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1. WO2018189000 - DIFFERENZSONDE, PRÜFVORRICHTUNG UND HERSTELLUNGSVERFAHREN

Veröffentlichungsnummer WO/2018/189000
Veröffentlichungsdatum 18.10.2018
Internationale Veröffentlichungsnummer PCT/EP2018/058536
Internationales Anmeldedatum 04.04.2018
IPC
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
27
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Anwendung elektrischer, elektrochemischer oder magnetischer Mittel
72
durch Untersuchen magnetischer Veränderlicher
82
zum Nachweis von Fehlern
90
durch Anwenden von Wirbelströmen
G01N 27/90 (2006.01)
CPC
G01N 27/902
G01N 27/9033
G01N 27/904
G01R 33/02
G01R 33/12
H01F 5/003
Anmelder
  • PRÜFTECHNIK DIETER BUSCH GMBH [DE/DE]; Oskar-Messter-Str. 19-21 85737 Ismaning, DE
Erfinder
  • FUCHSLOCH, Bernd; DE
  • PETERS, Jürgen; DE
Prioritätsdaten
10 2017 107 708.110.04.2017DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) DIFFERENZSONDE, PRÜFVORRICHTUNG UND HERSTELLUNGSVERFAHREN
(EN) DIFFERENTIAL PROBE, TESTING DEVICE AND PRODUCTION METHOD
(FR) SONDE DE DIFFÉRENCE, DISPOSITIF DE CONTRÔLE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION
Zusammenfassung
(DE)
Eine Differenzsonde (7, 19) weist eine erste Halbsonde (8, 20) und eine zweiten Halbsonde (9, 21) auf, die wenigstens ein Leiterschleifenpaar mit einer ersten Leiterschleife (11, 12, 13) der ersten Halbsonde (8, 20) und einer zweiten Leiterschleife (15, 16, 17) der zweiten Halbsonde (9, 21) aufweist, deren erste Leiterschleife (11, 12, 13) und zweite Leiterschleife (15, 16, 17) zueinander spiegelbildlich ausgeformt und bezüglich einer spiegelbildlichen Anordnung derselben auf jeweiligen Seiten einer Spiegelebene, bei der die erste Leiterschleife (11, 12, 13) und die zweite Leiterschleife (15, 16, 17) zur Spiegelebene parallel orientiert sind, in einer ebenfalls zur Spiegelebene parallelen Versetzungsrichtung gegeneinander versetzt angeordnet sind, wobei sich die erste Leiterschleife (11, 12, 13) und die zweite Leiterschleife (15, 16, 17) in Normalenrichtung zur Spiegelebene teilweise überlappen. Zum Herstellen der Differenzsonde (7, 19) wird die erste Leiterschleife (11, 12, 13) in einem ersten Teilabschnitt (23) einer flächigen Platine (22) ausgebildet und die zweite Leiterschleife (15, 16, 17) wird in einem zweiten Teilabschnitt (24) der Platine (22) an einer Position ausgebildet, die der Versetzung der zweiten Leiterschleife (15, 16, 17) gegenüber der ersten Leiterschleife (11, 12, 13) in der fertigen Differenzsonde (7, 19) entspricht, wobei die zweite Leiterschleife (15, 16, 17) in einer gegenüber ihrer Orientierung in der fertigen zweiten Halbsonde (9, 21) um eine zur Versetzungsrichtung parallelen Drehachse um 180° gedrehten Orientierung ausgebildet wird. Die Platine (22) wird geteilt und der erste Teilabschnitt (23) und der zweite Teilabschnitt (24) werden dabei voneinander getrennt. Anschließend wird der zweite Teilabschnitt (24) neben dem ersten Teilabschnitt (23) angeordnet, wobei die zweite Leiterschleife (15, 16, 17) in ihre Orientierung in der fertigen zweiten Halbsonde (9, 21) gebracht wird, und der erste Teilabschnitt (23) und der zweite Teilabschnitt (24) werden miteinander verbunden.
