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1. (WO2019034534) SYSTEM ZUM SOLARBETRIEBENEN SINTERN VON MATERIALPROBEN
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Veröff.-Nr.: WO/2019/034534 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/071652
Veröffentlichungsdatum: 21.02.2019 Internationales Anmeldedatum: 09.08.2018
IPC:
F24S 23/00 (2018.01) ,F24S 20/30 (2018.01)
[IPC code unknown for F24S 23][IPC code unknown for F24S 20/30]
Anmelder:
DEUTSCHES ZENTRUM FÜR LUFT- UND RAUMFAHRT E. V. [DE/DE]; Linder Höhe 51147 Köln, DE
Erfinder:
DIBOWSKI, Hans-Gerd; DE
Vertreter:
DOMPATENT VON KREISLER SELTING WERNER - PARTNERSCHAFT VON PATENTANWÄLTEN UND RECHTSANWÄLTEN MBB; Deichmannhaus am Dom Bahnhofsvorplatz 1 50667 Köln, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 214 227.815.08.2017DE
Titel (EN) SYSTEM FOR THE SOLAR-OPERATED SINTERING OF MATERIAL SAMPLES
(FR) SYSTÈME DE FRITTAGE SOLAIRE D'ÉCHANTILLONS DE MATÉRIAU
(DE) SYSTEM ZUM SOLARBETRIEBENEN SINTERN VON MATERIALPROBEN
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a system (1) for the solar-operated sintering of material samples (11), comprising a radiation concentration device (3) for providing solar radiation concentrated at a focal point (5) and comprising a solar radiation receiver (1) having a chamber (15). The chamber (15) has a radiation opening (21) for the entry of concentrated solar radiation, chamber walls (19) that reflect solar radiation, and a holder (17) for holding a material sample (11). In the beam path of the concentrated solar radiation, an optical beam shaper (13) is arranged between the focal point (5) and the radiation opening (21). The beam shaper (13) has a beam passage (23) for conducting the concentrated solar radiation, having a beam entry opening (25) and a beam exit opening (27). The beam passage (23) has an inner wall (23a) that reflects solar radiation.
(FR) La présente invention concerne un système (1) de frittage solaire d'échantillons de matériau (11), comportant un dispositif (3) de concentration du rayonnement permettant de fournir un rayonnement solaire concentré sur un point focal (5), et un récepteur (1) de rayonnement solaire muni d'une chambre (15). La chambre (15) présente une ouverture de rayonnement (21) permettant l'entrée d'un rayonnement solaire concentré, des parois de chambre (19) réfléchissant le rayonnement solaire, et un dispositif de retenue (17) recevant un échantillon de matériau (11). Un dispositif optique de mise en forme de faisceau (13) est agencé sur le chemin optique du rayonnement solaire concentré entre le point focal (5) et l'ouverture de rayonnement (21). Le dispositif de mise en forme de faisceau (13) présente un passage de rayons (23) traversé par le rayonnement solaire concentré et présentant une ouverture d'entrée des rayons (25) et une ouverture de sortie des rayons (27). Le passage de rayons (23) présente une paroi intérieure (23a) réfléchissant un rayonnement solaire.
(DE) Die vorliegende Erfindung betrifft ein System (1) zum solarbetriebenen Sintern von Materialproben (11) mit einer Strahlungskonzentrationsvorrichtung (3) zur Bereitstellung von auf einem Fokuspunkt (5) konzentrierter Solarstrahlung und mit einem Solarstrahlungsempfänger (1) mit einer Kammer (15). Die Kammer (15) weist eine Strahlungsöffnung (21) zum Eintritt von konzentrierter Solarstrahlung, Solarstrahlung reflektierende Kammerwandungen (19) und eine Halterung (17) zur Aufnahme einer Materialprobe (11) auf. Im Strahlengang der konzentrierten Solarstrahlung ist zwischen dem Fokuspunkt (5) und der Strahlungsöffnung (21) ein optischer Strahlformer (13) angeordnet. Der Strahlformer (13) weist einen Strahlendurchgang (23) zur Durchleitung der konzentrierten Solarstrahlung mit einer Strahleneintrittsöffnung (25) und einer Strahlenaustrittsöffnung (27) auf. Der Strahlendurchgang (23) weist eine Solarstrahlung reflektierenden Innenwandung (23a) auf.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)