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1. (WO2018154007) BELEUCHTUNGSEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINER BELEUCHTUNGSEINRICHTUNG
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Beschreibung

BELEUCHTUNGSEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINER

BELEUCHTUNGSEINRICHTUNG

Es wird eine Beleuchtungseinrichtung angegeben. Darüber hinaus wird ein Verfahren zum Betreiben einer

Beleuchtungseinrichtung angegeben .

Eine zu lösende Aufgabe besteht unter anderem darin, eine Beleuchtungseinrichtung anzugeben, die eine verbesserte

Effizienz aufweist. Eine weitere zu lösende Aufgabe besteht darin, ein Verfahren zum Betreiben einer solchen

Beleuchtungseinrichtung anzugeben .

Es wird eine Beleuchtungseinrichtung mit zumindest einem zur Erzeugung von Licht vorgesehenem Halbleiterbauelement

angegeben. Beispielsweise weist das Halbleiterbauelement eine aktive Zone auf, in welcher im bestimmungsgemäßen Betrieb des Halbleiterbauelements Licht erzeugt wird. Beispielsweise handelt es sich bei der Beleuchtungseinrichtung um ein

Blitzlicht. Insbesondere wird im bestimmungsgemäßen Betrieb in dem Halbleiterbauelement Licht in einem

Wellenlängenbereich zwischen Infrarot- und UV-Strahlung erzeugt. Beispielsweise weist das Halbleiterbauelement eine Emissionsfläche auf, durch welche im bestimmungsgemäßen

Betrieb ein Großteil des emittierten Lichts austritt.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform umfasst die

Beleuchtungseinrichtung eine Ansteuerschaltung. Die

Ansteuerschaltung ist elektrisch leitend mit dem

Halbleiterbauelement verbunden und ist dazu eingerichtet, das Halbleiterbauelement anzusteuern und zu betreiben. Zum

Beispiel sind die Ansteuerschaltung und das

Halbleiterbauelement mechanisch fest über eine

Stoffschlüssige Verbindung miteinander verbunden.

Beispielsweise sind das Halbleiterbauelement und die

Ansteuerschaltung mittels einer Lotverbindung miteinander verbunden. Die Ansteuerschaltung kann beispielsweise auf einer der Emissionsfläche abgewandten Seite des

Halbleiterbauelements angeordnet werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung beleuchtet im Betrieb des

Halbleiterbauelements abgestrahltes Licht ein Sichtfeld. Beispielsweise umfasst die Beleuchtungseinrichtung den Sensor, oder die Beleuchtungseinrichtung ist Teil einer Kamera, welche den Sensor umfasst. Das Sichtfeld ist beispielsweise eine Region in einem Objektraum, welche auf dem Sensor abgebildet wird. Insbesondere wird ausschließlich das gesamte Sichtfeld auf dem Sensor abgebildet. Das

Sichtfeld kann in einem Abstandsbereich zwischen

einschließlich 1 m und einschließlich 30 m, insbesondere in einem Abstandsbereich zwischen einschließlich 0,5 m und einschließlich 10 m, von der Beleuchtungseinrichtung angeordnet sein.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist das Sichtfeld in eine Vielzahl von Bereichen unterteilt. Beispielsweise ist das Sichtfeld in mehrere rechteckige, insbesondere

quadratische, Bereiche unterteilt. Beispielsweise ist das Sichtfeld in rechteckige Bereiche unterteilt, die an den Knotenpunkten eines regelmäßigen Rechteckgitters

nebeneinander angeordnet sind. Insbesondere ist jeder Punkt des Sichtfeldes zumindest einem Bereich zugeordnet. Die Bereiche können einander teilweise überlappen, so dass ein Punkt des Sichtfeldes mehreren Bereichen zugeordnet sein kann .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist das

Halbleiterbauelement eine Vielzahl von Pixeln auf, die jeweils zur Beleuchtung eines Bereichs des Sichtfeldes vorgesehen sind. Beispielsweise sind mehrere Pixel einem Bereich zugeordnet, so dass ein Bereich mittels des Lichts mehrerer Pixel beleuchtbar ist. Insbesondere ist jeder

Bereich mittels zumindest einem Pixel beleuchtbar.

Die Pixel des Halbleiterbauelements können separat

voneinander betrieben werden. Beispielsweise kann die

Helligkeit und/oder der Farbort des emittierten Lichts eines Pixels separat von anderen Pixeln vorgegeben werden. Die Pixel sind in einer lateralen Ebene, welche parallel zur Emissionsfläche des Halbleiterbauelements verläuft,

nebeneinander angeordnet. Beispielsweise sind die Pixel entlang den Knotenpunkten eines regelmäßigen Rechteckgitters in der lateralen Ebene nebeneinander angeordnet.

Beispielsweise ist jeder Pixel mit einem Halbleiterchip gebildet, wobei jeder Halbleiterchip in einem separaten

Herstellungsprozess hergestellt sein kann.

Alternativ umfasst ein Halbleiterchip eine Vielzahl von

Pixeln, die in einem gemeinsamen Herstellungsprozess

hergestellt sind. Beispielsweise sind die Pixel mit

Halbleiterschichten gebildet, welche mittels eines

gemeinsamen Epitaxieverfahrens hergestellt sind. Die laterale Ausdehnung eines einzelnen Pixels wird beispielsweise mittels Gräben begrenzt, welche zumindest eine der

Halbleiterschichten durchtrennen. Die Gräben können

beispielsweise mittels eines lithographischen Verfahrens hergestellt sein. Alternativ weisen die Pixel durchgehende Halbleiterschichten auf, wobei die Ausdehnung der einzelnen Pixel in lateraler Richtung durch die laterale Ausdehnung von Kontaktstrukturen, über welche die Pixel bestromt werden, definiert ist.

Weiter ist es möglich, dass jeder Pixel zwei oder mehr

Halbleiterchips umfasst, wobei jeder Halbleiterchip einen Subpixel des Pixels bildet.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform weisen die Pixel jeweils zumindest einen Subpixel erster Art und einen

Subpixel zweiter Art auf. Die Subpixel sind in der lateralen Ebene nebeneinander angeordnet. Insbesondere sind Subpixel eines Pixels benachbart zueinander angeordnet. „Benachbart zueinander" bedeutet in diesem Zusammenhang, dass in

lateraler Richtung zwischen benachbarten Subpixeln eines Pixels keine weiteren Subpixel eines anderen Pixels

angeordnet sind.

Die Subpixel sind dazu eingerichtet, separat voneinander angesteuert zu werden. Insbesondere können einzelne Subpixel mittels der Ansteuerschaltung separat angesteuert und

betrieben werden. Beispielsweise ist die Intensität des emittierten Lichts eines Subpixels separat von der Intensität des emittierten Lichts weiterer Subpixel einstellbar.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist der Subpixel erster Art dazu eingerichtet, Licht eines weißen Farbortes zu emittieren und der Subpixel zweiter Art dazu eingerichtet, Licht eines nicht weißen Farbortes zu emittieren.

