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1. (WO2019008964) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
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Veröff.-Nr.: WO/2019/008964 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2018/021192
Veröffentlichungsdatum: 10.01.2019 Internationales Anmeldedatum: 01.06.2018
IPC:
G01J 3/45 (2006.01) ,G01N 21/35 (2014.01) ,G01B 9/02 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
J
Messen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
3
Spektrometrie; Spektrofotometrie; Monochromatoren; Farbmessung
28
Untersuchen des Spektrums
45
Interferenz-Spektrometrie
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17
Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25
Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
31
Untersuchen relativer Materialeffekte bei Wellenlängen, die für spezifische Elemente oder Moleküle charakteristisch sind, z.B. Atomabsorptionsspektrometrie
35
mit infrarotem Licht
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
9
Instrumente wie in den Untergruppen aufgeführt und gekennzeichnet durch die Verwendung von optischen Messmitteln
02
Interferometer
Anmelder:
国立研究開発法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関1丁目3番1号 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921, JP
Erfinder:
古川 祐光 FURUKAWA, Hiromitsu; JP
Vertreter:
稲葉 良幸 INABA, Yoshiyuki; JP
大貫 敏史 ONUKI, Toshifumi; JP
Prioritätsdaten:
2017-13041003.07.2017JP
Titel (EN) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
(FR) INTERFÉROMÈTRE, DISPOSITIF SPECTROSCOPIQUE À TRANSFORMÉE DE FOURIER ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE COMPOSANT
(JA) 干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置
Zusammenfassung:
(EN) Provided are an interferometer, a Fourier transform spectroscopic device and a component analyzing device which are highly resistant to vibration, are inexpensive and compact, and have a high resolution. An interferometer 10 is provided with: a first polarizing element 13 which allows certain polarized light among incident light to pass; a birefringent crystal 14 which is arranged downstream of the first polarizing element 13 and is arranged rotatably about an axis of rotation in the incident direction of light emitted from the first polarizing element 13; a second polarizing element 15 which is arranged downstream of the birefringent crystal 14 and which allows certain polarized light among the light emitted from the birefringent crystal 14 to pass; and a light receiving element 17 which is arranged downstream of the second polarizing element 15 and which converts the light emitted from the second polarizing element 15 into an electrical signal; wherein the first polarizing element 13, the birefringent crystal 14, the second polarizing element 15 and the light receiving element 17 are arranged in a straight line.
(FR) L'invention concerne un interféromètre, un dispositif spectroscopique à transformée de Fourier et un dispositif d'analyse de composant qui sont hautement résistants aux vibrations, qui sont peu coûteux et compacts, et qui ont une résolution élevée. Un interféromètre (10) est pourvu : d'un premier élément de polarisation (13), qui permet à une certaine lumière polarisée au sein d'une lumière incidente de passer ; un cristal biréfringent (14), qui est disposé en aval du premier élément de polarisation (13) et qui est agencé de façon à pouvoir tourner autour d'un axe de rotation dans le sens d'incidence de la lumière émise par le premier élément de polarisation (13) ; un second élément polarisant (15), qui est disposé en aval du cristal biréfringent (14) et qui permet à une certaine lumière polarisée au sein de la lumière émise par le cristal biréfringent (14) de passer ; et un élément de réception de lumière (17), qui est disposé en aval du second élément de polarisation (15) et qui convertit la lumière émise par le second élément de polarisation (15) en un signal électrique ; le premier élément de polarisation (13), le cristal biréfringent (14), le second élément de polarisation (15) et l'élément de réception de lumière (17) étant disposés en ligne droite.
(JA) 耐振性が高く、安価で小型であり、分解能が高い干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置を提供する。干渉計10は、入射された光のうち所定の偏光を通過させる第1偏光素子13と、第1偏光素子13の後段に配置され、第1偏光素子13から出射された光の入射方向を回転軸として回転可能に配置された複屈折結晶14と、複屈折結晶14の後段に配置され、複屈折結晶14から出射された光のうち所定の偏光を通過させる第2偏光素子15と、第2偏光素子15の後段に配置され、第2偏光素子15から出射された光を電気信号に変換する受光素子17と、を備え、第1偏光素子13、複屈折結晶14、第2偏光素子15及び受光素子17は、直線的に配置される。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)