Einige Inhalte dieser Anwendung sind momentan nicht verfügbar.
Wenn diese Situation weiterhin besteht, kontaktieren Sie uns bitte unterFeedback&Kontakt
1. (WO2018162319) 3D-MIKROSKOPIE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

Veröff.-Nr.: WO/2018/162319 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/055053
Veröffentlichungsdatum: 13.09.2018 Internationales Anmeldedatum: 01.03.2018
IPC:
G02B 21/36 (2006.01) ,G02B 27/00 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
36
für fotografische oder Projektionszwecke
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
Anmelder:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Erfinder:
KLEPPE, Ingo; DE
WALD, Matthias; DE
Vertreter:
PATENTANWÄLTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB; Perhamerstraße 31 80687 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 105 103.110.03.2017DE
Titel (EN) 3D MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPIE 3D
(DE) 3D-MIKROSKOPIE
Zusammenfassung:
(EN) In a microscopy method for imaging an object (3) in a three-dimensional manner, the object is imaged into a first image (12), which lies on a first image plane, through an imaging beam path. A first microlens array (8a) is arranged on the first image plane, and a second microlens array (8b) which has the same pitch is arranged downstream of the first microlens array. The two microlens arrays (8a, 8b) laterally segment the first image (12) into segments (15, 16) and image same into a second image (13) in which the segments are spaced apart and separated by gaps (17). On a pupil plane (14) downstream of the microlens array (8a, 8b), a phase mask (9c) is provided which generates a spot (18, 19) for each segment (15, 16) of the second image (13) according to a pixel diffusion function. A detector (11) detects the shape and structure of the spot, and a controller (11) ascertains a lateral intensity distribution and a depth specification from the shape and/or structure of the spot (18, 19) for each segment (15, 16) and generates a depth-resolved image of the object (3) therefrom.
(FR) L'invention concerne un procédé de microscopie pour la représentation en trois dimensions d'un objet (3), celui-ci étant représenté par un chemin optique de représentation dans une première image (12) qui se situe dans un premier plan d'image. Un premier réseau de microlentilles (8a) est disposé dans le premier plan d'image. Un deuxième réseau de microlentilles (8b), présentant la même séparation, est disposé en aval du premier. Les deux séries de microlentilles (8a, 8b) segmentent la première image (12) latéralement en des segments (15, 16) et la représentent dans une deuxième image (13) dans laquelle les segments sont écartés les uns des autres et séparés par des vides (17). Un masque de phases (9c) se situe dans un plan de pupilles (14) en aval des séries de microlentilles (8a, 8b) et génère pour chaque segment (15, 16) de la deuxième image (13) une tache (18, 19) selon une fonction de floutage des éléments d'image. Un détecteur (11) détecte la forme et la structure de la tache. Un dispositif de commande (11) détermine pour chaque segment (15, 16), à partir de cette forme et/ou structure de la tache (18, 19), une répartition latérale des intensités et une indication de profondeur et génère à partir de celles-ci une image résolue en profondeur de l'objet (3).
(DE) Bei einem Mikroskopieverfahren zur dreidimensionalen Abbildung eines Objektes (3) wird dieses durch einen Abbildungsstrahlengang in ein erstes Bild (12) abgebildet, das in einer ersten Bildebene liegt. In der ersten Bildebene ist ein erstes Mikrolinsenarray (8a) angeordnet. Ihm ist ein zweites Mikrolinsenarray (8b) nachgeordnet, das dieselbe Teilung hat. Die beiden Mikrolinsenarrays (8a, 8b) segmentieren das erste Bild (12) lateral in Segmente (15, 16) und bilden es in ein zweites Bild (13) ab, in dem die Segmente des voneinander beabstandet und durch Lücken (17) getrennt sind. In einer Pupillenebene (14) nach den Mikrolinsenarrays (8a, 8b) steht eine Phasenmaske (9c), die für jedes Segment (15, 16) des zweiten Bildes (13) gemäß einer Punktbildverwaschungsfunktion einen Spot (18, 19) erzeugt. Ein Detektor (11) erfasst Form und Struktur der Spots. Eine Steuereinrichtung (11) ermittelt für jedes Segment (15, 16) aus dieser Form und/oder Struktur der Spots (18, 19) eine laterale Intensitätsverteilung und eine Tiefenangabe und erzeugt daraus ein tiefenaufgelöstes Bild des Objektes (3).
front page image
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)