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1. (WO2019044917) DEVICE FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, METHOD FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, DEVICE FOR PRODUCING TITANIUM TETRACHLORIDE, AND METHOD FOR PRODUCING SPONGE TITANIUM
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Veröff.-Nr.: WO/2019/044917 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2018/031991
Veröffentlichungsdatum: 07.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 29.08.2018
IPC:
G01N 21/33 (2006.01) ,C01G 23/02 (2006.01) ,C22B 34/12 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17
Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25
Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
31
Untersuchen relativer Materialeffekte bei Wellenlängen, die für spezifische Elemente oder Moleküle charakteristisch sind, z.B. Atomabsorptionsspektrometrie
33
mit ultraviolettem Licht
C Chemie; Hüttenwesen
01
Anorganische Chemie
G
Verbindungen der von den Unterklassen C01D oder C01F105
23
Verbindungen des Titans
02
Halogenide
C Chemie; Hüttenwesen
22
Metallhüttenwesen; Eisen- oder Nichteisenlegierungen; Behandlung von Legierungen oder von Nichteisenmetallen
B
Gewinnen oder Feinen von Metallen; Vorbehandlung von Rohstoffen
34
Gewinnung hochtemperaturbeständiger Metalle
10
Gewinnung von Titan, Zirkonium oder Hafnium
12
Gewinnung von Titan
Anmelder:
東邦チタニウム株式会社 TOHO TITANIUM CO.,LTD. [JP/JP]; 神奈川県茅ヶ崎市茅ヶ崎三丁目3番5号 3-5,Chigasaki 3-chome,Chigasaki-shi, Kanagawa 2538510, JP
Erfinder:
山本 仁 YAMAMOTO,Masashi; JP
Vertreter:
アクシス国際特許業務法人 AXIS PATENT INTERNATIONAL; 東京都港区新橋二丁目6番2号 新橋アイマークビル Shimbashi i-mark Bldg., 6-2 Shimbashi 2-Chome, Minato-ku, Tokyo 1050004, JP
Prioritätsdaten:
2017-16877201.09.2017JP
Titel (EN) DEVICE FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, METHOD FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, DEVICE FOR PRODUCING TITANIUM TETRACHLORIDE, AND METHOD FOR PRODUCING SPONGE TITANIUM
(FR) DISPOSITIF D’ANALYSE DE CONCENTRATION DE CHLORE, PROCÉDÉ D’ANALYSE DE CONCENTRATION DE CHLORE, DISPOSITIF DE PRODUCTION DE TÉTRACHLORURE DE TITANE ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION D’ÉPONGE DE TITANE
(JA) 塩素濃度分析装置、塩素濃度分析方法、四塩化チタンの製造装置及びスポンジチタンの製造方法
Zusammenfassung:
(EN) Provided is a device for analyzing chlorine concentration, comprising: a measurement cell 10 for housing chlorine-containing gas; a light-emitting unit 20 provided with a LED light source 21 for irradiating the chlorine-containing gas flowing through the measurement cell 10 with UV rays; a light-receiving unit 30 for receiving the UV rays transmitted through the measurement cell 10; and a calculation unit 50 for calculating the chlorine concentration in the chlorine-containing gas on the basis of an output signal from the light-receiving unit 30.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d’analyse de concentration de chlore, comprenant : une cellule de mesure 10 pour contenir un gaz contenant du chlore ; une unité d’émission de lumière 20 pourvue d’une source de lumière à LED 21 pour irradier le gaz contenant du chlore s’écoulant à travers la cellule de mesure 10 avec des rayons UV ; une unité de réception de lumière 30 pour recevoir les rayons UV transmis à travers la cellule de mesure 10 ; et une unité de calcul 50 pour calculer la concentration de chlore dans le gaz contenant du chlore sur la base d’un signal de sortie provenant de l’unité de réception de lumière 30.
(JA) 塩素含有ガスを収容する測定セル10と、測定セル10内を流れる塩素含有ガスに対し、紫外線を照射するLED光源21を備える発光部20と、測定セル10を透過した紫外線を受光する受光部30と、受光部30からの出力信号に基づいて塩素含有ガス中の塩素濃度を演算する演算部50とを備える塩素濃度分析装置である。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)