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1. (WO2018146234) PRÜFVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN VON LEITERPLATTEN
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Veröff.-Nr.: WO/2018/146234 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/053236
Veröffentlichungsdatum: 16.08.2018 Internationales Anmeldedatum: 09.02.2018
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
Anmelder:
XCERRA CORP.; 825 University Avenue Norwood, MA 02062, US
Erfinder:
WEINDEL, Christian; DE
OTT, Bernd-Ulrich; DE
BRANDT, Peter; DE
Vertreter:
PATRONUS IP PATENT- UND RECHTSANWÄLTE; Neumarkter Str. 18 81673 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2017 102 700.910.02.2017DE
Titel (EN) TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING A PRINTED CIRCUIT BOARDS
(FR) DISPOSITIF DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST DE CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS
(DE) PRÜFVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN VON LEITERPLATTEN
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a testing device and to a method for testing printed circuit boards, in particular unpopulated or partially populated printed circuit boards. The testing device is a finger tester having a shuttle or two sub-shuttles (5, 6), which can alternately move a printed circuit board to be tested to a testing region. In addition, the sub-shuttles can be used to jointly hold a large printed circuit board.
(FR) L'invention concerne un dispositif de test et un procédé de test de cartes de circuits imprimés, notamment de cartes de circuits imprimés non équipées ou partiellement équipées. Le dispositif de test est un testeur à doigt comportant une navette ou deux navettes partielles (5, 6) capables de déplacer alternativement une carte de circuits imprimés vers une zone de test. Par ailleurs, les navettes partielles peuvent être employées pour le maintien commun d'une grande carte de circuits imprimés.
(DE) Die vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung und ein Verfahren zum Testen von Leiterplatten, insbesondere von unbestückten oder teilbestückten Leiterplatten. Die Prüfvorrichtung ist ein Fingertester mit einem Shuttle oder zwei Teilshuttle (5, 6), welche alternierend eine zu testende Leiterplatte zu einem Prüfbereich verfahren können. Zudem können die Teilshuttle zum gemeinsamen Halten einer großen Leiterplatte verwendet werden.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)