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Veröff.-Nr.: WO/2018/162303 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/054970
Veröffentlichungsdatum: 13.09.2018 Internationales Anmeldedatum: 28.02.2018
IPC:
A61B 5/00 (2006.01) ,G02B 23/26 (2006.01) ,G02B 23/24 (2006.01) ,G01N 21/65 (2006.01) ,G01B 9/02 (2006.01)
A Täglicher Lebensbedarf
61
Medizin oder Tiermedizin; Hygiene
B
Diagnostik; Chirurgie; Identifizierung
5
Messen zu diagnostischen Zwecken; Identifizieren von Personen
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
23
Teleskope, z.B. Binokulare; Periskope; Instrumente zum Betrachten des Inneren hohler Körper; Sucher; optische Richt- oder Visiereinrichtungen
24
Instrumente zum Betrachten des Inneren hohler Körper, z.B. Glasfaser-Endoskop
26
mit Lichtleitern
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
23
Teleskope, z.B. Binokulare; Periskope; Instrumente zum Betrachten des Inneren hohler Körper; Sucher; optische Richt- oder Visiereinrichtungen
24
Instrumente zum Betrachten des Inneren hohler Körper, z.B. Glasfaser-Endoskop
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
62
Systeme, in welchen das untersuchte Material so angeregt wird, dass es Licht emittiert oder die Wellenlänge des auffallenden Lichts ändert
63
optisch angeregt
65
Raman-Streuung
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
9
Instrumente wie in den Untergruppen aufgeführt und gekennzeichnet durch die Verwendung von optischen Messmitteln
02
Interferometer
Anmelder: GRINTECH GMBH[DE/DE]; Schillerstr. 1 07745 Jena, DE
Erfinder: MESSERSCHMIDT, Bernhard; DE
MATZ, Gregor; DE
Vertreter: EPPING HERMANN FISCHER PATENTANWALTSGESELLSCHAFT MBH; Schloßschmidstr. 5 80639 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 104 617.806.03.2017DE
Titel (EN) OPTICAL PROBE AND METHOD FOR OPERATING THE OPTICAL PROBE
(FR) SONDE OPTIQUE ET PROCÉDÉ POUR LE FONCTIONNEMENT DE LA SONDE OPTIQUE
(DE) OPTISCHE SONDE UND VERFAHREN ZUM BETRIEB DER OPTISCHEN SONDE
Zusammenfassung:
(EN) An optical probe (2) for optically examining an object (1) is described, said optical probe having a first optical beam path for a scanning imaging method and a second optical beam path for a spectroscopic method. The optical probe comprises a first optical fibre (9) in the first optical beam path and a scanning apparatus (10) that is configured to laterally deflect the first optical fibre (9) or illumination light (31) emerging from the first optical fibre (9) for the purposes of scanning the object (1) during the scanning imaging method. The optical probe comprises a second optical fibre (11) in the second optical beam path, said second optical fibre being configured to guide excitation light or detected object light for the spectroscopic method, and a beam splitter filter (15), wherein the beam path of the scanning imaging method and the beam path of the spectroscopic method are brought into partial overlap in the probe (2) by means of the beam splitter filter (15). The optical probe (2) has a diameter of no more than 5 mm. Furthermore, a method for operating the optical probe (2) is specified.
(FR) L'invention concerne une sonde optique (2) pour l'examen optique d'un objet (1), qui présente un premier chemin optique pour un procédé d'imagerie par balayage et un deuxième chemin optique pour un procédé spectroscopique. La sonde optique comprend une première fibre optique (9) dans le premier chemin optique ainsi qu'un dispositif de balayage (10) conçu pour dévier latéralement la première fibre optique (9) ou une lumière d'éclairage (31) sortant de la première fibre optique (31) pour balayer l'objet (1) lors du procédé d'imagerie par balayage. La sonde optique comprend une deuxième fibre optique (11) dans le deuxième chemin optique, conçue pour guider une lumière d'excitation ou une lumière d'objet détectée pour le procédé spectroscopique, et un séparateur-filtre de faisceau (15), le chemin optique du procédé d'imagerie par balayage et le chemin optique du procédé spectroscopique étant mis partiellement en chevauchement au moyen du séparateur-filtre de faisceau (15) dans la sonde (2). La sonde optique (2) présente un diamètre qui n'est pas supérieur à 5 mm. L'invention concerne également un procédé de fonctionnement de la sonde optique (2).
(DE) Es wird eine optische Sonde (2) zur optischen Untersuchung eines Objekts (1) beschrieben, die einen ersten optischen Strahlengang für ein scannendes bildgebendes Verfahren und einen zweiten optischen Strahlengang für ein spektroskopisches Verfahren aufweist. Die optische Sonde umfasst eine erste Lichtleitfaser (9) in dem ersten optischen Strahlengang, sowie eine Scanvorrichtung (10), die dazu eingerichtet ist, die erste Lichtleitfaser (9) oder ein aus der ersten Lichtleitfaser (9) austretende Beleuchtungslicht (31) zum Abtasten des Objekts (1) bei dem scannenden bildgebenden Verfahren lateral abzulenken. Die optische Sonde umfasst eine zweite Lichtleitfaser (11) in dem zweiten optischen Strahlengang, die dazu eingerichtet ist, ein Anregungslicht oder ein detektiertes Objektlicht für das spektroskopische Verfahren zu führen, und einen Strahlteiler-Filter (15), wobei der Strahlengang des scannenden bildgebenden Verfahrens und der Strahlengang des spektroskopischen Verfahrens mittels des Strahlteiler-Filters (15) in der Sonde (2) teilweise zur Überlappung gebracht werden. Die optische Sonde (2) weist einen Durchmesser von nicht mehr als 5 mm auf. Weiterhin wird ein Verfahren zum Betrieb der optischen Sonde (2) angegeben.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)