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1. (WO2019001821) MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUM MIKROSKOPIEREN EINER PROBE UNTER EINEM VERÄNDERBAREN MECHANISCHEN PARAMETER
Anmerkung: Text basiert auf automatischer optischer Zeichenerkennung (OCR). Verwenden Sie bitte aus rechtlichen Gründen die PDF-Version.

Patentansprüche

1. Verfahren zum Mikroskopieren einer Probe (06) mit einem

Mikroskop, wobei an dem Mikroskop ein mechanischer

Parameter (Θ) veränderbar ist, und wobei das Verfahren zumindest folgende Schritte umfasst:

Auswählen eines ersten einzustellenden Wertes (Θζιθι) des mechanischen Parameters (Θ) ;

Ansteuern eines elektrisch steuerbaren

Betätigungselementes (04; 11), um den ersten

einzustellenden Wert (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) einzustellen;

Aufnehmen eines ersten mikroskopischen Bildes der Probe (06) unter dem eingestellten ersten Wert (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) ;

Auswählen eines zweiten einzustellenden Wertes (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) ;

Ansteuern des elektrisch steuerbaren

Betätigungselementes (04; 11), um den zweiten

einzustellenden Wert (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) einzustellen; und

Aufnehmen eines zweiten mikroskopischen Bildes der Probe (06) unter dem eingestellten zweiten Wert (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) .

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass es einen weiteren Schritt umfasst, der jeweils nach dem

Ansteuern des elektrisch steuerbaren Betätigungselementes

(04; 11) durchzuführen ist und ein Fokussieren der Probe

(06) umfasst.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Betätigungselement durch einen mit einem

Elektromotor antreibbaren Aktuator (04) gebildet ist, durch welchen der mechanische Parameter (Θ) verstellbar ist.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch

gekennzeichnet, dass der mechanische Parameter (Θ) manuell veränderbar ist und dass das Betätigungselement durch eine Feststelleinrichtung (11) gebildet ist, mit welcher der mechanische Parameter (Θ) feststellbar ist, und wobei die Schritte des Ansteuerns des elektrisch steuerbaren

Betätigungselementes (11) jeweils folgende Teilschritte umfassen :

Messen eines zeitliches Verlaufes einer manuell

bewirkten Veränderung des Wertes (©aktuell) des

mechanischen Parameters (Θ) ;

Prognostizieren eines Zeitpunktes, in welchem der zuvor bestimmte zeitliche Verlauf der manuellen Veränderung des Wertes (0aktueii) des mechanischen Parameters (Θ) zu dem jeweils einzustellenden Wert (Θζιθι) des mechanischen Parameters (Θ) führen wird; und

elektrisches Ansteuern der elektrisch betätigbaren Feststelleinrichtung (11) zu dem zuvor bestimmten Zeitpunkt .

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der mechanische Parameter durch einen Neigungswinkel (Θ) gebildet, und dass der Schritt des Prognostizierens des Zeitpunktes, in welchem der zuvor bestimmte zeitliche

Verlauf der manuellen Veränderung des Wertes (0aktueii) des Neigungswinkels (Θ) zu dem jeweils einzustellenden Wert ( 0Ziei) des Neigungswinkels (Θ) führen wird, folgende

Teilschritte umfasst:

Messen eines Ausgangswertes 0Start des Neigungswinkels; Bestimmen einer Winkelgeschwindigkeit ω und einer Winkelbeschleunigung aus dem zuvor bestimmten

zeitlichen Verlauf der manuellen Veränderung des Wertes ( 0aktueii) des Neigungswinke1s (Θ) ; und

Prognostizieren des Zeitpunktes, in welchem der zuvor bestimmte zeitliche Verlauf der manuellen Veränderung des Wertes ( 0aktueii) des Neigungswinkels (Θ) zu dem jeweils einzustellenden Wert Θζιθι des Neigungswinkels führen wird, ausgehend von der nach der Zeit t

aufgelösten Gleichung 0Ziei = 0Start + ω · t + Ή · · t2.

