, Sebastian; DE
Vertreter:
GRUNERT, Marcus; KUDLEK & GRUNERT PATENTANWÄLTE Postfach 33 04 29 80064 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 120 651.507.09.2017DE
Titel (EN) MICROSCOPE HAVING COLLISION PROTECTION
(FR) MICROSCOPE DOTÉ D’UNE PROTECTION ANTI-COLLISION
(DE) MIKROSKOP MIT KOLLISIONSSCHUTZ
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a microscope, comprising a stand (20), on which a microscope stage (40) for supporting a preparation (41) and an objective (30) are arranged, and comprising a positioning system (21) for setting a distance between the microscope stage (40) and the objective (30) and/or for setting an X-Y-position of the microscope stage, the microscope (10) having a force or pressure sensor (32, 42), which is arranged and designed in such a way that a transmission of force from the microscope stage (40) to the objective (30) or vice versa is detected.
(FR) L’invention concerne un microscope comprenant : un pied (20) sur lequel sont montés une table de microscope (40) destiné à porter une préparation (41), et un objectif (30); un système de positionnement (21) servant à régler la distance entre la table de microscope (40) et l’objectif (30) et/ou à régler la position X-Y de la table de microscope (40), le microscope (10) présentant un capteur de force ou de pression (32, 42) qui est disposé et conçu de telle sorte qu'une transmission de force de la table de microscope (40) à l'objectif (30) ou inversement est détectée.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit einem Stativ (20), an dem ein Mikroskoptisch (40) zum Tragen eines Präparats (41) und ein Objektiv (30) angeordnet sind, und mit einem Positioniersystem (21) zur Einstellung eines Abstandes zwischen dem Mikroskoptisch (40) und dem Objektiv (30) und/oder zur Einstellung einer X-Y-Position des Mikroskoptisches, wobei das Mikroskop (10) einen Kraft- oder Drucksensor (32, 42) aufweist, der derart angeordnet und eingerichtet ist, dass eine Kraftübertragung von dem Mikroskoptisch (40) auf das Objektiv (30) oder umgekehrt erkannt wird.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)