Beispielsweise ist der Subpixel erster Art dazu eingerichtet, Licht eines warmweißen oder kaltweißen Farbortes zu emittieren. Warmweißes Licht weist eine Farbtemperatur von maximal 3300 Kelvin auf und kaltweißes Licht weist eine

Farbtemperatur von mindestens 3300 Kelvin auf. Der Subpixel zweiter Art kann dazu eingerichtet sein Licht eines roten, grünen oder blauen Farbortes zu emittieren.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform umfasst die

Beleuchtungseinrichtung ein zur Erzeugung von Licht

vorgesehenes Halbleiterbauelement und eine Ansteuerschaltung, wobei im Betrieb des Halbleiterbauelements abgestrahltes Licht ein Sichtfeld beleuchtet, das Sichtfeld in eine

Vielzahl von Bereichen unterteilt ist, das

Halbleiterbauelement eine Vielzahl von Pixeln aufweist, die jeweils zur Beleuchtung eines Bereichs des Sichtfelds

vorgesehen sind, die Pixel jeweils zumindest einen Subpixel erster Art und einen Subpixel zweiter Art aufweisen, wobei der Subpixel erster Art dazu eingerichtet ist Licht eines weißen Farbortes zu emittieren und der Subpixel zweiter Art dazu eingerichtet ist Licht eines nicht-weißen Farbortes zu emittieren .

Einer hier beschriebenen Beleuchtungseinrichtung liegen dabei unter anderem die folgenden Überlegungen zugrunde. Zur

Beleuchtung eines Sichtfeldes im Objektraum wird ein

lichtemittierendes Bauelement verwendet, welches dazu

eingerichtet ist, das gesamte Sichtfeld mit Licht zu

beleuchten. Insbesondere wird mittels der

Beleuchtungseinrichtung das gesamte Sichtfeld mit Licht eines gemeinsamen Wellenlängenbereichs und einer homogenen

Intensität beleuchtet.

Die hier beschriebene Beleuchtungseinrichtung macht nun unter anderem von der Idee Gebrauch, das Sichtfeld in mehrere

Bereiche zu unterteilen, die mittels der

Beleuchtungseinrichtung jeweils unabhängig voneinander beleuchtbar sind. Insbesondere ist die

Beleuchtungseinrichtung dazu eingerichtet, die einzelnen Bereiche mittels Lichts unterschiedlicher Pixel separat voneinander zu beleuchten. Mittels der Subpixel eines jeden Pixels sind der Farbort und die Intensität des emittierten Lichts eines jeden Pixels separat einstellbar, sodass die separat voneinander mit Licht eines vorgebbaren Farbortes und einer vorgebbaren Helligkeit beleuchtbar sind.

Vorteilhafterweise kann mittels der Beleuchtungseinrichtung die Helligkeit und der Farbort einzelner Bereiche in einem Sichtfeld angepasst werden, sodass das Sichtfeld eine

optimale Beleuchtung aufweist um mittels des Sensors einer Kamera erfasst zu werden. Insbesondere können mittels der Beleuchtungseinrichtung einzelne Bereiche durch Anpassung der Beleuchtungsstärke und des Farbortes im Sichtfeld

hervorgehoben werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung sind die Pixel in einer lateralen Ebene in einer zweidimensionalen Matrixanordnung angeordnet. Beispielsweise sind die Pixel an den Knotenpunkten eines regelmäßigen Rechteckgitters in der lateralen Ebene

nebeneinander angeordnet. Insbesondere sind die Subpixel in der gleichen lateralen Ebene nebeneinander angeordnet.

Beispielsweise sind die Pixel in einer zweidimensionalen Matrix angeordnet, deren Seitenverhältnis dem

Seitenverhältnis des Sichtfeldes entspricht.

Vorteilhafterweise sind die Pixel des Halbleiterbauelements besonders platzsparend angeordnet, so dass die

Beleuchtungseinrichtung eine besonders kompakte Bauform aufweist. Darüber hinaus kann das von den Pixeln emittierte Licht besonders effizient in einzelne Bereiche im Sichtfeld gelenkt werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung umfasst das Halbleiterbauelement maximal 128 Pixel. Insbesondere umfasst das

Halbleiterbauelement maximal eine Anzahl von 100 Pixeln.

Jeder Pixel, insbesondere jeder Subpixel, weist zumindest einen elektrischen Kontakt auf, über den dieser Pixel, insbesondere Subpixel, einzeln elektrisch ansteuerbar ist.

Vorteilhafterweise weist ein Halbleiterbauelement mit einer derart vorgegebenen maximalen Anzahl von Pixeln eine

vereinfachte Ansteuerbarkeit auf.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung weist ein Pixel in einer lateralen Richtung eine minimale laterale Ausdehnung von 100 ym auf.

Insbesondere weist ein Pixel in einer lateralen Richtung eine minimale laterale Ausdehnung von 140 ym auf.

Vorteilhafterweise ermöglicht eine derart große laterale Ausdehnung einzelner Pixel eine besonders hohe

Beleuchtungsstärke einzelner Bereiche des Sichtfeldes.

Insbesondere wird in lateraler Richtung die Fläche des lichtemittierenden Halbleiterbauelements besonders effizient genutzt, da Bereiche, in denen unterschiedliche Pixel aneinander grenzen, minimiert werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung sind Subpixel unterschiedlicher Art mittels unterschiedlicher Halbleitermaterialien gebildet.

Beispielsweise sind die Subpixel unterschiedlicher Art separat voneinander mittels unterschiedlicher

Herstellungsprozesse hergestellt. Beispielsweise wird in den aktiven Zonen der Subpixel jeweils elektromagnetische

Strahlung eines Farborts erzeugt, welcher im

bestimmungsgemäßen Betrieb von dem jeweiligen Subpixel emittiert werden soll. Vorteilhafterweise wird dabei auf ein Konversionsmittel, welches in der aktiven Zone erzeugtes Licht in Licht einer anderen Wellenlänge konvertiert, verzichtet, so dass das Halbleiterbauelement besonders effizient elektromagnetische Strahlung emittiert.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung weisen Subpixel unterschiedlicher Art unterschiedliche Konversionselemente auf und sind mit einem gleichen Halbleitermaterial gebildet. Beispielsweise sind die Subpixel unterschiedlicher Art in einem gemeinsamen

Herstellungsprozess hergestellt, so dass in der aktiven Zone eines jeden Subpixels Licht eines gleichen Farbortes erzeugt wird. Subpixel unterschiedlicher Art können unterschiedliche Konversionselemente nachgeordnet sein, so dass das in den aktiven Zonen erzeugte Licht auf das dem jeweiligen Subpixel zugeordnete Konversionselement trifft und zumindest einen Teil des erzeugten Lichts in Licht eines anderen

Wellenlängenbereichs umwandelt. Insbesondere wird mittels unterschiedlicher Konversionselemente das in dem Subpixel erzeugte Licht in Licht eines anderen Wellenlängenbereichs umgewandelt. Vorteilhafterweise weisen die Subpixel, welche mit einem gleichen Halbleitermaterial gebildet sind,

besonders ähnliche elektrooptische Eigenschaften auf, so dass diese besonders vereinfacht ansteuerbar sind. Weiter können die Subpixel, welche mit einem gleichen Halbleitermaterial gebildet sind, besonders nah nebeneinander angeordnet sein, sodass in lateraler Richtung die Fläche des

