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1. (WO2018138249) VORRICHTUNGEN, VERFAHREN UND PROBENHALTER ZUM TESTEN VON PHOTONISCHEN INTEGRIERTEN SCHALTUNGEN SOWIE PHOTONISCHE INTEGRIERTE SCHALTUNGEN
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Veröff.-Nr.: WO/2018/138249 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2018/051939
Veröffentlichungsdatum: 02.08.2018 Internationales Anmeldedatum: 26.01.2018
IPC:
G01R 31/317 (2006.01) ,G02F 1/225 (2006.01) ,G02B 6/00 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
317
Prüfen von digitalen Schaltungen
G Physik
02
Optik
F
Vorrichtungen oder Anordnungen, deren optische Arbeitsweise durch Änderung der optischen Eigenschaften des Mediums der Vorrichtungen oder Anordnungen geändert wird zum Steuern der Intensität, Farbe, Phase, Polarisation oder der Richtung von Lichtstrahlen, z.B. Schalten, Austasten, Modulieren oder Demodulieren; Techniken oder Verfahren für deren Arbeitsweise; Frequenzänderung; nichtlineare Optik; optische logische Elemente; optische Analog-Digital-Umsetzer
1
Vorrichtungen oder Anordnungen zum Steuern der Intensität, Farbe, Phase, Polarisation oder der Richtung von Lichtstrahlen einer unabhängigen Lichtquelle, z.B. Schalten, Austasten oder Modulieren; nichtlineare Optik
01
zum Steuern der Intensität, der Phase, der Polarisation oder der Farbe
21
durch Interferenz
225
in einer optischen Wellenleiteranordnung
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
6
Lichtleiter; Strukturelle Einzelheiten von Anordnungen, die Lichtleiter und andere optische Elemente umfassen, z.B. Verbindungen
Anmelder:
CARL ZEISS AG [DE/DE]; Carl-Zeiss-Straße 22 73447 Oberkochen, DE
Erfinder:
HÜBNER, Philipp; DE
RICHTER, Stefan; DE
Vertreter:
STICHT, Andreas; DE
Prioritätsdaten:
10 2017 101 626.027.01.2017DE
Titel (EN) DEVICES, METHODS, AND SAMPLE HOLDER FOR TESTING PHOTONIC INTEGRATED CIRCUITS, AND PHOTONIC INTEGRATED CIRCUITS
(FR) DISPOSITIFS, PROCÉDÉS ET PORTE-ÉCHANTILLON POUR L’ESSAI DE CIRCUITS INTÉGRÉS PHOTONIQUES ET CIRCUITS INTÉGRÉS PHOTONIQUES
(DE) VORRICHTUNGEN, VERFAHREN UND PROBENHALTER ZUM TESTEN VON PHOTONISCHEN INTEGRIERTEN SCHALTUNGEN SOWIE PHOTONISCHE INTEGRIERTE SCHALTUNGEN
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to methods and to devices for testing a photonic integrated circuit (12) and to a corresponding sample holder and to a photonic integrated circuit. By means of a scanner (11) a location for an illuminating light beam (15) can be selected, such that a targeted coupling of the illuminating light into the photonic integrated circuit (12) is made possible.
(FR) L’invention concerne des procédés et des dispositifs pour l’essai d'un circuit intégré photonique (12), ainsi qu’un porte-échantillon et un circuit intégré photonique associés. Un emplacement pour un faisceau d’éclairage (15) peut être sélectionné au moyen d’un dispositif de balayage (11), ce qui permet une injection ciblée de la lumière d’éclairage dans le circuit intégré photonique (12).
(DE) Es werden Verfahren und Vorrichtungen zum Testen einer photonischen integrierten Schaltung (12) sowie ein entsprechender Probenhalter und eine photonische integrierte Schaltung bereitgestellt. Mittels einer Scaneinrichtung (11) kann dabei ein Ort für einen Beleuchtungslichtstrahl (15) gewählt werden, so dass eine gezielte Einkopplung des Beleuchtungslichts in die photonische integrierte Schaltung (12) ermöglicht wird.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)