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1. (WO2018172267) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG VON MINDESTENS ZWEI DURCHSTRAHLUNGSPOSITIONEN
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Veröff.-Nr.: WO/2018/172267 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/056853
Veröffentlichungsdatum: 27.09.2018 Internationales Anmeldedatum: 19.03.2018
IPC:
G01N 23/18 (2018.01) ,G01N 23/044 (2018.01) ,G06T 11/00 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
23
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Anwendung von Wellen- oder Teilchenstrahlung, soweit nicht von G01N21/ oder G01N22/177
02
mittels Durchstrahlung des Stoffes
06
und Messen der Absorption
08
durch elektrische Nachweismittel
18
Prüfen auf Vorhandensein von Lunkern oder Einschlüssen
[IPC code unknown for G01N 23/044]
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
T
Bilddatenverarbeitung oder Bilddatenerzeugung allgemein
11
Erzeugung von 2D [zweidimensionalen] Bildern
Anmelder: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.[DE/DE]; Hansastraße 27c 80686 München, DE
Erfinder: STOCKER, Thomas; DE
Vertreter: PFITZNER, Hannes; DE
ZIMMERMANN, Tankred; DE
STÖCKELER, Ferdinand; DE
ZINKLER, Franz; DE
SCHENK, Markus; DE
HERSINA, Günter; DE
BURGER, Markus; DE
SCHAIRER, Oliver; DE
KÖNIG, Andreas; DE
Prioritätsdaten:
17161932.320.03.2017EP
Titel (EN) METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING AT LEAST TWO TRANSMISSION POSITIONS
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF PERMETTANT DE DÉTERMINER AU MOINS DEUX POSITIONS DE RADIOGRAPHIE
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG VON MINDESTENS ZWEI DURCHSTRAHLUNGSPOSITIONEN
Zusammenfassung:
(EN) A method for determining at least two test positions for non-destructive material testing of an object to be tested by means of an x-ray system comprises the following steps: reading geometry parameters of the x-ray system; reading geometry parameters of the object to be tested; establishing a first and second relative position of the x-ray system for examining the object to be tested, relative to the object to be tested, in order to obtain the first and second transmission position; analysing the two transmission positions on the basis of the geometry parameters of the x-ray system and on the basis of the geometry parameters of the object to be tested in respect of suitability for material testing and/or establishment of evaluation information. Here, the analysis step runs automatically.
(FR) L'invention concerne un procédé permettant de déterminer au moins deux positions de contrôle pour le contrôle non destructif de matériaux d'un objet à contrôler au moyen d'un système radiographique. Le procédé comporte les étapes consistant à : saisir des paramètres géométriques du système radiographique ; saisir des paramètres géométrique de l'objet à contrôler ; déterminer une première et une deuxième position relative du système radiographique servant à l'inspection de l'objet à contrôler par rapport à l'objet à contrôler, afin d'obtenir la première et la deuxième position de radiographie ; analyser les deux positions de radiographie, sur la base des paramètres géométriques du système radiographique et sur la base des paramètres géométriques de l'objet à contrôler, en termes de leurs adéquation au contrôle de matériaux et/ou de la détermination d'informations d'évaluation. L'étape d'analyse se déroule automatiquement.
(DE) Ein Verfahren zum Bestimmen von mindestens zwei Prüfpositionen zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung eines zu prüfenden Objekts mittels eines Röntgensystems umfasst die folgenden Schritte: Einlesen von Geometrieparametern des Röntgensystems; Einlesen von Geometrieparametern des zu prüfenden Objekts; Ermitteln einer ersten und zweiten Relativposition des Röntgensystems zur Untersuchung des zu prüfenden Objekts gegenüber dem zu prüfenden Objekt, um die erste und zweite Durchstrahlungsposition zu erhalten; Analysieren der zwei Durchstrahlpositionen auf Basis der Geometrieparameter des Röntgensystems und auf Basis der Geometrieparameter des zu prüfenden Objekts hinsichtlich Eignung zur Werkstoffprüfung und/oder Ermittlung von Auswerteinformationen. Hierbei verläuft der Schritt des Analysierens automatisch.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)