Halbleiterbauelements besonders effizient genutzt wird.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung weisen die Konversionselemente senkrecht zur lateralen Ebene eine Dicke von zumindest 60 ym und von maximal 100 ym auf. Bevorzugt weisen die

Konversionselemente eine Dicke von zumindest 70 ym und maximal 80 ym auf. Beispielsweise wird das in den aktiven Zonen erzeugte Licht zumindest teilweise beim Durchlaufen der Konversionselemente gestreut, so dass mittels der

Konversionselemente für einen Betrachter des

Konversionselements das Kontrastverhältnis zwischen

benachbarten Subpixeln reduziert wird. Vorteilhafterweise ermöglicht ein streuendes Konversionselement eine verbesserte Durchmischung des Lichts, welches von Subpixeln eines Pixels emittiert wird. Weiter führen die streuenden

Konversionselemente zu einem fließenderen Übergang der

Beleuchtungsstärke und des Farbortes benachbarter Pixel.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung umfasst ein Pixel einen Subpixel dritter Art und einen Subpixel vierter Art, wobei der

Subpixel dritter Art dazu eingerichtet ist,

elektromagnetische Strahlung eines weiteren weißen Farbortes zu emittieren, und der Subpixel vierter Art dazu eingerichtet ist, elektromagnetische Strahlung eines weiteren, nicht weißen Farbortes zu emittieren. Beispielsweise ist der weitere weiße Farbort nicht der gleiche Farbort wie der weiße Farbort. Insbesondere handelt es sich bei dem weißen Farbort um einen warmweißen Farbort und bei dem weiteren weißen

Farbort um einen kaltweißen Farbort. Beispielsweise sind der nicht weiße Farbort und der weitere nicht weiße Farbort unterschiedliche Farborte. Insbesondere ist der nicht weiße Farbort ein Farbort im roten Wellenlängenbereich und der weitere nicht weiße Farbort ein Farbort im blauen

Wellenlängenbereich .

Beispielsweise emittiert ein Pixel Mischlicht des Subpixels erster Art, des Subpixels zweiter Art, des Subpixels dritter Art und/oder des Subpixels vierter Art emittiert.

Vorteilhafterweise kann mittels der Subpixel

unterschiedlicher Art, welche einem Pixel zugeordnet sind,

Mischlicht eines vorgebbaren Farbortes und einer vorgebbaren Intensität emittiert werden. Insbesondere wird das Licht unterschiedlicher Pixel in dem Sichtfeld in unterschiedliche Bereiche gelenkt. Insbesondere wird das Licht von Subpixeln eines gemeinsamen Pixels als Mischlicht in einen gemeinsamen Bereich des Sichtfeldes gelenkt. Vorteilhafterweise kann das Sichtfeld mittels der weißen und der weiteren weißen Subpixel mittels warmweißem beziehungsweise kaltweißem Licht

beleuchtet werden. Darüber hinaus können mittels der Pixel, welche Licht eines nicht weißen Farbortes emittieren, einzelne Farbtöne in Bereichen des Sichtfelds hervorgehoben werden .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung unterscheidet sich eine mittels der Beleuchtungseinrichtung erzeugte Beleuchtungsstärke in zueinander benachbarten Bereichen maximal um den Faktor 1,5. Bevorzugt unterscheidet sich eine mittels der

Beleuchtungseinrichtung erzeugte Beleuchtungsstärke in zueinander benachbarten Bereichen maximal um den Faktor 1,2. Beispielsweise weisen die Pixel streuende Konversionselemente und/oder lichtstreuende Elemente auf, welche das von Pixeln emittierte Licht streuen. Vorteilhafterweise wirken

benachbarte Bereiche homogen ausgeleuchtet und weisen bei einem Übergang von einem zu einem anderen Bereich keine sprunghafte Veränderung des Farbortes und/oder der Helligkeit auf .

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung ist zwischen dem Halbleiterbauelement und der Ansteuerschaltung ein Zwischenträger angeordnet, über den das Halbleiterbauelement mit der Ansteuerschaltung elektrisch verbunden ist. Beispielsweise umfasst der

Zwischenträger elektrische Kontakte und Leiterbahnen, über welche die Ansteuerschaltung und Halbleiterbauelement

elektrisch leitend miteinander verbunden sind. Insbesondere dient der Zwischenträger als mechanisch tragende Komponente. Vorteilhafterweise können das Halbleiterbauelement und die

Ansteuerschaltung separat voneinander gefertigt sein und vor der mechanischen und elektrischen Verbindung separat getestet werden. Somit wird bei der Herstellung die Ausbeute

defektfreier Beleuchtungseinrichtungen erhöht.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der

Beleuchtungseinrichtung umfasst die Beleuchtungseinrichtung ein optisches Element, wobei das optische Element Licht von Subpixeln unterschiedlicher Art eines Pixels in einen

gleichen Bereich des Sichtfeldes lenkt, und das optische Element in jeden Bereich Licht von zumindest einem Pixel lenkt. Die einzelnen Bereiche des Sichtfeldes können

beispielsweise separat voneinander mittels Betreibens

einzelner Pixel beleuchtet werden. Beispielsweise wird der zu beleuchtende Bereich mit Mischlicht der einzelnen Subpixel beleuchtet, so dass der Farbort und die Beleuchtungsstärke des Lichts, mit dem die einzelnen Bereiche beleuchtet werden, mittels separaten Betreibens der Subpixel einstellbar sind.

Vorteilhafterweise ermöglicht das separate Betreiben

einzelner Subpixel das Einstellen des Farborts und/oder der Beleuchtungsstärke in jedem Bereich und das separate

Betreiben einzelner Pixel das Beleuchten einzelner Bereiche im Sichtfeld.

Es wird des Weiteren ein Verfahren zum Betreiben einer

Beleuchtungseinrichtung angegeben. Mit dem Verfahren kann insbesondere eine hier beschriebene Beleuchtungseinrichtung betrieben werden. Das heißt, sämtliche für die

Beleuchtungseinrichtung offenbarten Merkmale sind auch für das Verfahren offenbart und umgekehrt.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben der Beleuchtungseinrichtung werden die Bereiche separat voneinander mittels Licht eines vorgebbaren Farbortes und einer vorgebbaren Helligkeit beleuchtet. Die Bereiche können insbesondere gleichzeitig mit Licht unterschiedlicher Helligkeit und/oder eines unterschiedlichen Farbortes

beleuchtet werden. Beispielsweise werden die Pixel der

Beleuchtungseinrichtung separat voneinander betrieben, so dass einzelne Bereiche des Sichtfeldes mit einer vorgebbaren Beleuchtungsstärkte beleuchtet werden. Insbesondere werden einzelne Subpixel der Beleuchtungseinrichtung separat

voneinander betrieben, so dass der Farbort des Lichts, mit dem die einzelnen Bereiche beleuchtet werden, einstellbar ist. Vorteilhafterweise werden mittels einer derartigen

Beleuchtung einzelne Bereiche im Sichtfeld gegenüber anderen Bereichen mittels einer erhöhten Helligkeit oder einer farblich akzentuierten Beleuchtung hervorgehoben. Alternativ können Bereiche, welche relativ zu anderen Bereichen eine geringere Helligkeit oder einen unterschiedlichen Farbort aufweisen, mittels der Beleuchtung an die anderen Bereiche angeglichen werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung werden die Pixel mit einer Stromdichte von zumindest 10 mA/mm2 betrieben, wobei der Strom nicht gepulst ist. Beispielsweise werden die Pixel mit einer Stromdichte betrieben, welche zu einer Erwärmung des Halbleiterbauelements führt. Insbesondere ist die in Wärme umgewandelte elektrische Energie in einem Pixel größer als die Wärme, welche im Betrieb des Halbleiterbauelements abgeleitet werden kann. Somit können die Pixel des

Halbleiterbauelements nur für eine vorgegebene Zeitspanne betrieben werden, ohne dass das Halbleiterbauelement eine bestimmungsgemäße Betriebstemperatur übersteigt.

