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1. (WO2018166744) ANORDNUNG, MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR TIRF-MIKROSKOPIE

Pub. No.:    WO/2018/166744    International Application No.:    PCT/EP2018/053789
Publication Date: Fri Sep 21 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Feb 16 00:59:59 CET 2018
IPC: G02B 21/00
G02B 21/02
G02B 21/36
Applicants: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH
Inventors: SIEBENMORGEN, Jörg
NETZ, Ralf
Title: ANORDNUNG, MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR TIRF-MIKROSKOPIE
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Anordnung (1) zur TIRF-Mikroskopie, umfassendeine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv (2) zur Beleuchtung einer auf einem Probenträger (7) in einem Probenbereich einer Probenebene(4)befindlichen Probe (5) über einen Beleuchtungsstrahlengang, wobeidie optische Achse (A1) des Beleuchtungsobjektivs (2) mit der Normalen (B) der Probenebene (4), hinsichtlich welcher der Probenträger (7) ausgerichtet ist, einen von Null verschiedenen Beleuchtungswinkel (α1) einschließt. Eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (3) in einem Detektionsstrahlengang schließt zwischendessen optischer Achse (A2) und der Normalen (B) der Probenebene (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel (α2) ein. Erfindungsgemäß istzwischen dem Probenträger (7) und den Objektiven (2,3) ein Übergangselement (10) vorhanden, das sowohl in dem Beleuchtungsstrahlengang (BS) als auch in dem Detektionsstrahlengang (DS) angeordnet ist. Das Übergangselement (10) ist zur Korrektur von Aberrationen, die aufgrund des Durchtritts von zu detektierender Strahlung und/oder von Strahlung zur Beleuchtung der Probe (5) durch Medien unterschiedlicher Brechungsindizesentstehen, ausgebildet. Der Beleuchtungsstrahlengangistunter einem zur Erzeugung einer Totalreflexion der Beleuchtungsstrahlung (BS) an der Probenebene (4) geeigneten Beleuchtungswinkel (α1) in den Probenbereich der Probenebene (4) gerichtet. Die Erfindung betrifft außerdem ein Mikroskop (0) mit der Anordnung (1) sowie ein Verfahren zur TIRF-Mikroskopie.