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1. (WO2019034751) MIKROSKOPIEANORDNUNG MIT MIKROSKOPSYSTEM UND HALTEVORRICHTUNG SOWIE VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE MIT EINEM MIKROSKOP
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Veröff.-Nr.: WO/2019/034751 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/072270
Veröffentlichungsdatum: 21.02.2019 Internationales Anmeldedatum: 16.08.2018
IPC:
G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/26 (2006.01) ,G02B 21/06 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
24
Grundlegender Aufbau
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
24
Grundlegender Aufbau
26
Objekttische; Einstellvorrichtungen dafür
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
06
Einrichtungen zum Beleuchten von Objekten
Anmelder:
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Str. 17-37 35578 Wetzlar, DE
Erfinder:
KNEBEL, Werner; DE
LEIMBACH, Volker; DE
SEIFERT, Roland; DE
Vertreter:
KUDLEK & GRUNERT PATENTANWÄLTE; 33 04 29 Postfach 33 04 29 80064 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 118 850.918.08.2017DE
Titel (EN) MICROSCOPY ARRANGEMENT WITH MICROSCOPE SYSTEM AND HOLDING APPARATUS, AND METHOD FOR EXAMINING A SPECIMEN WITH A MICROSCOPE
(FR) ENSEMBLE FORMANT MICROSCOPE COMPRENANT UN SYSTÈME DE MICROSCOPE ET UN DISPOSITIF DE MAINTIEN AINSI QUE PROCÉDÉ POUR EXAMINER UN ÉCHANTILLON AU MOYEN D'UN MICROSCOPE
(DE) MIKROSKOPIEANORDNUNG MIT MIKROSKOPSYSTEM UND HALTEVORRICHTUNG SOWIE VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE MIT EINEM MIKROSKOP
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a microscopy arrangement (10) comprising a microscopy system and a holding apparatus (12), wherein the microscopy system comprises a microscope (14), an illumination device (16) with at least two lasers (16a, 16b) and input coupling elements (40, 42, 50, 52) for input coupling each of the laser beams (116a, 116b) produced by the at least two lasers (16a, 16b) into the microscope (14), wherein the holding apparatus (12) comprises an instrument platform (22), on which the at least two lasers (16a, 16b) of the illumination device (16) are arranged, a holding element (24) which is rigidly connected to, firstly, the instrument platform (22) and, secondly, the microscope (14), and at least one support element (20) configured to support the instrument platform (22) on a main platform (18) and at a distance from the latter, wherein the at least one support element (20) has an adjustable height in order to arrange the instrument platform (22) at a an adjustable vertical distance from the main platform (18), and/or the microscope system has a height-adjustable microscope stage (34) in order to arrange an object plane (36) that is defined by the microscope stage (34) at an adjustable vertical distance from the main platform (18) such that the vertical extent of the object region (26) is adjustable in the case of an unchanging spatial and/or temporal relationship between the laser beams (116a, 116b).
(FR) L'invention concerne un ensemble formant microscope (10) comprenant un système de microscope et un dispositif de maintien (12). Le système de microscope comprend un microscope(14), un système d'éclairage (16) pourvu d'au moins deux lasers (16a, 16b), et d'éléments d'injection (40, 42, 50, 52) servant à injecter chaque rayon laser (116a, 116b) généré par les deux lasers (16a, 16b) ou plus dans le microscope (14). Le dispositif de maintien (12) comprend une plate-forme à instruments (22), sur laquelle les deux lasers (16a, 16b) ou plus du système d'éclairage (16) sont disposés, un élément de maintien (24), qui est relié de manière rigide d'une part à la plate-forme à instruments (22) et d'autre part au microscope (14), et au moins un élément d'appui (20), qui est configuré pour soutenir la plate-forme à instruments (22) sur une plate-forme de base (18) et à distance par rapport à celle-ci. L'élément ou les éléments d'appui (20) présentent une hauteur variable afin de disposer la plate-forme à instruments (22) selon une distance verticale variable par rapport à la plate-forme de base (18) et/ou le système de microscope comporte un plateau de microscope (34) à hauteur variable afin de disposer un plan d'objet (36) défini par le plateau de microscope (34) à une distance verticale variable par rapport à la plate-forme de base (18) de sorte que l'extension verticale de la zone d'objet (26) est variable dans le cas d'un rapport spatial et/ou temporel inchangé entre les rayons laser (116a, 116b).
(DE) Die Erfindung betrifft eine Mikroskopieanordnung (10) mit einem Mikroskopsystem und einer Haltevorrichtung (12), wobei das Mikroskopsystem umfasst ein Mikroskop (14), eine Beleuchtungseinrichtung (16) mit zumindest zwei Lasern (16a, 16b) und Einkoppelelementen (40, 42, 50, 52) zur Einkopplung eines jeden der von den zumindest zwei Lasern (16a, 16b) erzeugten Laserstrahlen (116a, 116b) in das Mikroskop (14), wobei die Haltevorrichtung (12) umfasst eine Instrumentenplattform (22), auf der die zumindest zwei Laser (16a, 16b) der Beleuchtungseinrichtung (16) angeordnet sind, ein Halteelement (24), welches starr einerseits mit der Instrumentenplattform (22), andererseits mit dem Mikroskop (14) verbunden ist, und zumindest ein Stützelement (20), welches dazu ausgelegt ist, die Instrumentenplattform (22) auf einer Basisplattform (18) und beabstandet zu dieser abzustützen, wobei das zumindest eine Stützelement (20) eine veränderliche Höhe aufweist, um die Instrumentenplattform (22) in einem veränderlichen vertikalen Abstand zur Basisplattform (18) anzuordnen, und/oder das Mikroskopsystem einen höhenveränderlichen Mikroskoptisch (34) aufweist, um eine durch den Mikroskoptisch (34) definierte Objektebene (36) in einem veränderlichen vertikalen Abstand zur Basisplattform (18) anzuordnen, sodass die vertikale Erstreckung des Objektbereichs (26) bei unveränderter räumlicher und/oder zeitlicher Beziehung zwischen den Laserstrahlen (116a, 116b) veränderbar ist.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)