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1. (WO2018197579) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM ERMITTELN DER PLANHEIT VON BANDMATERIAL UND BEARBEITUNGSANLAGE MIT EINER SOLCHEN VORRICHTUNG
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Veröff.-Nr.: WO/2018/197579 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/060633
Veröffentlichungsdatum: 01.11.2018 Internationales Anmeldedatum: 25.04.2018
IPC:
B21B 38/02 (2006.01)
B Arbeitsverfahren; Transportieren
21
Mechanische Metallbearbeitung ohne wesentliches Zerspanen des Werkstoffs; Stanzen von Metall
B
Walzen von Metall
38
Messverfahren oder -vorrichtungen, speziell für Metallwalzwerke ausgebildet, z.B. Lageerkennung, Prüfung des Fertigproduktes
02
zur Messung der Planheit oder des Profiles von Walzband
Anmelder:
MUHR UND BENDER KG [DE/DE]; Mubea-Platz 1 57439 Attendorn, DE
Erfinder:
EICHNER, Harald; DE
PRITZ, Stephan; DE
FELDMANN, Andre; DE
MUNDHENKE, Richard; DE
Vertreter:
NEUMANN MÜLLER OBERWALLENEY & PARTNER PATENTANWÄLTE; Overstolzenstraße 2a 50677 Köln, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 108 786.925.04.2017DE
Titel (EN) METHOD AND DEVICE FOR ASCERTAINING THE FLATNESS OF STRIP MATERIAL, AND MACHINING SYSTEM COMPRISING SUCH A DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF PERMETTANT DE DÉTERMINER LA PLANÉITÉ D'UN MATÉRIAU EN BANDE ET INSTALLATION DE TRAITEMENT DOTÉE D'UN TEL DISPOSITIF
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM ERMITTELN DER PLANHEIT VON BANDMATERIAL UND BEARBEITUNGSANLAGE MIT EINER SOLCHEN VORRICHTUNG
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a method and a device for ascertaining the flatness of transported strip material, having the steps of: moving the strip material (3) through a strip machining device, wherein a tensile force (Fx) of at least 10 N/mm2 is applied to the strip material (3); generating at least one projection pattern (5, 5') in the shape of a projection grid on the surface (6) of the strip material (3) by means of a projection-producing optical system (4, 4'), said projection pattern (5, 5') being projected onto the surface (6) of the strip material (3) from a position (P) which is laterally offset to the central plane (M) of the strip material (3), such that a projection angle (a) formed between the surface (6) of the strip material (3) and a projection beam (9) equals between 1° and 45°; and detecting the projection pattern (5, 5') by means of a camera (7), said camera (7) being arranged on a transverse plane (E) above the strip material (3) when viewed in the movement direction (X).
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif permettant de déterminer la planéité d'un matériau en bande en mouvement, comprenant les étapes suivantes : déplacer le matériau en bande (3) à travers un dispositif de traitement de bande, une force de traction (Fx) d'au moins 10 N/mm2 agissant sur le matériau en bande (3) ; générer au moins un motif de projection (5, 5') sous la forme d'une grille de projection sur la surface (6) du matériau en bande (3) au moyen d'un système optique de projection (4, 4'), le motif de projection (5, 5') étant projeté sur la surface (6) du matériau en bande (3) à partir d'une position (P) décalée latéralement par rapport au plan central (M) du matériau en bande (3), de sorte qu'un angle de projection (a) formé entre la surface (6) du matériau en bande (3) et un faisceau de projection (9) soit compris entre 1° et 45° ; et détecter le motif de projection (5, 5') à l'aide d'une caméra (7), la caméra (7) étant placée au-dessus du matériau en bande (3) dans un plan transversal (E) par rapport au sens de déplacement (X).
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Ermitteln der Planheit von bewegtem Bandmaterial, mit den Schritten: Bewegen des Bandmaterials (3) durch eine Bandbearbeitungsvorrichtung, wobei auf das Bandmaterial (3) eine Zugkraft (Fx) von mindestens 10 N/mm2 einwirkt; Erzeugen zumindest eines Projektionsmusters (5, 5') in Form eines Projektionsgitters auf der Oberfläche (6) des Bandmaterials (3) mittels einer projektionsgebenden Optik (4, 4'), wobei das Projektionsmuster (5, 5') von einer zur Mittelebene (M) des Bandmaterials (3) seitlich versetzten Position (P) auf die Oberfläche (6) des Bandmaterials (3) projiziert wird, derart, dass ein zwischen der Oberfläche (6) des Bandmaterials (3) und einem Projektionsstrahl (9) gebildeter Projektionswinkel (a) zwischen 1 ° und 45° beträgt; und Erfassen des Projektionsmusters (5, 5') mittels einer Kamera (7), wobei die Kamera (7) in einer Querebene (E) zur Bewegungsrichtung (X) betrachtet oberhalb des Bandmaterials (3) angeordnet wird.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)