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1. (WO2019045027) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
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Veröff.-Nr.: WO/2019/045027 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2018/032282
Veröffentlichungsdatum: 07.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 31.08.2018
IPC:
G01N 27/82 (2006.01) ,G01R 33/02 (2006.01) ,G01R 33/10 (2006.01) ,H01M 10/42 (2006.01) ,H01M 10/48 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
27
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Anwendung elektrischer, elektrochemischer oder magnetischer Mittel
72
durch Untersuchen magnetischer Veränderlicher
82
zum Nachweis von Fehlern
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
33
Anordnungen oder Instrumente zum Messen magnetischer Größen
02
Messen der Richtung oder des Betrages von magnetischen Feldern oder des magnetischen Kraftflusses
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
33
Anordnungen oder Instrumente zum Messen magnetischer Größen
02
Messen der Richtung oder des Betrages von magnetischen Feldern oder des magnetischen Kraftflusses
10
Darstellen der Feldverteilung
H Elektrotechnik
01
Grundlegende elektrische Bauteile
M
Verfahren oder Mittel, z.B. Batterien, für die direkte Umwandlung von chemischer in elektrische Energie
10
Sekundärelemente; Herstellung derselben
42
Methoden oder Anordnungen für die Wartung oder Instandhaltung von Sekundärzellen oder Sekundärhalbzellen
H Elektrotechnik
01
Grundlegende elektrische Bauteile
M
Verfahren oder Mittel, z.B. Batterien, für die direkte Umwandlung von chemischer in elektrische Energie
10
Sekundärelemente; Herstellung derselben
42
Methoden oder Anordnungen für die Wartung oder Instandhaltung von Sekundärzellen oder Sekundärhalbzellen
48
Akkumulatoren, die mit Anordnungen zum Messen, Prüfen oder Anzeigen des Zustandes vereinigt sind, z.B. Pegelstand oder Dichte des Elektrolyten
Anmelder:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Erfinder:
関根 孝二郎 SEKINE, Koujirou; JP
今田 昌宏 IMADA, Masahiro; JP
八木 司 YAGI, Tsukasa; JP
土田 匡章 TSUCHIDA, Masaaki; JP
波多野 卓史 HATANO, Takuji; JP
Vertreter:
特許業務法人光陽国際特許事務所 KOYO INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都千代田区有楽町一丁目1番3号 東京宝塚ビル17階 17F., Tokyo Takarazuka Bldg., 1-1-3, Yurakucho, Chiyoda-ku, Tokyo 1000006, JP
Prioritätsdaten:
2017-16816801.09.2017JP
Titel (EN) NONDESTRUCTIVE TEST METHOD AND NONDESTRUCTIVE TEST INSTRUMENT
(FR) PROCÉDÉ DE TEST NON DESTRUCTIF ET INSTRUMENT DE TEST NON DESTRUCTIF
(JA) 非破壊検査方法及び非破壊検査装置
Zusammenfassung:
(EN) According to the present invention, when the site of an abnormality in a sample is detected by measuring a magnetic field distribution generated by the flow of a current through the sample, even when there is movement of the same sample between one measurement of the sample and another measurement performed after time has passed, the positions of the magnetic field distribution respectively obtained through the two measurements are adjusted. In this nondestructive test method: magnetic marks 15a, 15b, 15c are formed on one sample 1; one measurement, and another measurement performed after time has passed, are subsequently performed on the one sample; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the one measurement is measured; a magnetic field distribution for the one sample that includes a magnetic field generated by the magnetic marks in the other measurement is measured; and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the one measurement and the coordinates of the magnetic field distribution for the one sample acquired in the other measurement are caused to conform to magnetic field detection coordinates of the magnetic marks.
(FR) Selon la présente invention, lorsque le site d'une anomalie dans un échantillon est détecté par mesure d'une distribution de champ magnétique générée par la circulation d'un courant à travers l'échantillon, même lorsqu'il y a un mouvement de cet échantillon entre une mesure de l'échantillon et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, les positions de la distribution de champ magnétique obtenues respectivement par les deux mesures sont ajustées. L'invention concerne un procédé de test non destructif dans lequel des marques magnétiques 15a, 15b, 15c sont formées sur un échantillon 1 ; une mesure, et une autre mesure effectuée après écoulement d'un laps de temps, sont ensuite effectuées sur l'échantillon ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans la première mesure est mesurée ; une distribution de champ magnétique pour l'échantillon qui comprend un champ magnétique généré par les marques magnétiques dans l'autre mesure est mesurée ; et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans la première mesure et les coordonnées de la distribution de champ magnétique pour l'échantillon acquises dans l'autre mesure sont amenées à se conformer aux coordonnées de détection de champ magnétique des marques magnétiques.
(JA) 試料に電流を流して発生する磁場分布を測定して試料の異常箇所を検出するにあたり、同一試料についての一の測定と時間経過した後の他の測定との間に同試料の移動があっても、両測定によりそれぞれ得られた磁場分布の位置を整合させる。一の試料1に磁性マーク15a,15b,15cを形成した後、前記一の試料について一の測定と時間経過した後の他の測定とを行い、前記一の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記他の測定において前記磁性マークから発生する磁場を含む前記一の試料の磁場分布を測定し、前記一の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標と、前記他の測定により取得した前記一の試料の磁場分布の座標とを、前記磁性マークの磁場検出座標を一致させることにより対応させる。
front page image
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)