Beispielsweise kann das Halbleiterbauelement bei dem

bestimmungsgemäßen Betrieb aller Pixel maximal eine Sekunde, insbesondere maximal 0,5 Sekunden, betrieben werden, ohne dass die bestimmungsgemäße Betriebstemperatur überstiegen wird. Insbesondere ist die Beleuchtungseinrichtung dazu eingerichtet, als Blitzlicht betrieben zu werden, wobei die einzelnen Pixel mit einer Stromdichte von zumindest 10 mA/mm2 betrieben werden.

Beispielsweise ist der Strom mit dem die Pixel des

Halbleiterbauelements betrieben werden nicht gepulst.

Insbesondere wird das Halbleiterbauelement nicht mittels eines pulsweitenmodulierten (abgekürzt: PWM) Signals

angesteuert. Insbesondere werden die Pixel mit einem Strom betrieben, dessen Modulationsfrequenz maximal 10 Hertz, bevorzugt maximal 3 Hertz, beträgt. In diesem Zusammenhang bedeutet „nicht gepulst", dass der Strom mit dem die Pixel betrieben werden, keine kontinuierliche Puls-Modulation aufweist. Vorteilhafterweise kann das Halbleiterbauelement mit besonders hohen Stromdichten betrieben werden, so dass eine besonders hohe Beleuchtungsstärke erreicht wird.

Insbesondere werden die Pixel mit einem kontinuierlichen Strom betrieben, so dass die Beleuchtungsstärke des

Sichtfeldes während einer Messung mittels eines Sensors nicht fluktuiert. Beispielsweise kann es sich bei dem Sensor um einen CCD-Chip oder einen CMOS-Chip handeln, welcher

zeilenweise ausgelesen wird. Vorteilhafterweise wird mittels der Beleuchtungseinrichtung das Sichtfeld mit einer

konstanten Beleuchtungsstärke beleuchtet, welche während des Auslesens der einzelnen Zeilen des Sensors nicht variiert.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben der Beleuchtungseinrichtung wird das Sichtfeld auf einem Sensor abgebildet, und Farbort und/oder Helligkeit des Lichts, mit dem ein Bereich beleuchtet wird, hängen von dem mittels des Sensors detektierten Farbort und/oder der mittels des Sensors detektierten Helligkeit dieses Bereichs ab.

Beispielsweise handelt es sich bei dem Sensor um einen CCD-oder CMOS-Sensor, welcher dazu eingerichtet ist, Helligkeiten und Farborte zu messen. Mittels einer optischen Vorrichtung wird das Sichtfeld auf dem Sensor abgebildet. Der Sensor überträgt beispielsweise gemessene Helligkeits- und Farbwerte an die Ansteuerschaltung. Beispielsweise werden mittels der Ansteuerschaltung Farborte und/oder Helligkeiten einzelner Bereiche ermittelt. Insbesondere kann die Ansteuerschaltung die ermittelten Werte der Farborte und/oder Helligkeiten an einen externen Prozessor übertragen, welcher beispielsweise dazu eingerichtet ist Rechenoperationen durchzuführen.

Mittels des externen Prozessors können beispielsweise die Helligkeits- und/oder Farbwerte innerhalb einzelner Bereiche gemittelt werden oder die Differenzen von Helligkeits- und Farbwerten unterschiedlicher Bereiche berechnet werden. Die den Bereichen zugeordneten Pixel können anschließend abhängig von den ermittelten Werten der Farborte und/oder Helligkeiten mittels der Ansteuervorrichtung angesteuert werden.

Vorteilhafterweise wird mittels dieses Verfahrens der Betrieb der Beleuchtungseinrichtung auf das Sichtfeld angepasst, so dass einzelne Bereiche des Sichtfelds verstärkt mittels eines Lichts eines bestimmten Farborts oder einer bestimmten

Helligkeit beleuchtet werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung ist die

Beleuchtungsstärke mittels der Beleuchtungseinrichtung in einem Bereich umso größer, je geringer die mittels des

Sensors detektierte Helligkeit dieses Bereichs ist. Die

Bereiche können abhängig von der in diesen Bereichen

detektierten Helligkeit beleuchtet werden. Beispielsweise wird mittels des Betreibens der einem Bereich zugeordneten Pixel gezielt die Beleuchtungsstärke erhöht, sodass die

Beleuchtungsstärke umso größer ist, je geringer die in diesem Bereich gemessene Helligkeit ist. Insbesondere kann mittels des Erhöhens der Beleuchtungsstärke in einem Bereich die mittels des Sensors gemessene Helligkeit des Bereichs erhöht werden. Vorteilhafterweise können Bereiche mit geringer

Helligkeit separat beleuchtet werden, ohne Bereiche mit ausreichender Helligkeit zusätzlich zu beleuchten, sodass die Helligkeit im Sichtfeld insgesamt homogenisiert wird.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung wird mittels des

Sensors der Farbort eines Bereichs detektiert und mittels der Beleuchtungseinrichtung dieser Bereich mit Licht eines innerhalb eines Toleranzbereichs gleichen Farbortes

beleuchtet. Beispielsweise weicht der gemittelte Farbort des Bereichs um höchstens ± 0,01 Cx und ± 0,01 Cy von dem Farbort des Lichts der Beleuchtungseinrichtung in diesem Bereich ab. Vorteilhafterweise werden mittels dieses Verfahrens bereits vorhandene Farbtöne im Sichtfeld hervorgehoben, so dass ein besonders intensiver Farbeindruck entsteht.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung wird mittels des Sensors ein roter, grüner und blauer Farbanteil des Farbortes eines Bereichs detektiert und mittels der

Beleuchtungseinrichtung dieser Bereich mit Licht im roten, grünen und/oder blauen Wellenlängenbereich beleuchtet, wobei die Beleuchtungsstärke mit Licht eines Wellenlängenbereichs der Beleuchtungseinrichtung in diesem Bereich umso größer ist, je geringer der mittels des Sensors detektierte

Farbanteil in diesem Bereich ist.

