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1. (WO2019034749) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ZUSTANDSERFASSUNG AN PASSIVIERUNGSSCHICHTEN EINER VERKAPSELUNG
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Veröff.-Nr.: WO/2019/034749 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/072265
Veröffentlichungsdatum: 21.02.2019 Internationales Anmeldedatum: 16.08.2018
IPC:
A61B 5/00 (2006.01) ,A61B 5/05 (2006.01)
A Täglicher Lebensbedarf
61
Medizin oder Tiermedizin; Hygiene
B
Diagnostik; Chirurgie; Identifizierung
5
Messen zu diagnostischen Zwecken; Identifizieren von Personen
A Täglicher Lebensbedarf
61
Medizin oder Tiermedizin; Hygiene
B
Diagnostik; Chirurgie; Identifizierung
5
Messen zu diagnostischen Zwecken; Identifizieren von Personen
05
Messen zu diagnostischen Zwecken mittels elektrischer Ströme oder magnetischer Felder
Anmelder:
AESCULAP AG [DE/DE]; Am Aesculap-Platz 78532 Tuttlingen, DE
EBERHARD KARLS UNIVERSITÄT TÜBINGEN [DE/DE]; Geschwister-Scholl-Platz 72074 Tübingen, DE
Erfinder:
HOFMANN, Boris; DE
WESTERHAUSEN, Markus; DE
Vertreter:
WINTER BRANDL FÜRNISS HÜBNER RÖSS KAISER POLTE - PARTNERSCHAFT MBB; Alois-Steinecker-Str. 22 85354 Freising, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 118 686.716.08.2017DE
Titel (EN) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE STATUS OF PASSIVATION LAYERS OF AN ENCAPSULATION
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTERMINATION D'UN ÉTAT AU NIVEAU DE COUCHES DE PASSIVATION D'UNE ENCAPSULATION
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ZUSTANDSERFASSUNG AN PASSIVIERUNGSSCHICHTEN EINER VERKAPSELUNG
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a method for determining a status of an encapsulation and/or a passivation layer (10, 30, 50) of the encapsulation. The encapsulation forms a multi-layer system from multiple passivation layers (10, 30, 50) arranged on top of one another and electrically contacted intermediate layers (20, 40) arranged between the passivation layers (10, 30, 50) The multi-layer system protects an implant (60, 70) surrounded by the encapsulation. In the method, an electrical measurement is carried out between a reference potential and at least one electrically contacted intermediate layer (20, 40), and at least one current flowing between the reference potential and the at least one electrically contacted intermediate layer (20, 40) is detected. The at least one detected current is compared with at least one pre-determined threshold value. If the at least one detected current falls below or exceeds the at least one threshold value, this indicates a functional state of a passivation layer (10, 30, 50) adjacent to the at least one electrically contacted intermediate layer (20, 40).
(FR) L'invention concerne un procédé pour la détermination d'un état d'une encapsulation et/ou d'une couche de passivation (10, 30, 50) de l'encapsulation. L'encapsulation forme un système multicouche constitué par plusieurs couches de passivation (10, 30, 50) superposées et par des couches intermédiaires (20, 40) en contact électrique, situées entre les couches de passivation (10, 30, 50). Le système multicouche protège un implant (60, 70) entouré par l'encapsulation. Lors du procédé, une mesure électrique entre un potentiel de référence et au moins une couche intermédiaire (20, 40) en contact électrique est réalisée et un courant s'écoulant entre le potentiel de référence et ladite au moins une couche intermédiaire (20, 40) en contact électrique est déterminé. Ledit au moins un courant déterminé est comparé à au moins une valeur seuil prédéfinie. Un passage sous ou au-dessus de ladite au moins une valeur seuil indique un état fonctionnel d'une couche de passivation (10, 30, 50) adjacente à ladite au moins une couche intermédiaire (20, 40) en contact électrique.
(DE) Es wird ein Verfahren zur Erfassung eines Zustands einer Verkapseiung und/oder einer Passivierungsschicht (10, 30, 50) der Verkapseiung beschrieben. Die Verkapseiung bildet ein Mehrschichtsystem aus mehreren übereinander liegenden Passivierungsschichten (10, 30, 50) und zwischen den Passivierungsschichten (10, 30, 50) liegenden, elektrisch ankontaktierten Zwischenschichten (20, 40). Das Mehrschichtsystem schützt ein von der Verkapseiung umgebenes Implantat (60, 70). In dem Verfahren wird eine elektrische Messung zwischen einem Referenzpotenzial und zumindest einer elektrisch ankontaktierten Zwischenschicht (20, 40) durchgeführt, und wird zumindest ein zwischen dem Referenzpotenzial und der zumindest einen elektrisch ankontaktierten Zwischenschicht (20, 40) fließender Strom erfasst. Der zumindest eine erfasste Strom wird mit zumindest einem vorbestimmten Schwellenwert verglichen. Ein Unterschreiten oder ein Überschreiten des zumindest einen Schwellenwerts zeigt einen funktionellen Zustand einer zu der zumindest einen elektrisch ankontaktierten Zwischenschicht (20, 40) benachbarten Passivierungsschicht (10, 30, 50) an.
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Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)