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1. (WO2018162481) SYSTEM UND VERFAHREN ZUM BESTIMMEN VON FEHLERBILDERN AUS SENSORDATEN IN PRODUKTVALIDIERUNGS- UND FERTIGUNGSPROZESSEN
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Veröff.-Nr.: WO/2018/162481 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/055473
Veröffentlichungsdatum: 13.09.2018 Internationales Anmeldedatum: 06.03.2018
IPC:
G06Q 10/06 (2012.01) ,G06Q 50/04 (2012.01)
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
Q
Datenverarbeitungssysteme oder -verfahren, besonders angepasst an verwaltungstechnische, geschäftliche, finanzielle oder betriebswirtschaftliche Zwecke, sowie an geschäftsbezogene Überwachungs- oder Voraussagezwecke; Systeme oder Verfahren, besonders angepasst an verwaltungstechnische Zwecke, sowie an geschäftsbezogene Überwachungs- oder Voraussagezwecke, soweit nicht anderweitig vorgesehen
10
Verwaltung; Management
06
Ressourcen, Arbeitsablaufschema (Workflow), Personal- oder Projektmanagement, z.B. Organisieren, Planen, Disponieren oder Zuweisen von Zeit, Personal- oder Maschinenressourcen; Unternehmensplanung; Organisationsmodelle
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
Q
Datenverarbeitungssysteme oder -verfahren, besonders angepasst an verwaltungstechnische, geschäftliche, finanzielle oder betriebswirtschaftliche Zwecke, sowie an geschäftsbezogene Überwachungs- oder Voraussagezwecke; Systeme oder Verfahren, besonders angepasst an verwaltungstechnische Zwecke, sowie an geschäftsbezogene Überwachungs- oder Voraussagezwecke, soweit nicht anderweitig vorgesehen
50
Systeme oder Verfahren besonders angepasst an bestimmte Geschäftsbereiche, z.B. Versorgungsunternehmen oder Tourismus
04
Fertigung, Produktion
Anmelder:
MTS CONSULTING & ENGINEERING GMBH [DE/DE]; Wernher-von-Braun-Str. 8 82256 Fürstenfeldbruck, DE
Erfinder:
THURNER, Frank; DE
Vertreter:
2S-IP SCHRAMM SCHNEIDER BERTAGNOLL PATENT- UND RECHTSANWÄLTE PART MBB; Postfach 86 02 67 81629 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 104 884.708.03.2017DE
Titel (EN) SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING FAULT PATTERNS FROM SENSOR DATA IN PRODUCT VALIDATION AND MANUFACTURING PROCESSES
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'IMAGES DE DÉFAUT À PARTIR DE DONNÉES DE CAPTEUR DANS DES PROCESSUS DE VALIDATION DE PRODUIT ET DE FABRICATION
(DE) SYSTEM UND VERFAHREN ZUM BESTIMMEN VON FEHLERBILDERN AUS SENSORDATEN IN PRODUKTVALIDIERUNGS- UND FERTIGUNGSPROZESSEN
Zusammenfassung:
(EN) Provision is made of a method for monitoring at least one process and for determining fault patterns of faults occurring in the at least one process, wherein a parameter table with characteristic fault patterns is generated for a number of partial processes of the at least one process, wherein the parameter table is generated on the basis of historical sensor data, wherein the historical sensor data describe a number of historical curves which have at least two dimensions and are respectively assigned to a partial process, and wherein the historical curves for each partial process comprise historical OK curves (okay) and historical NOK curves (not okay), wherein the historical NOK curves represent faulty partial processes.
(FR) L'invention concerne un procédé de surveillance d'au moins un processus et de détermination d'images de défauts apparaissant dans le ou les processus. Un tableau de paramètres présentant des images de défauts caractéristiques est produit pour un certain nombre de parties du ou des processus. La production du tableau de paramètres est réalisée sur la base de données historiques de capteur, les données historiques de capteur décrivant un certain nombre de courbes historiques, qui présentent au moins deux dimensions et qui sont associées chacune à une partie de processus, et les courbes historiques comportant pour chaque partie de processus des courbes historiques iO (justes) et des courbes historiques niO (non justes), les courbes historiques niO représentant des parties de processus défecteuses.
(DE) Bereit gestellt wird ein Verfahren zur Überwachung zumindest eines Prozesses und zur Bestimmung von Fehlerbildern von in dem zumindest einen Prozess auftretenden Fehlern, wobei für eine Anzahl von Teilprozessen des zumindest einen Prozesses eine Parametertabelle mit charakteristischen Fehlerbildern erzeugt wird, wobei das Erzeugen der Parametertabelle basierend auf historischen Sensordaten erfolgt, wobei die historischen Sensordaten eine Anzahl von historischen Kurven beschreiben, die zumindest zwei Dimensionen aufweisen und jeweils einem Teilprozess zugeordnet sind, und wobei die historischen Kurven für jeden Teilprozess historische iO-Kurven (in Ordnung) und historische niO-Kurven (nicht in Ordnung) umfassen, wobei die historischen niO-Kurven fehlerhafte Teilprozesse repräsentieren.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)