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1. (WO2019001987) AUFNAHMEVORRICHTUNG FÜR EIN OBERFLÄCHENMESSGERÄT
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Veröff.-Nr.: WO/2019/001987 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/065921
Veröffentlichungsdatum: 03.01.2019 Internationales Anmeldedatum: 15.06.2018
IPC:
G01J 3/52 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
J
Messen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
3
Spektrometrie; Spektrofotometrie; Monochromatoren; Farbmessung
46
Farbmessung; Farbmessgeräte, z.B. Kolorimeter
52
mittels Farbtafeln
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17
Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25
Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
27
mit fotoelektrischer Erfassung
Anmelder:
BYK-GARDNER GMBH [DE/DE]; Lausitzer Straße 8 82538 Geretsried, DE
Erfinder:
SCHWARZ, Peter; DE
Vertreter:
WALLINGER RICKER SCHLOTTER TOSTMANN; Patent- und Rechtsanwälte Partnerschaft mbB Zweibrückenstraße 5-7 80331 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 211 067.829.06.2017DE
Titel (EN) DOCKING STATION FOR A SURFACE MEASURING APPARATUS
(FR) DISPOSITIF D'ACCUEIL POUR UN INSTRUMENT DE MESURE DE SURFACE
(DE) AUFNAHMEVORRICHTUNG FÜR EIN OBERFLÄCHENMESSGERÄT
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a docking station 2 for a surface measuring apparatus 1, more particularly an optical surface measuring apparatus. The docking station has a reference measuring surface 4 which can be brought into a covered state in which it is covered from the environment of the docking station 2 and an uncovered state in which it is not covered from the environment of the docking station 2. When the surface measuring apparatus 1 is in the docking station 2 and the reference measuring surface 4 is in the uncovered state, the surface measuring apparatus 1 can perform a reference measurement of the reference measuring surface 4 and can calibrate the surface measuring apparatus 1 using the reference measurement. In contrast, when the reference measuring surface 4 is in the covered state, it is not exposed to the environment of the docking station 2 and is therefore protected from, for example, dust, light, moisture or mechanical impacts. The covered and uncovered states of the reference measuring surface 4 are preferably reached through a movement of the reference measuring surface 4 itself or through a movement of a cover for the reference measuring surface 4.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'accueil (2) pour un instrument de mesure de surface (1), notamment optique. Le dispositif d'accueil possède une surface de mesure de référence (4) qui peut être amenée dans un état recouvert, dans lequel elle est recouverte par rapport à l'environnement du dispositif d'accueil (2), et dans un état libéré, dans lequel elle est n'est pas recouverte par rapport à l'environnement du dispositif d'accueil (2). Lorsque l'instrument de mesure de surface (1) est accueilli dans le dispositif d'accueil (2) et que la surface de mesure de référence (4) se trouve dans l'état libéré, l'instrument de mesure de surface (1) peut effectuer une mesure de référence de la surface de mesure de référence (4) puis, en utilisant la mesure de référence, un étalonnage de l'instrument de mesure de surface (1). À l'inverse, lorsque la surface de mesure de référence (4) se trouve dans l'état recouvert, elle n'est pas exposée par rapport à l'environnement du dispositif d'accueil (2) et elle est ainsi protégée, par exemple, contre la poussière, la lumière, l'humidité ou les influences mécaniques. L'état recouvert ou libéré de la surface de mesure de référence (4) est de préférence obtenu par un mouvement de la surface de mesure de référence (4) elle-même ou par un mouvement d'un cache pour la surface de mesure de référence (4).
(DE) Die Erfindung betrifft eine Aufnahmevorrichtung (2) für ein, insbesondere optisches, Oberflächenmessgerät (1). Diese weist eine Referenzmessfläche (4) auf, welche in einen Abdeckzustand, in dem sie gegenüber der Umgebung der Aufnahmevorrichtung (2) abgedeckt ist, und in einen Freigabezustand, in dem sie gegenüber der Umgebung der Aufnahmevorrichtung (2) nicht abgedeckt ist, bringbar ist. Wenn das Oberflächenmessgerät (1) in der Aufnahmevorrichtung (2) aufgenommen ist und sich die Referenzmessfläche (4) in dem Freigabezustand befindet, kann das Oberflächenmessgerät (1) eine Referenzmessung der Referenzmessfläche (4) und unter Verwendung der Referenzmessung eine Kalibration des Oberflächenmessgerätes (1) durchführen. Wenn sich die Referenzmessfläche (4) dagegen in dem Abdeckzustand befindet, ist sie gegenüber der Umgebung der Aufnahmevorrichtung (2) nicht exponiert und somit beispielsweise gegenüber Staub, Licht, Feuchtigkeit oder mechanischen Einwirkungen geschützt. Der Abdeck- bzw. Freigabezustand der Referenzmessfläche (4) wird vorzugsweise durch eine Bewegung der Referenzmessfläche (4) selbst oder durch eine Bewegung einer Abdeckung für die Referenzmessfläche (4) erreicht.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)