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1. (WO2019007468) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN OBERFLÄCHENVERMESSUNG EINES MESSOBJEKTES
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Veröff.-Nr.: WO/2019/007468 Internationale Anmeldenummer PCT/DE2018/200050
Veröffentlichungsdatum: 10.01.2019 Internationales Anmeldedatum: 18.05.2018
IPC:
G01B 11/25 (2006.01) ,H04N 13/00 (2018.01) ,G03B 21/00 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24
zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
25
durch Projizieren eines Musters, z.B. Moiré-Streifen, auf den Gegenstand
H Elektrotechnik
04
Elektrische Nachrichtentechnik
N
Bildübertragung, z.B. Fernsehen
13
Stereoskopische Fernsehsysteme; Einzelheiten davon
G Physik
03
Fotografie; Kinematografie; vergleichbare Techniken unter Verwendung von nicht optischen Wellen; Elektrografie; Holografie
B
Geräte oder Anordnungen zum Aufnehmen, Projizieren oder Betrachten von Fotografien; Geräte oder Anordnungen, die sich vergleichbarer Techniken unter Verwendung von nicht optischen Wellen bedienen; Zubehör dafür
21
Projektoren oder projektionsartige Sucher; Zubehör dafür
Anmelder:
MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO. KG [DE/DE]; Königbacher Straße 15 94496 Ortenburg, DE
Erfinder:
LOFERER, Hannes; DE
KICKINGEREDER, Reiner; DE
REITBERGER, Josef; DE
HESSE, Rainer; DE
WAGNER, Robert; DE
Vertreter:
ULLRICH & NAUMANN; Schneidmühlstraße 21 69115 Heidelberg, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 211 377.404.07.2017DE
Titel (EN) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY MEASURING THE SURFACE OF A MEASUREMENT OBJECT
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE SURFACE OPTIQUE D'UN OBJET À MESURER
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN OBERFLÄCHENVERMESSUNG EINES MESSOBJEKTES
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a method for optically measuring the surface of a measurement object (2). An image pattern is displayed using an image generating device (1), and the image pattern is captured by means of reflection, scattering, diffraction, or transmission on or through the measurement object (2) using a capturing device (3). The invention is characterized in that a correction function is used to adapt the image generating device (1), and thus the displayed image pattern, such that the influenced image pattern captured by the capturing device (3) has an at least substantially constant and/or homogenous and/or linear brightness over time and/or spatially. The invention additionally relates to a device for carrying out the method.
(FR) L'invention concerne un procédé de mesure de surface optique d'un objet à mesurer (2), procédé dans lequel un motif d'image est représenté au moyen d'un dispositif de formation d'image (1), et le motif d'image, après réflexion, diffusion, diffraction ou transmission à ou par l'objet de mesure (2), est enregistré au moyen d'un dispositif de détection (3). L'invention est caractérisée en ce que le dispositif de génération d'image (1) et donc le motif d'image représenté sont adaptés au moyen d'une fonction de correction de telle sorte que le motif d'image influencé, enregistré par le dispositif de détection (3), présente dans le temps et/ou dans l'espace une luminosité au moins sensiblement constante et/ou homogène et/ou linéaire. En outre, l'invention concerne un disposé destiné à la mise en œuvre du procédé.
(DE) Ein Verfahren zur optischen Oberflächenvermessung eines Messobjektes (2), wobei mit einer Bilderzeugungseinrichtung (1) ein Bildmusters dargestellt wird und wobei das Bildmuster nach Reflexion, Streuung, Beugung oder Transmission an bzw. durch das Messobjekt (2) mit einer Erfassungseinrichtung (3) aufgenommen wird, ist dadurch gekennzeichnet, dass mittels einer Korrekturfunktion die Bilderzeugungseinrichtung (1) und somit das dargestellte Bildmuster derart angepasst wird, dass das von der Erfassungseinrichtung (3) aufgenommene, beeinflusste Bildmuster zeitlich und/oder örtlich eine zumindest im Wesentlichen konstante und/oder homogene und/oder lineare Helligkeit aufweist. Des Weiteren ist eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens angegeben.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)