Beispielsweise werden die Subpixel des lichtemittierenden Halbleiterbauelements abhängig von dem Farbort, welcher in einem Bereich mittels des Sensors detektiert wird, betrieben. Insbesondere werden die Subpixel derart betrieben, dass ein Bereich mittels Licht beleuchtet wird, welches einen

dominanten Farbanteil aufweist. Dabei weist Licht mit einem dominanten Farbanteil eine besonders hohe Intensität in einem nicht weißen Wellenlängenbereich auf, sodass das Licht einen nicht weißen Farbort aufweist. Insbesondere weist das Licht mit dem dominanten Farbanteil einen roten, grünen oder blauen Farbort auf. Beispielsweise kann mittels der Beleuchtung eines Bereichs mit Licht, welches einen dominanten Farbanteil aufweist, dieser Farbanteil in dem Bereich erhöht werden. Somit können Farbanteile, welche relativ zu anderen

Farbanteilen innerhalb eines Bereichs weniger vorhanden sind, mittels der Beleuchtungseinrichtung erhöht werden.

Vorteilhafterweise werden mittels eines derartigen Verfahrens schwach vorhandene Farbanteile im Sichtfeld in einzelnen Bereichen erhöht, sodass ein besonders homogener Farbeindruck innerhalb des Sichtfeldes erzeugt wird.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung wird in einem

Verfahrensschritt A mittels des Sensors eine erste Abbildung des Sichtfeldes aufgenommen, wobei das Sichtfeld nicht oder nicht mit voller Leistung der Beleuchtungseinrichtung

beleuchtet wird. Beispielsweise wird die erste Abbildung mit einer besonders langen Integrationszeit, von beispielsweise zumindest 0,5 Sekunden, aufgenommen. Insbesondere wird die erste Abbildung mit maximal 70, bevorzugt maximal 50 Prozent, der maximalen Beleuchtungsstärke der Beleuchtungseinrichtung belichtet, während mittels des Sensors die erste Abbildung aufgenommen wird.

Weiter werden in einem Verfahrensschritt B anhand der ersten Abbildung erste Istwerte der Bereiche des Sichtfeldes

ermittelt und den Bereichen Sollwerte zugeordnet. Die

Istwerte der Bereiche, welche anhand der ersten Abbildung des Sichtfeldes ermittelt werden, umfassen beispielsweise einen Helligkeitswert und einen Farbort eines jeden Bereichs.

Insbesondere umfassen die Istwerte jeweils einen über den Bereich gemittelten Helligkeitswert und einen über den

Bereich gemittelten Farbort. Weiter werden den einzelnen Bereichen Sollwerte zugeordnet, welche jeweils einen

Helligkeitswert und einen Farbort umfassen. Insbesondere wird den Bereichen ein Sollwertebereich zugeordnet, welcher einen Wertebereich für die Helligkeit und den Farbort umfasst.

In einem Verfahrensschritt C wird mittels des Sensors eine zweite Abbildung aufgenommen, wobei das Sichtfeld mittels der Beleuchtungseinrichtung beleuchtet wird, so dass die

Differenz zwischen zweiten Istwerten der zweiten Abbildung und Sollwerten der Bereiche minimiert wird. Insbesondere wird bei der Aufnahme der zweiten Abbildung die gleiche Region des Objektraums wie bei der ersten Abbildung aufgenommen.

Während der Aufnahme der zweiten Abbildung wird das Sichtfeld mittels der Beleuchtungseinrichtung beleuchtet. Bei der

Aufnahme der zweiten Abbildung weist das Sichtfeld in den Bereichen zweite Istwerte auf, die mittels des Sensors erfasst werden können und an die Ansteuervorrichtung

übertragen werden können. Insbesondere wird das Sichtfeld während der Aufnahme der zweiten Abbildung derart beleuchtet, dass die Differenz zwischen Istwerten und Sollwerten eines jeden Bereichs minimiert wird.

Beispielsweise werden die einzelnen Bereiche mittels der Beleuchtungseinrichtung derart beleuchtet, dass die zweiten Istwerte innerhalb des Sollwertebereichs liegen.

Vorteilhafterweise ermöglicht ein derartiges Betreiben der Beleuchtungseinrichtung eine besonders effiziente Beleuchtung des Sichtfeldes, wobei alle Bereiche eine optimale

Ausleuchtung aufweisen. Eine optimale Ausleuchtung ist beispielsweise dann erreicht, wenn der Sensor keine

überbelichteten und keine unterbelichteten Bereiche aufweist.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung wird im

Verfahrensschritt A das Sichtfeld mit elektromagnetischer Strahlung im infraroten Wellenlängenbereich beleuchtet, und im infraroten Wellenlängenbereich das Sichtfeld auf einem Infrarotdetektor abgebildet. Weiter werden im

Verfahrensschritt B anhand der Abbildung im infraroten

Wellenlängenbereich die ersten Istwerte der Bereiche des Sichtfeldes ermittelt. Beispielsweise ist der

Infrarotdetektor ein von dem Sensor separater Detektor, auf welchem mittels einer weiteren abbildenden Optik das

Sichtfeld abgebildet ist. Im Verfahrensschritt A kann das Sichtfeld mit Infrarotstrahlung beleuchtet werden, wobei beispielsweise alle Bereiche gleichzeitig mit

Infrarotstrahlung beleuchtet werden. Insbesondere werden alle Bereiche von einem gemeinsamen Infrarotstrahlung

emittierenden Bauteil beleuchtet, wobei die

Beleuchtungsstärke der einzelnen Bereiche mittels des

Infrarotstrahlung-emittierenden Bauteils nicht separat einstellbar ist.

Insbesondere werden anhand der Abbildung im infraroten

Wellenlängenbereich die ersten Istwerte ermittelt, wobei der Istwert eines jeden Bereichs einen Intensitätswert im

infraroten Wellenlängenbereich umfasst. Beispielsweise werden im bestimmungsgemäßen Betrieb der Beleuchtungseinrichtung Bereiche deren erster Istwert eine besonders hohe Intensität im infraroten Wellenlängenbereich aufweist im

Verfahrensschritt B mit einer besonders hohen

Beleuchtungsstärke im sichtbaren Wellenlängenbereich und/oder selektiv mit Licht eines warmweißen Farbortes beleuchtet. Vorteilhafterweise kann mittels eines derartigen Verfahrens beispielsweise ein Mensch innerhalb des Sichtfeldes gezielt beleuchtet werden.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betreiben einer Beleuchtungseinrichtung umfasst ein Istwert eine Ist-Helligkeit und einen Ist-Farbort, und ein Sollwert eine Soll-Helligkeit und/oder einen Soll-Farbort.

Insbesondere umfasst ein Istwert zusätzlich einen

Intensitätswert im infraroten Wellenlängenbereich.

Beispielsweise werden die Verfahrensschritte B und C mehrfach hintereinander durchgeführt, so dass mit jedem Aufnehmen einer Abbildung die Differenz zwischen Ist- und Sollwerten reduziert wird. Insbesondere werden Bereiche, in denen eine Beleuchtung mittels der Beleuchtungseinrichtung keinen

Einfluss auf Istwerte hat oder nur einen geringen Einfluss auf Istwerte hat, bei der Aufnahme einer nächsten Abbildung nicht betrieben. Vorteilhafterweise kann somit die

Beleuchtungseinrichtung besonders effizient betrieben werden.

