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1. (WO2019026406) DEVICE, SPECIMEN STATE DETERMINATION METHOD, AND ANALYSIS SYSTEM
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Veröff.-Nr.: WO/2019/026406 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2018/020952
Veröffentlichungsdatum: 07.02.2019 Internationales Anmeldedatum: 31.05.2018
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen: 30.11.2018
IPC:
G01N 35/10 (2006.01) ,C12M 1/34 (2006.01) ,G01N 21/17 (2006.01) ,G01N 35/00 (2006.01) ,G06T 7/00 (2017.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
35
Automatisches Analysieren, das nicht auf Verfahren oder Stoffe einer einzelnen der Gruppen G01N1/-G01N33/142; Handhaben der Stoffe dafür
10
Vorrichtungen zur Übertragung von Proben zu, in oder aus Analysegeräten, z.B. Saugeinrichtungen, Injektionseinrichtungen
C Chemie; Hüttenwesen
12
Biochemie; Bier; Spirituosen; Wein; Essig; Mikrobiologie; Enzymologie; Mutation oder genetische Techniken
M
Vorrichtungen für Enzymologie oder Mikrobiologie
1
Vorrichtungen für Enzymologie oder Mikrobiologie
34
Messen oder Untersuchen mit Einrichtungen zum Messen oder Wahrnehmen der Verfahrensbedingungen, z.B. Koloniezähler
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17
Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
35
Automatisches Analysieren, das nicht auf Verfahren oder Stoffe einer einzelnen der Gruppen G01N1/-G01N33/142; Handhaben der Stoffe dafür
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
T
Bilddatenverarbeitung oder Bilddatenerzeugung allgemein
7
Bildanalyse, z.B. um von einem bitweise organisierten Bild zu einem nicht bitweise organisierten Bild zu gelangen
Anmelder:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Erfinder:
柿下 容弓 KAKISHITA, Yasuki; JP
服部 英春 HATTORI, Hideharu; JP
坂詰 卓 SAKAZUME, Taku; JP
鈴木 洋一郎 SUZUKI, Yohichiroh; JP
Vertreter:
特許業務法人藤央特許事務所 TOU-OU PATENT FIRM; 東京都港区虎ノ門一丁目16番4号アーバン虎ノ門ビル Urban Toranomon Bldg., 16-4, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001, JP
Prioritätsdaten:
2017-14762931.07.2017JP
Titel (EN) DEVICE, SPECIMEN STATE DETERMINATION METHOD, AND ANALYSIS SYSTEM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'ÉTAT D'ÉCHANTILLON ET SYSTÈME D'ANALYSE
(JA) 装置、試料の状態の判別方法、及び分析システム
Zusammenfassung:
(EN) Provided is a device determining a state of a specimen to be analyzed that is contained in a container, wherein the device acquires an image of the specimen, analyzes the position and size of a detection target object with respect to a detection range set in the image by using the image of the specimen, and determines the state of the specimen on the basis of the analyzed result.
(FR) La présente invention concerne un dispositif déterminant un état d'un échantillon à analyser qui est contenu dans un récipient, le dispositif acquérant une image de l'échantillon, analysant la position et la taille d'un objet cible de détection par rapport à une plage de détection définie dans l'image au moyen de l'image de l'échantillon, et déterminant l'état de l'échantillon sur la base du résultat analysé.
(JA) 容器に収められた分析対象の試料の状態を判別する装置であって、装置は、試料の画像を取得し、試料の画像を用いて、画像に設定される検出範囲に対する検出対象物の位置及び大きさを解析し、解析の結果に基づいて試料の状態を判別する。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)