(EN)
The invention relates to a differential probe (7, 19) having a first half-probe (8, 20) and a second half-probe (9, 21), which differential probe has at least one conductor loop pair having a first conductor loop (11, 12, 13) of the first half-probe (8, 20) and a second conductor loop (15, 16, 17) of the second half-probe (9, 21), the first conductor loop (11, 12, 13) and the second conductor loop (15, 16, 17) of which are shaped mirror-inverted relative to each other and, in respect of a mirror-inverted arrangement thereof on respective sides of a mirror plane, wherein the first conductor loop (11, 12, 13) and the second conductor loop (15, 16, 17) are oriented parallel to the mirror plane, are arranged offset relative to each other in an offset direction, also parallel to the mirror plane, wherein the first conductor loop (11, 12, 13) and the second conductor loop (15, 16, 17) overlap in part in the direction normal to the mirror plane. In order to produce the differential probe (7, 19), the first conductor loop (11, 12, 13) is formed in a first portion (23) of a planar circuit board (22) and the second conductor loop (15, 16, 17) is formed in a second portion (24) of the circuit board (22) at a position which corresponds to the offset of the second conductor loop (15, 16, 17) relative to the first conductor loop (11, 12, 13) in the finished differential probe (7, 19), wherein, relative to its orientation in the finished second half-probe (9, 21), the second conductor loop (15, 16, 17) is formed in an orientation rotated by 180° about a rotation axis parallel to the offset direction. The circuit board (22) is divided, and in so doing the first portion (23) and the second portion (24) are separated from each other. The second portion (24) is then arranged next to the first portion (23), wherein the second conductor loop (15, 16, 17) is brought into the orientation thereof in the finished second half-probe (9, 21) and the first portion (23) and the second portion (24) are connected to each other.
(FR)
L'invention concerne une sonde de différence (7, 19) qui comporte une première demi-sonde (8, 20) et une seconde demi-sonde (9, 21) qui comporte au moins une paire de boucles conductrices pourvue d'une première boucle conductrice (11, 12, 13) de la première demi-sonde (8, 20) et d'une seconde boucle conductrice (15, 16, 17) de la seconde semi-sonde (9, 21). La première boucle conductrice (11, 12, 13) et la seconde boucle conductrice (15, 16, 17) sont formées en symétrie de miroir l'une par rapport à l'autre et sont disposées, par rapport à un agencement en symétrie de miroir de ces dernières sur des côtés respectifs d'un plan de miroir dans lequel la première boucle conductrice (11, 12, 13) et la seconde boucle conductrice (15, 16, 17) sont orientées de manière parallèle par rapport au plan de miroir, de manière décalée l'une par rapport à l'autre dans une direction de décalage également parallèle au plan de miroir. La première boucle conductrice (11, 12, 13) et la seconde boucle conductrice (15, 16, 17) se chevauchent en partie dans la direction normale par rapport au plan de miroir. Pour fabriquer la sonde de différence (7, 19), la première boucle conductrice (11, 12, 13) est réalisée dans une première section partielle (23) d'une platine (22) plate, et la seconde boucle conductrice (15, 16, 17) est réalisée dans une deuxième section partielle (24) de la platine (22) en une position qui correspond au décalage de la seconde boucle conductrice (15, 16, 17) par rapport à la première boucle conductrice (11, 12, 13) dans la sonde de différence (7, 19) fin prête. La seconde boucle conductrice (15, 16, 17) est réalisée dans une orientation tournée de 180° autour d'un axe de rotation parallèle à la direction de décalage par rapport à son orientation dans la seconde semi-sonde (9, 21) fin prête. La platine (22) est divisée, et la première section partielle (23) et la deuxième section partielle (24) sont dans ce cadre séparées l'une de l'autre. La deuxième section partielle (24) est immédiatement après disposée à côté de la première section partielle (23). La seconde boucle conductrice (15, 16, 17) est amenée dans son orientation dans la seconde demi-sonde (9, 21) fin prête. La première section partielle (23) et la deuxième section partielle (24) sont reliées l'une à l'autre.
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