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1. (WO2018158435) DEFLEKTOMETER, REFERENZMUSTER UND VERFAHREN ZUR TOPOGRAFIEBESTIMMUNG EINES OBJEKTS
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Veröff.-Nr.: WO/2018/158435 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/055190
Veröffentlichungsdatum: 07.09.2018 Internationales Anmeldedatum: 02.03.2018
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen: 28.12.2018
IPC:
G01B 11/25 (2006.01) ,A61B 3/10 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24
zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
25
durch Projizieren eines Musters, z.B. Moiré-Streifen, auf den Gegenstand
A Täglicher Lebensbedarf
61
Medizin oder Tiermedizin; Hygiene
B
Diagnostik; Chirurgie; Identifizierung
3
Apparate zum Prüfen der Augen; Instrumente zum Untersuchen der Augen
10
objektive Geräte, d.h. Geräte zur Augenuntersuchung, die von der Wahrnehmung oder Reaktion des Patienten unabhängig sind
Anmelder:
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. [DE/DE]; Hansastraße 27c 80686 München, DE
KARLSRUHER INSTITUT FÜR TECHNOLOGIE [DE/DE]; Kaiserstraße 12 76131 Karlsruhe, DE
Erfinder:
ZIEBARTH, Mathias; DE
STEPHAN, Thomas; DE
BURKE, Jan; DE
Vertreter:
ZIMMERMANN, Tankred; DE
STÖCKELER, Ferdinand; DE
ZINKLER, Franz; DE
SCHENK, Markus; DE
HERSINA, Günter; DE
BURGER, Markus; DE
SCHAIRER, Oliver; DE
PFITZNER, Hannes; DE
KÖNIG, Andreas; DE
Prioritätsdaten:
10 2017 203 390.802.03.2017DE
Titel (EN) DEFLECTOMETER, REFERENCE PATTERN AND METHOD FOR DETERMINING THE TOPOGRAPHY OF AN OBJECT
(FR) DÉFLECTOMÈTRE, MOTIF DE RÉFÉRENCE ET PROCÉDÉ SERVANT À DÉFINIR LA TOPOGRAPHIE D'UN OBJET
(DE) DEFLEKTOMETER, REFERENZMUSTER UND VERFAHREN ZUR TOPOGRAFIEBESTIMMUNG EINES OBJEKTS
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a deflectometer for determining the topography of an object, having a display, which is designed to reproduce a reference pattern. The reference pattern comprises a first plurality of spirals and a second plurality of spirals, wherein the direction of turn of the first plurality of spirals is opposite to the direction of turn of the second plurality of spirals. The deflectometer is further designed to provide topographic information regarding the object, on the basis of a reflection of the reference pattern on the object.
(FR) L'invention concerne un déflectomètre servant à définir la topographie d'un objet, comprenant un affichage, qui est configuré pour reproduire un motif de référence. Le motif de référence comporte une première multitude de spirales et une deuxième multitude de spirales. Une direction d'enroulement de la première multitude de spirales est opposée à une direction d'enroulement de la deuxième multitude de spirales. En outre, le déflectomètre est configuré pour fournir, sur la base d'une réflexion du motif de référence sur l'objet, une information topographique concernant l'objet.
(DE) Deflektometer zur Topografiebestimmung eines Objekts, mit einer Anzeige, die ausgelegt ist, um ein Referenzmuster wiederzugeben. Das Referenzmuster weist eine erste Mehrzahl von Spiralen auf und eine zweite Mehrzahl von Spiralen auf, wobei eine Wicklungsrichtung der ersten Mehrzahl von Spiralen entgegengesetzt zu einer Wicklungsrichtung der zweiten Mehrzahl von Spiralen ist. Ferner ist das Deflektometer ausgelegt, basierend auf einer Reflektion des Referenzmusters an dem Objekt eine topografische Information über das Objekt bereitzustellen.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)