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1. (WO2019042662) SEMICONDUCTOR PHOTOMULTIPLIER WITH IMPROVED OPERATING VOLTAGE RANGE
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Veröff.-Nr.: WO/2019/042662 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/070088
Veröffentlichungsdatum: 07.03.2019 Internationales Anmeldedatum: 25.07.2018
IPC:
G01T 1/24 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
T
Messung von Kern- oder Röntgenstrahlung
1
Messen von Röntgenstrahlung, Gammastrahlung, Teilchenstrahlung oder kosmischer Strahlung
16
Messen der Strahlungsintensität
24
mit Halbleiterdetektoren
Anmelder:
SENSL TECHNOLOGIES LTD [IE/IE]; Building 6800, Avenue 6000 Cork Airport Business Park Cork, T12 CDF7, IE
Erfinder:
DALY, Paul Malachy; IE
JACKSON, John Carlton; IE
Vertreter:
MANITZ FINSTERWALD PATENT- UND RECHTSANWALTSPARTNERSCHAFT MBB; Postfach 31 02 20 80102 München, DE
Prioritätsdaten:
15/689,13529.08.2017US
Titel (EN) SEMICONDUCTOR PHOTOMULTIPLIER WITH IMPROVED OPERATING VOLTAGE RANGE
(FR) PHOTOMULTIPLICATEUR À SEMI-CONDUCTEURS À PLAGE DE TENSION DE FONCTIONNEMENT AMÉLIORÉE
Zusammenfassung:
(EN) The present disclosure relates to a semiconductor photomultiplier (100) comprising an array of interconnected microcells; wherein the array comprises at least a first type of microcell (125) having a first junction region of a first geometric shape; and a second type of microcell (225) having a second junction region of a second geometric shape.
(FR) La présente invention concerne un photomultiplicateur à semi-conducteurs (100) comprenant un réseau de microcellules interconnectées; le réseau comprenant au moins un premier type de microcellules (125) présentant une première région de jonction d'une première forme géométrique; et un second type de microcellules (225) présentant une seconde région de jonction d'une seconde forme géométrique.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Englisch (EN)
Anmeldesprache: Englisch (EN)