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1. (WO2018096003) MIKROSKOP ZUR ABBILDUNG EINES OBJEKTS
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TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2018/096003    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2017/080131
Veröffentlichungsdatum: 31.05.2018 Internationales Anmeldedatum: 22.11.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/08 (2006.01), G02B 21/24 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE)
Erfinder: GÖGLER, Michael; (DE)
Vertreter: PATENTANWÄLTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB; Perhamerstraße 31 80687 München (DE)
Prioritätsdaten:
10 2016 122 529.0 22.11.2016 DE
Titel (DE) MIKROSKOP ZUR ABBILDUNG EINES OBJEKTS
(EN) MICROSCOPE FOR IMAGING AN OBJECT
(FR) MICROSCOPE POUR IMAGER UN OBJET
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Mikroskop (10) zur Abbildung eines Objekts (12), umfassend ein Objektiv (14) zur Abbildung des Objekts (12) durch einen Abbildungsstrahlengang (32), eine Lichtquelle (16) zur Erzeugung von Beleuchtungsstrahlung, mindestens ein optisches Element (18) zur Einkopplung der Beleuchtungsstrahlung in den Abbildungsstrahlengang (32), so dass zwischen optischem Element (18) und Objektiv (14) ein gemeinsamer Strahlengang gebildet ist, durch den der Abbildungsstrahlengang verläuft und die Beleuchtungsstrahlung geführt ist, eine Überwachungseinrichtung (20) zum Messen eines Energieparameters der Beleuchtungsstrahlung, wobei die Überwachungseinrichtung (20) einen Energieparameter einer auf sie eintreffenden Strahlung bestimmt, und eine Strahlteilereinrichtung (22), welche in Beleuchtungsrichtung im gemeinsamen Strahlengang dem Objektiv (14) vorgeordnet ist und von der Beleuchtungsstrahlung Messstrahlung auf die Überwachungseinrichtung (20) auskoppelt.
(EN)The invention relates to a microscope (10) for imaging an object (12), comprising a lens (14) for imaging the object (12) through an imaging beam path (32), a light source (16) for generating illumination radiation, at least one optical element (18) for coupling the illumination radiation into the imaging beam path (32) such that a common beam path is formed between the optical element (18) and the lens (14), wherein the imaging radiation path runs through the common beam path, and the illumination radiation is guided through the common beam path. The microscope also comprises a monitoring device (20) for measuring an energy parameter of the illumination radiation, said monitoring device (20) determining an energy parameter of radiation which is incident on the monitoring device, and a beam splitter device (22) which is arranged in the common beam path upstream of the lens (14) in the illuminating direction and couples measurement radiation out of the illumination radiation onto the monitoring device (20).
(FR)L’invention concerne un microscope (10), destiné à imager un objet (12), comprenant un objectif (14) destiné à imager l’objet (12) sur une trajectoire de faisceau d’imagerie (32), une source de lumière (16) destinée à générer un rayonnement d’illumination, au moins un élément optique (18) destiné à injecter le rayonnement d’illumination dans la trajectoire de faisceau d’imagerie (32) de manière à former entre l’élément optique (18) et l’objectif (14) une trajectoire de faisceau commun sur laquelle la trajectoire de faisceau d’imagerie s’étend et le rayonnement d’illumination est guidé, un dispositif de surveillance (20) destiné à mesurer un paramètre d’énergie du rayonnement d’illumination, le dispositif de surveillance (20) déterminant un paramètre d’énergie d’un rayonnement incident, et un dispositif diviseur de faisceau (22) qui est disposé dans la trajectoire de faisceau commun en amont de l’objectif (14) dans la direction d’illumination et un rayonnement de mesure sort du rayonnement d’illumination et est incident au dispositif de surveillance (20).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)