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1. (WO2018077356) REFERENZPLATTE UND VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG UND/ODER ÜBERPRÜFUNG EINES DEFLEKTOMETRIE-SENSORSYSTEMS
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Veröff.-Nr.: WO/2018/077356 Internationale Anmeldenummer PCT/DE2017/200106
Veröffentlichungsdatum: 03.05.2018 Internationales Anmeldedatum: 05.10.2017
IPC:
G01B 11/25 (2006.01) ,G01M 11/02 (2006.01) ,G01N 21/84 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24
zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
25
durch Projizieren eines Musters, z.B. Moiré-Streifen, auf den Gegenstand
G Physik
01
Messen; Prüfen
M
Prüfen der statischen oder dynamischen Massenverteilung rotierender Teile von Maschinen oder Konstruktionen; Prüfen von Konstruktionsteilen oder Apparaten, soweit nicht anderweitig vorgesehen
11
Prüfen optischer Apparate; Prüfen von Aufbauten oder Maschinenteilen durch optische Verfahren, soweit nicht anderweitig vorgesehen
02
Prüfen optischer Eigenschaften
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84
Systeme, speziell ausgebildet für besondere Anwendungen
Anmelder:
MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO. KG [DE/DE]; Königbacher Straße 15 94496 Ortenburg, DE
Erfinder:
ZWECKINGER, Stephan; DE
HOCHLEITNER, Josef; DE
LOFERER, Hannes; DE
WAGNER, Robert; DE
HESSE, Rainer; DE
Vertreter:
ULLRICH & NAUMANN; Schneidmühlstraße 21 69115 Heidelberg, DE
Prioritätsdaten:
10 2016 220 888.824.10.2016DE
Titel (EN) REFERENCE PLATE AND METHOD FOR CALIBRATING AND/OR CHECKING A DEFLECTOMETRY SENSOR SYSTEM
(FR) PLAQUE DE RÉFÉRENCE ET PROCÉDÉ POUR CALIBRER ET/OU VÉRIFIER UN SYSTÈME DE DÉTECTION PAR DÉFLECTOMÉTRIE
(DE) REFERENZPLATTE UND VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG UND/ODER ÜBERPRÜFUNG EINES DEFLEKTOMETRIE-SENSORSYSTEMS
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a reference plate for calibrating and/or checking a deflectometry sensor system, said deflectometry sensor system comprising an image generating device and a capturing device having at least one capturing element, wherein the reference plate comprises a reflective surface and, for the purpose of checking at least one system parameter of said deflectometry sensor system, the reflective surface is provided with a predefined pattern comprising markings. The invention also relates to a corresponding method for calibrating and/or checking a deflectometry sensor system.
(FR) L'invention concerne une plaque de référence pour calibrer et/ou vérifier un système de détection par déflectométrie, le système de détection par déflectométrie comprenant un dispositif de formation d'images et un dispositif de détection comprenant au moins un élément de détection, la plaque de référence présentant une surface réfléchissante et ladite surface réfléchissante étant munie d'un modèle comprenant des repères prédéfinis pour vérifier au moins un paramètre système du système de détection par déflectométrie. L'invention concerne en outre un procédé correspondant pour calibrer et/ou vérifier un système de détection par déflectométrie.
(DE) Die Erfindung betrifft eine Referenzplatte zur Kalibrierung und/oder Überprüfung eines Deflektometrie-Sensorsystems, wobei das Deflektometrie-Sensorsystem eine Bilderzeugungseinrichtung und eine Erfassungseinrichtung mit mindestens einem Erfassungselement umfasst, wobei die Referenzplatte eine spiegelnde Oberfläche aufweist, und wobei zur Überprüfung von mindestens einem Systemparameter des Deflektometrie-Sensorsystems die spiegelnde Oberfläche mit einem vordefinierten, Markierungen umfassenden Muster versehen ist. Des Weiteren ist ein entsprechendes Verfahren zur Kalibrierung und/oder Überprüfung eines Deflektometrie-Sensorsystems angegeben.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)