Weitere Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen und

Weiterbildungen der Beleuchtungseinrichtung und des

Verfahrens zum Betreiben der Beleuchtungseinrichtung ergeben sich aus den folgenden, in Zusammenhang mit den Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen .

Es zeigen die Figuren 1, 2A, 2B, 2C und 2D

Ausführungsbeispiele eines lichtemittierenden

Halbleiterbauelements einer hier beschriebenen

Beieuchtungseinrichtung .

Es zeigen die Figuren 3, 4A und 4B Ausführungsbeispiele einer Beieuchtungseinrichtung .

Gleiche, gleichartige oder gleich wirkende Elemente sind in den Figuren mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Die Figuren und die Größenverhältnisse der in den Figuren

dargestellten Elemente untereinander sind nicht als

maßstäblich zu betrachten. Vielmehr können einzelne Elemente zur besseren Darstellbarkeit und/oder für eine bessere

Verständlichkeit übertrieben groß dargestellt sein.

Die Figur 1 zeigt eine schematische Draufsicht auf eine laterale Ebene eines Halbleiterbauelements 10 einer hier beschriebenen Beleuchtungseinrichtung 1 gemäß eines ersten Ausführungsbeispiels. Das Halbleiterbauelement 10 umfasst vorliegend vier Pixel 100, die jeweils mit einem Subpixel erster Art 101, einem Subpixel zweiter Art 102, einem

Subpixel dritter Art 103 und einem Subpixel vierter Art 104 gebildet sind. Die Pixel 100 des lichtemittierenden

Halbleiterbauelements 10 sind in der lateralen Ebene an den Knotenpunkten eines regelmäßigen Rechteckgitters

nebeneinander angeordnet. Die Subpixel 101, 102, 103, 104 aller Pixel 100 sind in der lateralen Ebene nebeneinander an den Knotenpunkten eines regelmäßigen Rechteckgitters

angeordnet. Insbesondere sind die Subpixel 101, 102, 103, 104 eines Pixels 100 benachbart zueinander angeordnet. Benachbart zueinander angeordnet heißt in diesem Zusammenhang, dass zwischen zwei zueinander benachbart angeordneten Subpixeln 101, 102, 103, 104 eines Pixels 100 kein weiterer Subpixel 101, 102, 103, 104 eines anderen Pixels 100 in der lateralen Ebene angeordnet ist.

Jeder Subpixel 101, 102, 103, 104 umfasst eine aktive Zone, welche dazu eingerichtet ist, im bestimmungsgemäßen Betrieb elektromagnetische Strahlung, insbesondere Licht, zu

erzeugen. Die einzelnen Subpixel können separat voneinander angesteuert werden. Insbesondere sind Subpixel

unterschiedlicher Art 101, 102, 103, 104 dazu eingerichtet Licht eines unterschiedlichen Farbortes zu erzeugen und in einer Richtung quer zur lateralen Ebene zu emittieren.

Insbesondere sind Subpixel erster Art 101 dazu eingerichtet, Licht eines warmweißen Farbortes zu emittieren. Insbesondere sind Subpixel zweiter Art 102 dazu eingerichtet Licht eines kaltweißen Farbortes zu emittieren. Insbesondere sind

Subpixel dritter Art 103 dazu eingerichtet, Licht im roten Wellenlängenbereich zu emittieren. Insbesondere sind Subpixel vierter Art 104 dazu eingerichtet, Licht im blauen

Wellenlängenbereich zu emittieren. Beispielsweise weist ein Pixel 100 in lateralen Richtungen eine minimale laterale Ausdehnung von 100 ym, insbesondere 140 ym, auf.

Die Figur 2A zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10, welches

elektrisch leitend mit einer Ansteuerschaltung 60 verbunden ist. Insbesondere umfasst das lichtemittierende

Halbleiterbauelement 10 eine Vielzahl von Pixeln 100, die einzeln elektrisch leitend mit der Ansteuerschaltung 60 verbunden sind. Beispielsweise sind die Pixel 100 separat voneinander mittels der Ansteuerschaltung 60 betreibbar.

Insbesondere umfasst jeder Pixel 100 zumindest einen Subpixel erster Art 101 und einen Subpixel zweiter Art 102, wobei Subpixel unterschiedlicher Art eines Pixels 100 separat voneinander mittels der Ansteuerschaltung 60 ansteuerbar sind. Die Ansteuerschaltung 60 ist beispielsweise ein

Halbleiterchip, welcher dazu eingerichtet ist, das

Halbleiterbauelement 10 im bestimmungsgemäßen Betrieb

anzusteuern und zu bestromen. Insbesondere handelt es sich bei der Ansteuerschaltung 60 um einen integrierten

Schaltkreis (Englisch: Integrated Circuit).

Die Figur 2B zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10, eines

Zwischenträgers 61 und einer Ansteuerschaltung 60. Das

Halbleiterbauelement 10 umfasst einen Subpixel erster Art 101, einen Subpixel zweiter Art 102 und einen Subpixel dritter Art 103. Die Subpixel sind mittels separat

voneinander hergestellten Halbleiterstrukturen gebildet, welche dazu eingerichtet sind, jeweils Licht L

unterschiedlicher Wellenlängenbereiche zu erzeugen. Die

Subpixel 101, 102 und 103 sind Teil eines Pixels 100 eines lichtemittierenden Halbleiterbauteils 10. Das

lichtemittierende Halbleiterbauteil 10 ist mittels des

Zwischenträgers 61 mit der Ansteuerschaltung 60 mechanisch und elektrisch leitend verbunden. Insbesondere umfasst der Zwischenträger 61 eine Umverdrahtungsstruktur 611, mittels der die elektrischen Kontakte der einzelnen Subpixel 101, 102 und 103 elektrisch leitend mit der Ansteuerschaltung 60 verbunden sind. Insbesondere weist jeder Subpixel 101, 102, 103 einen Ground-Kontakt G auf, welcher über eine gemeinsame elektrische Leitung der Umverdrahtungsstruktur 611 mit der Ansteuerschaltung 60 verbunden ist. Über einen weiteren

Kontakt K eines jeden Subpixels 101, 102, 103 sind diese jeweils separat voneinander betreibbar.

Die Figur 2C zeigt eine schematische Schnittdarstellung eines hier beschriebenen lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10 und einer Ansteuerschaltung 60. Das lichtemittierende Halbleiterbauelement 10 umfasst einen Subpixel erster Art 101, einen Subpixel zweiter Art 102 und einen Subpixel dritter Art 103. Jeder Subpixel ist mit einem ersten

leitenden Bereich 1100, einem zweiten leitenden Bereich 1200 und einer aktiven Zone 1300 gebildet. Im bestimmungsgemäßen Betrieb werden die Subpixel jeweils über den ersten leitenden Bereich 1100 und über den zweiten leitenden Bereich 1200 bestromt, so dass in der aktiven Zone 1300 Licht erzeugt wird. Insbesondere emittieren die Subpixel 101, 102, 103 im bestimmungsgemäßen Betrieb Licht L durch die der

Ansteuerschaltung 50 abgewandte Seite. Die einzelnen Subpixel 101, 102, 103 sind beispielsweise in einem gemeinsamen

Herstellungsverfahren hergestellt und weisen eine gleiche Materialzusammensetzung und einen gleichen Schichtaufbau auf. Insbesondere wird in den aktiven Zonen 1300 von Subpixeln unterschiedlicher Art 101, 102, 103 Licht L eines gleichen Farbortes erzeugt.

