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1. (WO2019029765) LAGETOLERANZUNEMPFINDLICHES KONTAKTIERUNGSMODUL ZUR KONTAKTIERUNG OPTOELEKTRONISCHER CHIPS
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Veröff.-Nr.: WO/2019/029765 Internationale Anmeldenummer PCT/DE2018/100642
Veröffentlichungsdatum: 14.02.2019 Internationales Anmeldedatum: 13.07.2018
IPC:
G01R 31/28 (2006.01) ,G01R 31/311 (2006.01) ,G02B 6/43 (2006.01) ,H04B 10/80 (2013.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
302
kontaktloses Prüfen
308
unter Verwendung von nicht-ionisierender elektromagnetischer Strahlung, z.B. optischer Strahlung
311
von integrierten Schaltungen
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
6
Lichtleiter; Strukturelle Einzelheiten von Anordnungen, die Lichtleiter und andere optische Elemente umfassen, z.B. Verbindungen
24
Verbinden von Lichtleitern
42
Verbinden von Lichtleitern mit opto-elektronischen Bauelementen
43
Anordnungen mit einer Vielzahl von opto-elektronischen Elementen und zugehörigen optischen Verbindungen
H Elektrotechnik
04
Elektrische Nachrichtentechnik
B
Übertragung
10
Übertragungssysteme, die elektromagnetische Wellen außer Radiowellen verwenden, z.B. Infrarot-, sichtbares oder ultraviolettes Licht, oder die Korpuskularstrahlung verwenden, z. B. Quantenkommunikation
80
Optische Aspekte betreffend die Verwendung optischer Übertragung für bestimmte Anwendungen, die von den Gruppen H04B10/03-H04B10/70163
Anmelder:
JENOPTIK OPTICAL SYSTEMS GMBH [DE/DE]; Göschwitzer Strasse 25 07745 Jena, DE
Erfinder:
GNAUSCH, Tobias; DE
BÜTTNER, Robert; DE
KADEN, Thomas; DE
JUHASZ, Thomas; DE
GRUNDMANN, Armin; DE
VON FREYHOLD, Thilo; DE
Vertreter:
SCHALLER, Renate; DE
FREITAG, Joachim; DE
OEHMKE, Volker; DE
Prioritätsdaten:
10 2017 008 618.411.09.2017DE
10 2017 010 066.724.10.2017DE
10 2017 117 839.207.08.2017DE
10 2018 002 032.108.03.2018DE
Titel (EN) POSITION-TOLERANCE-INSENSITIVE CONTACTING MODULE FOR CONTACTING OPTOELECTRONIC CHIPS
(FR) MODULE DE CONTACT INSENSIBLE À LA TOLÉRANCE DE POSITION DESTINÉ AU CONTACT DE PUCES OPTOÉLECTRONIQUES
(DE) LAGETOLERANZUNEMPFINDLICHES KONTAKTIERUNGSMODUL ZUR KONTAKTIERUNG OPTOELEKTRONISCHER CHIPS
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a contacting module (1) by means of which the individual electrical and optical inputs and outputs (AoC) of optoelectronic chips (2) are connected to the device-specific electrical and optical inputs and outputs of a test apparatus. Said contacting module is characterised by a comparatively high alignment insensitivity of the optical contacts between the chips (2) and the contacting module (1), which is achieved e.g. by technical measures which have the effect that the optical inputs (ΕoK) of the chip (2) or at the contacting module (1) in every possible alignment position are swamped by the respective optical signal (So) to be coupled in.
(FR) L'invention concerne un module de contact (1) au moyen duquel les entrées et sorties (AoC) électriques et optiques individuelles de puces optoélectroniques (2) sont connectées aux entrées et sorties électriques et optiques spécifiques à l'appareil d'un appareil d'essai. Il se caractérise par une insensibilité comparativement élevée d'ajustement des contacts optiques entre les puces (2) et le module de contact (1) qui peut être atteinte par ex. par des mesures techniques qui conduisent à ce que les entrées (ΕoK) de la puce (2) ou au niveau du module de contact (1) sont irradiées dans chaque position d'ajustement possible par le signal optique (So) qui doit être respectivement couplé à elles.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Kontaktierungsmodul (1), mittels dem die individuellen elektrischen und optischen Ein- und Ausgänge (AoC) von optoelektronischen Chips (2) mit den gerätespezifischen elektrischen und optischen Ein- und Ausgängen einer Testapparatur verbunden werden. Es zeichnet sich durch eine vergleichsweise hohe Justierinsensibilität der optischen Kontakte zwischen den Chips (2) und dem Kontaktierungsmodul (1) aus, die z. B. durch technische Maßnahmen erreicht wird, die dazu führen, dass die optischen Eingänge (ΕoK) des Chips (2) oder am Kontaktierungsmodul (1) in jeder möglichen Justierlage von dem jeweils einzukoppelnden optischen Signal (So) überstrahlt werden.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)