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1. (WO2018091704) VERFAHREN UND MIKROSKOP ZUM ERMITTELN EINER FLUORESZENZINTENSITÄT
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Veröff.-Nr.: WO/2018/091704 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2017/079750
Veröffentlichungsdatum: 24.05.2018 Internationales Anmeldedatum: 20.11.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G02B 21/16 (2006.01)
[IPC code unknown for G02B 21][IPC code unknown for G02B 21/36][IPC code unknown for G01N 21/64][IPC code unknown for G02B 21/16]
Anmelder:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Erfinder:
FRANKE, Christian; DE
SAUER, Markus; DE
VAN DE LINDE, Sebastian; GB
Vertreter:
LORITZ, Rainer; DE
Prioritätsdaten:
10 2016 014 133.621.11.2016DE
10 2017 211 031.729.06.2017DE
Titel (EN) METHOD AND MICROSCOPE FOR DETERMINING A FLUORESCENCE INTENSITY
(FR) PROCÉDÉ ET MICROSCOPE POUR DÉTERMINER L’INTENSITÉ DE FLUORESCENCE
(DE) VERFAHREN UND MIKROSKOP ZUM ERMITTELN EINER FLUORESZENZINTENSITÄT
Zusammenfassung:
(EN) The first problem addressed by the invention is that of the determination of absolute fluorescence intensities in super-resolution microscopy, which up until now far have been determined either by means adjustment calculations, but then were systematically too low, or by means of aperture photometry, but then had relatively large errors and a lower speed. The second problem addressed by the invention is that in addition the axial location accuracy has been relatively low in super-resolution microscopy up until now. The first problem is solved in that a fluorescence intensity value, which is integrated over a part-area of a separate intensity distribution and derived from a first individual image by means of a background intensity value integrated over the same image area and derived from another individual image in which said image area is free of fluorescence, is corrected. The second problem is solved in that the axial position can be determined by means of two fluorescence intensity values, in each case derived from a different part-area of the intensity distribution, which are corrected in this way. 2.3. Super-resolution microscopy
(FR) 2.1. Les intensités de fluorescence absolues en microscopie à super-résolution ont été déterminées jusqu’à présent à partir de calculs de compensation, mais alors de manière systématiquement trop faible, ou par photométrie à ouverture, mais alors avec une erreur relativement importante et une vitesse faible. En outre, dans la microscopie à super-résolution, la précision de localisation axiale est jusqu’à présent relativement faible. 2.2. Pour résoudre le premier problème, une valeur d’intensité de fluorescence, intégrée sur une sous-région d’une distribution d’intensité isolée, provenant d’une première image individuelle est corrigée au moyen d’une valeur d’intensité de fond, intégrée sur la même zone image, provenant d’une autre image individuelle dans laquelle cette zone d’image est dépourvue de fluorescence. Pour résoudre le deuxième problème, la position axiale peut être déterminée à partir de deux valeurs d’intensité de fluorescence ainsi corrigées provenant de sous-régions respectivement différentes de la distribution d’intensité. 2.3. Microscopie à super-résolution.
(DE) 2.1. Absolute Fluoreszenzintensitäten werden in der superauflö senden Mikroskopie bisher anhand von Ausgleichsrechnungen, dann aber systematisch zu niedrig, oder mittels Aperturphotometrie ermittelt, dann aber mit relativ großem Fehler und niedriger Geschwindigkeit. Daneben ist in der superauflö senden Mikroskopie die axiale Lokalisierungsgenauigkeit bisher relativ niedrig. 2.2.Zur Lösung des ersten Problems wird ein über einen Teilbereich einer vereinzelten Intensitätsverteilung integrierter Fluoreszenzintensitätswert aus einem ersten Einzelbild mittels eines über denselben Bildbereich integrierten Untergrundmtentisitätswerts aus einem anderen Einzelbild, in dem dieser Bildbereich frei von Fluoreszenz ist, korrigiert. Zur Lösung des zweiten Problems kann die axiale Position anhand von zwei derart korrigierten Fluoreszenzintensitätswerten aus jeweils unterschiedlichen Teilbereichen der Intensitätsverteilung ermittelt werden. 2.3. Superauflösende Mikroskopie
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