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1. (WO2019038398) OPTISCHE ANORDNUNG ZUM SCANNEN VON ANREGUNGSSTRAHLUNG UND/ODER MANIPULATIONSSTRAHLUNG IN EINEM LASER-SCANNING-MIKROSKOP UND LASER-SCANNING-MIKROSKOP
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Veröff.-Nr.: WO/2019/038398 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/072805
Veröffentlichungsdatum: 28.02.2019 Internationales Anmeldedatum: 23.08.2018
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/32 (2006.01) ,G02B 27/28 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
24
Grundlegender Aufbau
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
32
Mikromanipulatoren als Zusatzgerät mit dem Mikroskop vereinigt
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
28
für die Lichtpolarisation
Anmelder:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Erfinder:
ANHUT, Tiemo; DE
WALD, Matthias; DE
SCHWEDT, Daniel; DE
KAUFHOLD, Tobias; DE
Vertreter:
SCHIFFER, Axel; DE
Prioritätsdaten:
10 2017 119 478.925.08.2017DE
Titel (EN) OPTICAL ASSEMBLY FOR SCANNING EXCITATION RADIATION AND/OR MANIPULATION RADIATION IN A LASER SCANNING MICROSCOPE, AND LASER SCANNING MICROSCOPE
(FR) SYSTÈME OPTIQUE POUR BALAYER UN RAYONNEMENT D'EXCITATION ET/OU UN RAYONNEMENT DE MANIPULATION DANS UN MICROSCOPE À BALAYAGE LASER ET MICROSCOPE À BALAYAGE LASER
(DE) OPTISCHE ANORDNUNG ZUM SCANNEN VON ANREGUNGSSTRAHLUNG UND/ODER MANIPULATIONSSTRAHLUNG IN EINEM LASER-SCANNING-MIKROSKOP UND LASER-SCANNING-MIKROSKOP
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to an optical assembly for scanning excitation radiation and/or manipulation radiation in a laser scanning microscope, having the following components: an optical scanning unit for providing a first pupil plane, a first beam deflecting device, which is made of a first scanner arranged on the first pupil plane, for scanning the excitation radiation and/or manipulation radiation in a first coordinate direction, a first focusing device for generating a second pupil plane, which is optically conjugated to the first pupil plane, and a second beam deflecting device for deflecting the excitation radiation and/or manipulation radiation, said second deflecting device being arranged on the second pupil plane. The optical assembly according to the invention is characterized in that a second focusing device is provided in order to generate a third pupil plane, which is optically conjugated to the first pupil plane and the second pupil plane, a third beam deflecting device is arranged on the third pupil plane for deflecting the excitation radiation and/or manipulation radiation, and a variable beam deflecting means is provided between the first focusing device and the second pupil plane and the second pupil plane and the second focusing device in order to switch an optical beam path between a first beam path and a second beam path. Another aspect of the invention relates to a laser scanning microscope.
(FR) L'invention concerne un système optique servant à balayer un rayonnement d'excitation et/ou un rayonnement de manipulation dans un microscope à balayage laser et comprenant les éléments suivants : une optique de balayage pour fournir un premier plan pupillaire, un premier dispositif de déviation de faisceau qui est formé par un premier scanner disposé dans le premier plan pupillaire pour balayer le rayonnement d'excitation et/ou le rayonnement de manipulation dans une première direction de coordonnées, un premier dispositif de focalisation pour générer un deuxième plan pupillaire qui est conjugué optiquement au premier plan pupillaire, ainsi qu’un deuxième dispositif de déviation de faisceau servant à dévier le rayonnement d'excitation et/ou le rayonnement de manipulation qui est disposé dans le deuxième plan pupillaire. Le système optique selon l'invention est perfectionné en ce qu'il présente un deuxième dispositif de focalisation destiné à générer un troisième plan pupillaire qui est conjugué optiquement au premier plan pupillaire et au deuxième plan pupillaire, en ce qu’un troisième dispositif de déviation de faisceau est disposé dans le troisième plan pupillaire pour dévier le rayonnement d'excitation et/ou le rayonnement de manipulation, en ce qu'un moyen de déviation de faisceau variable est placé entre le premier dispositif de focalisation et le deuxième plan pupillaire d'une part et entre le deuxième plan pupillaire et le deuxième dispositif de focalisation d'autre part pour faire passer un chemin optique entre un premier trajet de faisceau et un deuxième trajet de faisceau. Selon un autre aspect, l'invention concerne un microscope à balayage laser.
(DE) Die Erfindung betrifft eine optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und weist folgende Komponenten auf: eine Scanoptik zum Bereitstellen einer ersten Pupillenebene, eine erste Strahlumlenkeinrichtung, die durch einen in der ersten Pupillenebene angeordneten ersten Scanner gebildet ist, zum Scannen der Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einer ersten Koordinatenrichtung, eine erste fokussierende Einrichtung zum Erzeugen einer zweiten Pupillenebene, die zu der ersten Pupillenebene optisch konjugiert ist, und eine zweite Strahlumlenkeinrichtung zum Umlenken der Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung, die in der zweiten Pupillenebene angeordnet ist. Die erfindungsgemäße optische Anordnung ist dadurch weitergebildet, dass eine zweite fokussierende Einrichtung vorhanden ist zum Erzeugen einer dritten Pupillenebene, die zu der ersten Pupillenebene und der zweiten Pupillenebene optisch konjugiert ist, dass in der dritten Pupillenebene eine dritte Strahlumlenkeinrichtung angeordnet ist zum Umlenken der Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung, dass zwischen der ersten fokussierenden Einrichtung und der zweiten Pupillenebene einerseits und der zweiten Pupillenebene und der zweiten fokussierenden Einrichtung andererseits ein variables Strahlumlenkmittel vorhanden ist zum Umschalten eines optischen Strahlengangs zwischen einem ersten Strahlweg und einem zweiten Strahlweg. In einem weiteren Gesichtspunkt bezieht sich die Erfindung auf ein Laser-Scanning-Mikroskop.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)