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1. (WO2018149659) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES MESSGERÄTES MITTELS PROJIZIERTER MUSTER
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Veröff.-Nr.: WO/2018/149659 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/052597
Veröffentlichungsdatum: 23.08.2018 Internationales Anmeldedatum: 02.02.2018
IPC:
G01B 11/25 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24
zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
25
durch Projizieren eines Musters, z.B. Moiré-Streifen, auf den Gegenstand
Anmelder:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München, DE
Erfinder:
ENGEL, Thomas; DE
WISSMANN, Patrick; DE
Prioritätsdaten:
10 2017 202 652.920.02.2017DE
Titel (EN) DEVICE AND METHOD FOR CALIBRATING A MEASURING APPARATUS BY MEANS OF PROJECTED PATTERNS
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN APPAREIL DE MESURE AU MOYEN D'UN MOTIF PROJETÉ
(DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES MESSGERÄTES MITTELS PROJIZIERTER MUSTER
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a device and a method for calibrating a measuring apparatus for measuring a measurement object that extends especially over several meters in space, comprising a detection zone covering the entire measurement object. According to said method, various calibration patterns (Mi) are projected into the detection zone of the measuring apparatus onto an even wall or an even surface by means of a light projector.
(FR) L'invention concerne un dispositif et un procédé d'étalonnage d'un appareil de mesure servant à mesurer un objet à mesurer, qui s'étend dans l'espace en particulier le long d'une zone en mètres, comprenant une zone de détection détectant l'ensemble de l'objet à mesurer. Selon l’invention, différents motifs d'étalonnage, Mi, sont projetés dans la zone de détection de l'appareil de mesure sur une paroi plane ou une surface plane au moyen d'un projecteur de lumière.
(DE) Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Kalibrierung eines Messgerätes zur Vermessung eines Messobjektes, das sich insbesondere entlang eines Bereichs in Metern im Raum erstreckt, mit einem das gesamte Messobjekt erfassenden Erfassungsbereich, wobei mittels eines Lichtprojektors verschiedene Kalibriermuster, Mi, in den Erfassungsbereich des Messgerätes auf eine ebene Wand oder ebene Fläche projiziert werden.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)