6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Schritt des Prognostizierens eines Zeitpunktes, in welchem der zuvor bestimmte zeitliche Verlauf der manuellen Veränderung des Wertes ( 0aktueii) des mechanischen Parameters ( Θ ) zu dem jeweils einzustellenden Wert ( Θζιθι ) des

mechanischen Parameters (Θ) führen wird, laufend

wiederholt wird, bis die manuelle Veränderung des Wertes des mechanischen Parameters (Θ) zu dem jeweils

einzustellenden Wert ( 0Ziei) des mechanischen Parameters

(Θ) geführt hat.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch

gekennzeichnet, dass der mechanische Parameter durch einen Neigungswinkel (Θ) zwischen einem Objektiv (07) des

Mikroskops und einem Objekttisch (02) des Mikroskops gebildet ist; wobei das Objektiv (07) an einem schwenkbaren Schwenkarm (03) befestigt ist, oder wobei der Objekttisch (02) in einer Achse parallel zur Erstreckungsebene des

Objekttisches (02) drehbar ist, wodurch der Neigungswinkel (Θ) zwischen dem Objektiv (07) dem Objekttisch (02) veränderbar ist.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch

gekennzeichnet, dass es folgenden weiteren Schritt umfasst:

Erzeugen einer Rückmeldung an den Bediener, wenn der Wert des mechanischen Parameters (Θ) um ein

vordefiniertes Maß verändert wurde und/oder wenn der jeweils einzustellende Wert (Θζιθι) des mechanischen Parameters (Θ) eingestellt wurde.

9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Rückmeldung haptisch wahrnehmbar ist und mit der

elektromagnetisch betätigbaren Feststelleinrichtung (11) erzeugt wird.

10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch

gekennzeichnet, dass das Auswählen des jeweils

einzustellenden Wertes (Θζιθι) des mechanischen Parameters (Θ) dadurch erfolgt, dass der zuvor ausgewählte Wert des mechanischen Parameters (Θ) um ein Inkrement inkrementiert wird.

11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch

gekennzeichnet, dass es folgende weitere Schritte umfasst, die mehrfach wiederholt werden:

Auswählen eines weiteren sich von den anderen Werten (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) unterscheidenden einzustellenden Wertes (Θζιθι) des mechanischen

Parameters (Θ) ;

Ansteuern des elektrisch steuerbaren

Betätigungselementes (04; 11), um den weiteren

einzustellenden Wert (Θζιθι) des mechanischen Parameters (Θ) einzustellen; und

- Aufnehmen eines weiteren mikroskopischen Bildes der

Probe (06) unter dem eingestellten weiteren Wert (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) .

12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch

gekennzeichnet, dass zum Aufnehmen des ersten

mikroskopischen Bildes der Probe (06) und zum Aufnehmen des zweiten mikroskopischen Bildes der Probe (06)

unterschiedliche Vergrößerungen eines Objektivs und/oder unterschiedliche Objektive gewählt werden.

13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch

gekennzeichnet, dass es zum Mikroskopieren von mindestens zwei Proben (06) ausgebildet ist, wobei zum Aufnehmen der mikroskopischen Bilder der ersten Probe (06) und zum

Aufnehmen der mikroskopischen Bilder der zweiten Probe (06) jeweils die gleichen ersten Werte (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) und die gleichen zweiten Werte (0Ziei) des mechanischen Parameters (Θ) ausgewählt und eingestellt werden .

14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch

gekennzeichnet, dass es folgenden weiteren Schritt umfasst: - Erzeugen einer 2 , 5-dimensionalen oder dreidimensionalen

Wiedergabe der Probe (06) aus den mehreren

mikroskopischen Bildern.

Mikroskop zum Mikroskopieren einer Probe (06), bei welchem ein mechanische Parameter (Θ) veränderbar ist, umfassend: ein elektrisch steuerbares Betätigungselement (04; 11) zum Einstellen eines Wertes des mechanischen Parameters (Θ) ; und

eine Steuereinheit, welche zur Ausführung eines

Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 14 ausgebildet ist .