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1. (WO2018215148) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM RECHNERGESTÜTZTEN VERARBEITEN EINES ZUFÄLLIGEN BITMUSTERS
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Veröff.-Nr.: WO/2018/215148 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/060235
Veröffentlichungsdatum: 29.11.2018 Internationales Anmeldedatum: 20.04.2018
IPC:
G06F 7/58 (2006.01) ,H04L 9/32 (2006.01)
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
F
Elektrische digitale Datenverarbeitung
7
Verfahren oder Anordnungen zur Verarbeitung von digitalen Daten durch Eingriff in deren Reihenfolge oder deren logische Verknüpfung
58
Vorrichtung zur Erzeugung von Zufalls- oder Pseudo-Zufalls-Zahlen
H Elektrotechnik
04
Elektrische Nachrichtentechnik
L
Übertragung digitaler Information, z.B. Telegrafieverkehr
9
Anordnungen für geheimen oder zugriffsgesicherten Nachrichtenverkehr
32
umfassend Mittel zur Feststellung der Identität oder der Berechtigung eines Benutzers des Systems
Anmelder:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München, DE
Erfinder:
ASCHAUER, Hans; DE
FRIES, Steffen; DE
Prioritätsdaten:
17172518.723.05.2017EP
Titel (EN) METHOD AND DEVICE FOR THE COMPUTER-AIDED PROCESSING OF A RANDOM BIT PATTERN
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT ASSISTÉ PAR ORDINATEUR D'UNE CONFIGURATION BINAIRE ALÉATOIRE
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM RECHNERGESTÜTZTEN VERARBEITEN EINES ZUFÄLLIGEN BITMUSTERS
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a method for the computer-aided processing of a random bit pattern, the random bit pattern being provided in a traceable and secure manner and high flexibility of the random bit pattern being ensured. The invention is advantageous over conventional methods because the invention defines, in particular at a first point in time, all degrees of freedom or parameters (e.g., which data source should be used, cryptographic methods for the first cryptographic checksum, number of measurement values, data format of the measurement values, a length of the random bit pattern, a data format of the random bit pattern (32-bit numbers, 64 bit numbers)) for the random bit pattern in the first method data set and/or format data set. In particular, it is no longer possible to freely select the parameters at the second point in time.
(FR) L'invention concerne un procédé de traitement assisté par ordinateur d'une configuration binaire aléatoire, la configuration binaire aléatoire étant fournie d'une manière traçable et sûre et un niveau élevé de flexibilité de la configuration binaire aléatoire étant garanti. L'invention est avantageuse par rapport aux procédés conventionnels, car elle spécifie en particulier dans un premier temps tous les degrés de liberté ou paramètres (par exemple, la source de données à utiliser, les procédés cryptographiques pour la première somme de contrôle cryptographique, le nombre de valeurs mesurées, le format des données des valeurs mesurées, une longueur de la configuration binaire aléatoire, un format de données de la configuration binaire aléatoire (nombres de 32 bits, nombres de 64 bits)) pour la configuration binaire aléatoire dans le premier ensemble de données du procédé et/ou l'ensemble de données du format. Dans un deuxième temps en particulier, il n'existe plus de liberté de choix concernant les paramètres.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum rechnergestützten Verarbeiten eines zufälligen Bitmusters, wobei das zufällige Bitmuster nachvollziehbar und sicher bereitgestellt wird und dabei eine hohe Flexibilität des zufälligen Bitmusters gewährleistet wird. Die Erfindung ist gegenüber konventionellen Verfahren vorteilhaft, da sie insbesondere zu einem ersten Zeitpunkt sämtliche Freiheitsgrade oder Parameter (z. B. welche Datenquelle soll genutzt werden, kryptographische Verfahren für die erste kryptographische Prüfsumme, Anzahl der Messwerte, Datenformat der Messwerte, eine Länge des zufälligen Bitmusters, ein Datenformat des zufälligen Bitmusters (32-Bit Zahlen, 64 Bit-Zahlen)) für das zufällige Bitmuster in dem ersten Verfahrensdatensatz und/oder Formatdatensatz festlegt. Insbesondere besteht zum zweiten Zeitpunkt keine Wahlfreiheit mehr bezüglich der Parameter.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)