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1. (WO2019024159) OPTICAL INSPECTION APPARATUS AND OPTICAL INSPECTION METHOD
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Veröff.-Nr.: WO/2019/024159 Internationale Anmeldenummer PCT/CN2017/099858
Veröffentlichungsdatum: 07.02.2019 Internationales Anmeldedatum: 31.08.2017
IPC:
G01D 21/00 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
D
Anzeigen oder Aufzeichnen in Verbindung mit Messen allgemein; Einrichtungen oder Instrumente zum Messen von zwei oder mehr Veränderlichen, soweit nicht von einer anderen Unterklasse umfasst; Tarifmessgeräte; Übertragungs- oder Umwandlungseinrichtungen, die nicht an eine spezielle Veränderliche angepasst sind; Messen oder Prüfen, soweit nicht anderweitig vorgesehen
21
Messen oder Prüfen, soweit nicht anderweitig vorgesehen
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84
Systeme, speziell ausgebildet für besondere Anwendungen
88
Untersuchen der Anwesenheit von Fehlern oder Verunreinigungen
Anmelder:
惠科股份有限公司 HKC CORPORATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园厂房1、2、3栋,九州阳光1号厂房5、7楼 5th and 7th Floor of Factory Building 1, Jiuzhou Yangguang, Factory Buildings 1, 2, 3 of HKC Industrial Park, Privately Operated Industrial Park, Shuitian Village, Shiyan Sub-district, Baoan District Shenzhen, Guangdong 518108, CN
重庆惠科金渝光电科技有限公司 CHONGQING HKC OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO.,LTD. [CN/CN]; 中国重庆市 巴南区界石镇石景路1号 No.1 Shijing Rd., Jieshi, Banan District Chongqing 401300, CN
Erfinder:
李坤原 LEE, Kunyuan; CN
Vertreter:
北京国昊天诚知识产权代理有限公司 CO-HORIZON INTELLECTUAL PROPERTY INC.; 中国北京市 朝阳区小关北里甲2号渔阳置业大厦B座605 Suite 605,B Block,Yuyang Zhiye Building, No.A2, Xiaoguanbeili, Chaoyang District Beijing 100029, CN
Prioritätsdaten:
201710654053.902.08.2017CN
Titel (EN) OPTICAL INSPECTION APPARATUS AND OPTICAL INSPECTION METHOD
(FR) APPAREIL D'INSPECTION OPTIQUE ET PROCÉDÉ D'INSPECTION OPTIQUE
(ZH) 光学检查设备及光学检查方法
Zusammenfassung:
(EN) An optical inspection apparatus and an optical inspection method, the optical inspection apparatus (100) comprising: a first detection device (10), comprising a first display device (11) and a first control device (13), the first control device (13) being connected to the first display device (11), and the first control device (13) being used to control the state of the first display device (11); a second detection device (20), comprising a second display device (21) and a second control device (23), the second control device (23) being connected to the second display device (21), and the second control device (23) being used to control the state of the second display device (21), wherein the first display device (11) is arranged opposite to the second display device (21); and a sensing device (30), used for sensing the movement of a target position and sending signals to the first control device (13) and the second control device (23), the sensing device (30) being arranged between the first detection device (10) and the second detection device (20). With the described optical inspection apparatus (100), personnel configuration may be reduced, and a large amount of motion may be avoided. Furthermore, the automatic switching of light sources may be achieved, and detection interference is reduced.
(FR) L'invention concerne un appareil d'inspection optique et un procédé d'inspection optique, l'appareil d'inspection optique (100) comprenant : un premier dispositif de détection (10), comprenant un premier dispositif d'affichage (11) et un premier dispositif de commande (13), le premier dispositif de commande (13) étant connecté au premier dispositif d'affichage (11), et le premier dispositif de commande (13) étant utilisé pour commander l'état du premier dispositif d'affichage (11) ; un second dispositif de détection (20), comprenant un second dispositif d'affichage (21) et un second dispositif de commande (23), le second dispositif de commande (23) étant connecté au second dispositif d'affichage (21), et le second dispositif de commande (23) étant utilisé pour commander l'état du second dispositif d'affichage (21), le premier dispositif d'affichage (11) étant situé à l'opposé du second dispositif d'affichage (21) ; et un dispositif de détection (30), utilisé pour détecter le mouvement d'une position cible et envoyer des signaux au premier dispositif de commande (13) et au second dispositif de commande (23), le dispositif de détection (30) étant situé entre le premier dispositif de détection (10) et le second dispositif de détection (20). Avec l'appareil d'inspection optique (100) de l'invention, l'organisation du personnel peut être réduite, et une grande quantité de mouvement peut être évitée. En outre, la commutation automatique de sources lumineuse peut être obtenue, et l'interférence de détection est réduite.
(ZH) 一种光学检查设备及光学检查方法,该光学检查设备(100)包括;第一检测装置(10),包括第一显示装置(11)和第一控制装置(13),第一控制装置(13)与第一显示装置(11)连接,第一控制装置(13)用于控制第一显示装置(11)的状态;第二检测装置(20),包括第二显示装置(21)和第二控制装置(23),第二控制装置(23)与第二显示装置(21)连接,第二控制装置(23)用于控制第二显示装置(21)的状态;其中,第一显示装置(11)与第二显示装置(12)相对设置;以及感应装置(30),用于感应目标位置移动并将信号发送至第一控制装置(13)与第二控制装置(23),感应装置(30)设置于第一检测装置(10)和第二检测装置(20)之间。该光学检查设备(100)可以减少人员配置,避免了大量移动消耗,并且可自动切换光源,减少了检测干扰。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Chinesisch (ZH)
Anmeldesprache: Chinesisch (ZH)