Das lichtemittierende Halbleiterbauelement 10 ist mechanisch fest mit der Ansteuerschaltung 60 verbunden. Insbesondere ist die Ansteuerschaltung 60 mit einem Halbleitermaterial

gebildet und mittels eines Bondverfahrens oder eines

Lötverfahrens mit dem lichtemittierenden Halbleiterbauelement 10 verbunden. Beispielsweise sind die Ansteuerschaltung 60 und das lichtemittierende Halbleiterbauelement 10

Stoffschlüssig miteinander verbunden, so dass die Verbindung nur unter Zerstörung des Halbleiterbauelements 10 oder der Ansteuerschaltung 60 gelöst werden kann. Die

Ansteuerschaltung 60 weist eine Vielzahl von Transistoren 600 auf, mittels denen die einzelnen Subpixel des

lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10 angesteuert werden können. Insbesondere ist jeder Subpixel 101, 102, 103 über einen ersten Kontakt 601 elektrisch leitend mit einem Transistor 600 verbunden. Weiter weist die Ansteuerschaltung 60 einen zweiten Kontakt 602 auf, mittels dem alle Subpixel des lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10 elektrisch leitend kontaktiert sind.

Auf der der Ansteuerschaltung 60 abgewandten Seite des lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10 sind

Konversionselemente 110, 120, 130 angeordnet. Insbesondere ist dem , Subpixel erster Art 101 in Abstrahlrichtung ein erstes Konversionselement 110 nachgeordnet, dem Subpixel zweiter Art 102 in Abstrahlrichtung ein zweites

Konversionselement 120 nachgeordnet und dem Subpixel dritter Art in Abstrahlrichtung ein drittes Konversionselement 130 nachgeordnet. Beispielsweise sind die Konversionselemente 110, 120, 130 dazu eingerichtet, das in der aktiven Zone 1300 erzeugte Licht L eines jeden Subpixels zumindest teilweise in Licht L eines anderen Wellenlängenbereichs umzuwandeln.

Insbesondere sind erste, zweite und dritte

Konversionselemente dazu eingerichtet, in den Subpixeln unterschiedlicher Art 101, 102, 103 erzeugtes Licht in Licht unterschiedlicher Wellenlängenbereiche zu konvertieren.

Der erste leitende Bereich 1100, der zweite leitende Bereich 1200 und die aktive Zone 1300 unterschiedlicher Subpixel sind mittels Trenngräben 800 vollständig durchtrennt.

Beispielsweise sind die Trenngräben mittels eines

lithographischen Verfahrens oder einer

Laserschneideverfahrens hergestellt .

Die Figur 2D zeigt die Schnittansicht eines

lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10 und einer

Ansteuerstruktur 60, wobei im Unterschied zu dem in Figur 2C gezeigten Ausführungsbeispiel der leitende Bereich erster Art 1100, der leitende Bereich zweiter Art 1200 und die aktive Zone 1300 nicht durch einen Trenngraben 800 durchtrennt sind. Insbesondere sind mehrere Subpixel unterschiedlicher Art 101, 102, 103 mit einer aktiven Zone 1300 gebildet, welche nicht durchtrennt ist. Beispielsweise wird die laterale Ausdehnung eines Subpixels mittels der lateralen Ausdehnung der ersten Kontaktstruktur 601 und der lateralen Ausdehnung des dem jeweiligen Subpixel nachgeordneten Konversionselement

definiert. Insbesondere sind Subpixel unterschiedlicher Art mit einem gleichen Halbleitermaterial gebildet und weisen unterschiedliche Konversionselemente auf. Insbesondere weisen erste Konversionselemente 110, zweite Konversionselemente 120, und/oder dritte Konversionselemente 130 senkrecht zur lateralen Ebene eine Dicke D von zumindest 60 ym und von maximal 100 ym auf. Insbesondere wird das Licht L in den

Konversionselementen 110, 120, 130 gestreut, sodass sich die Intensität des von benachbarten Pixeln 100 emittierten Lichts L maximal um den Faktor 1,5 unterscheidet.

Die Figur 3 zeigt eine schematische Darstellung einer hier beschriebenen Beleuchtungseinrichtung 1. Die

Beleuchtungseinrichtung 1 umfasst ein lichtemittierendes Halbleiterbauelement 10, eine Ansteuerschaltung 60, einen Sensor 70, eine optische Vorrichtung 700 und ein optisches Element 50. Im bestimmungsgemäßen Betrieb emittiert das lichtemittierende Halbleiterbauelement 10 Licht L. In

Abstrahlrichtung des Lichts L ist dem Halbleiterbauelement 10 das optische Element 50 nachgeordnet, mittels dem das

emittierte Licht L auf ein Sichtfeld S gelenkt wird. Das optische Element 50 ist dazu eingerichtet, Licht von

Subpixeln unterschiedlicher Art 101, 102, 103, 104 eines Pixels 100 in einen gleichen Bereich B des Sichtfeldes S zu lenken. Weiter ist das optische Element 50 dazu eingerichtet, in jeden Bereich B Licht L von zumindest einem Pixel 100 zu lenken. Durch selektives Betreiben einzelner Pixel 100 können einzelne Bereiche B des Sichtfeldes S beleuchtet werden.

Mittels selektiven Betreibens einzelner Subpixel 101, 102, 103, 104 kann der Farbort und die Helligkeit des Lichts L, mit dem ein einzelner Bereich B beleuchtet wird, eingestellt werden. Insbesondere wird ein Bereich B des Sichtfeldes S mit Mischlicht der Subpixel 101, 102, 103, 104 eines Pixels 100 beleuchtet .

Das Sichtfeld S ist eine Region in einem Objektraum, welche mittels der optischen Vorrichtung 700 auf dem Sensor 70 abgebildet wird. Der Sensor 70 ist beispielsweise ein CCD-oder ein CMOS-Sensor. Im bestimmungsgemäßen Betrieb überträgt der Sensor 70 Daten der Abbildung des Sichtfeldes S an die Ansteuerschaltung 60, so dass das lichtemittierende

Halbleiterbauelement 10 beispielsweise in Abhängigkeit von den mittels des Sensors 70 ermittelten Daten betreibbar ist.

Beispielsweise können die Bereiche B separat voneinander mittels Licht L eines vorgebbaren Farbortes und einer

vorgebbaren Helligkeit beleuchtet werden. Insbesondere werden im bestimmungsgemäßen Betrieb die Pixel 100 mit einer

Stromdichte von zumindest 10 mA/mm2 betrieben. Insbesondere werden die Pixel mit einem Strom betrieben, welcher nicht gepulst ist.

Insbesondere werden Farbort und/oder Intensität des Lichts L, mit dem ein Bereich B beleuchtet wird, abhängig von dem mittels des Sensors 70 detektierten Farborts und/oder der mittels des Sensors 70 detektierten Helligkeit dieses

Bereichs B angepasst. Beispielsweise ist die

Beleuchtungsstärke mittels der Beleuchtungseinrichtung 1 in einem Bereich B umso größer, je geringer die mittels des Sensors 70 detektierte Helligkeit dieses Bereiches B ist. Insbesondere wird mittels des Sensors 70 der Farbort eines Bereichs B detektiert und mittels der Beleuchtungseinrichtung 1 dieser Bereich B mit Licht L eines innerhalb eines

Toleranzbereiches gleichen Farbortes beleuchtet.

Alternativ wird mittels des Sensors 70 ein roter, grüner und blauer Farbanteil des Farbortes eines Bereiches B detektiert, wobei mittels der Beleuchtungseinrichtung 1 dieser Bereich mit Licht L im roten, grünen und/oder blauen

Wellenlängenbereich beleuchtet. Dabei ist beispielsweise die Beleuchtungsstärke mit Licht L eines Wellenlängenbereiches der Beleuchtungseinrichtung in einem Bereich B umso größer ist, je geringer der mittels des Sensors 70 detektierte

Farbanteil in diesem Bereich B.

Beispielsweise wird der Strom, mit dem die einzelnen Subpixel des lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10 betrieben werden, in mehreren Verfahrensschritten angepasst. Dabei wird in einem Verfahrensschritt A mittels des Sensors 70 eine erste Abbildung AI des Sichtfeldes S aufgenommen, wobei das Sichtfeld S nicht oder nicht mit voller Leistung der

Beleuchtungseinrichtung 1 beleuchtet wird. In einem

Verfahrensschritt B werden anhand der ersten Abbildung AI erste Istwerte II der Bereiche B des Sichtfeldes ermittelt und den Bereichen B werden Sollwerte SO zugeordnet. Ein

Istwert I umfasst eine Ist-Helligkeit und/oder einen Ist-Farbort. Ein Sollwert SO umfasst eine Soll-Helligkeit SH und/oder einen Soll-Farbort SF. In einem Verfahrensschritt C wird mittels des Sensors 70 eine zweite Abbildung A2

aufgenommen, wobei das Sichtfeld S mittels der

Beleuchtungseinrichtung 1 beleuchtet wird. Dabei wird das Sichtfeld S derart beleuchtet, dass die Differenz zwischen zweiten Istwerten 12 der zweiten Abbildung A2 und Sollwerten SO der Bereiche B minimiert wird. Somit wird die

Beleuchtungseinrichtung 1 derart betrieben, dass die

Helligkeit und/oder der Farbort eines jeden Bereiches B, welcher auf dem Sensor 70 abgebildet wird, einem Sollwert SO entsprechen.

Die Figur 4A zeigt eine schematische Ansicht einer

Beleuchtungseinrichtung 1, wobei die Beleuchtungseinrichtung 1 im Unterschied zu dem in Figur 3 dargestellten Ausführungsbeispiel zusätzlich einen Infrarotsensor 75 und ein Infrarotstrahlung-emittierendes Bauteil 15 aufweist. Im bestimmungsgemäßen Betrieb des Infrarotstrahlung-emittierenden Bauteils 15 emittiert dieses Bauteil

elektromagnetische Strahlung LI in einem Wellenlängenbereich zwischen 700 und 1.500 nm. Die emittierte Infrarotstrahlung LI wird mittels eines optischen Elements 50 auf das Sichtfeld S gelenkt. Dem Infrarotstrahlung-emittierenden Bauteil 15 kann das gleiche optische Element 50 oder ein anderes

optisches Element 50 wie dem lichtemittierenden

Halbleiterbauelement 10 nachgeordnet sein. Insbesondere werden mittels des Infrarotstrahlung-emittierenden Bauteils 15 alle Bereiche B des Sichtfeldes S gleichzeitig beleuchtet.

Mittels des Infrarotsensors 75 wird elektromagnetische

Strahlung aus dem Sichtfeld S detektiert. Beispielsweise wird das Sichtfeld S mittels einer weiteren optischen Vorrichtung 750 auf dem Infrarotsensor 75 abgebildet. Beispielsweise wird im Verfahrensschritt A das Sichtfeld S mit

elektromagnetischer Strahlung LI im infraroten

Wellenlängenbereich beleuchtet und das Sichtfeld S wird im infraroten Wellenlängenbereich auf dem Infrarotdetektor 75 abgebildet. Insbesondere wird im Verfahrensschritt A eine erste Abbildung AI des Sichtfeldes aufgenommen.

Die Figur 4B zeigt die Beleuchtungseinrichtung aus Figur 4A, wobei im Verfahrensschritt B anhand der ersten Abbildung im infraroten Wellenlängenbereich, welche im Verfahrensschritt A aufgenommen wurde, die ersten Istwerte II der Bereiche B des Sichtfeldes S ermittelt wurden. Weiter wurde im

Verfahrensschritt B jedem Bereich B im Sichtfeld S ein

Sollwert SO zugeordnet.

In einem Verfahrensschritt C wird mittels des Sensors 70 eine zweite Abbildung A2 aufgenommen, wobei das Sichtfeld S mittels des lichtemittierenden Halbleiterbauelements 10 beleuchtet wird, so dass die Differenz zwischen zweiten

Istwerten 12 der zweiten Abbildung A2 und Sollwerten S der Bereiche B minimiert wird.

Insbesondere wird das lichtemittierende Halbleiterbauelement 10 abhängig von den Daten, welche aus der Abbildung im infraroten Wellenlängenbereich ermittelt werden, betrieben. Vorteilhafterweise kann die Beleuchtungseinrichtung 1 auf Grundlage der Abbildung im infraroten Wellenlängenbereich betrieben werden, sodass die Istwerte I der Bereiche B bei der Aufnahme einer darauf folgenden Abbildung besonders nah an den Sollwerten SO liegen oder mit den Sollwerten

übereinstimmen .

Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele auf diese beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von

Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den

Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.

Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung 102017103888.4, deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.

Bezugs zeichenliste

1 Beleuchtungseinrichtung

10 lichtemittierendes Halbleiterbauteil 15 Infrarotstrahlung-emittierendes Bauteil

100 Pixel

101 Subpixel erster Art

102 Subpixel zweiter Art

103 Subpixel dritter Art

104 Subpixel vierter Art

110 Konversionselement erster Art

120 Konversionselement zweiter Art

130 Konversionselement dritter Art

50 optisches Element

60 Ansteuervorrichtung

61 Zwischenträger

600 Transistor

601 erster Kontakt

602 zweiter Kontakt

611 Umverdrahtungsstruktur

70 Sensor

700 optische Vorrichtung

750 weitere optische Vorrichtung

800 Trenngraben

1100 erster leitender Bereich

1200 zweiter leitender Bereich

1300 aktiver Bereich

AI erste Abbildung

A2 zweiter Abbildung

L Licht

LI Infrarotstrahlung

S Sichtfeld

B Bereich

SO Sollwert

SH Sollhelligkeit

SF Sollfarbort

I Istwert

IH Ist-Helligkeit

IF Ist-Farbort