WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Optionen
Recherchensprache
Trunkierung
Ordnen nach:
Listenlänge
Einige Inhalte dieser Anwendung sind momentan nicht verfügbar.
Wenn diese Situation weiterhin besteht, kontaktieren Sie uns bitte unterFeedback&Kontakt
1. (WO2018065413) SYSTEM FOR MAKING AND ANALYSING GEMSTONES
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

Veröff.-Nr.: WO/2018/065413 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2017/075077
Veröffentlichungsdatum: 12.04.2018 Internationales Anmeldedatum: 03.10.2017
IPC:
B23K 26/362 (2014.01) ,B23K 26/402 (2014.01) ,G01N 33/38 (2006.01) ,G01N 21/87 (2006.01) ,H01J 49/04 (2006.01) ,B23K 103/00 (2006.01)
[IPC code unknown for B23K 26/362][IPC code unknown for B23K 26/402]
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
33
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch spezifische Methoden, soweit sie nicht von den Gruppen G01N1/-G01N31/153
38
Beton; Kalk; Mörtel; Gips; Ziegelstein; Keramik; Glas
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84
Systeme, speziell ausgebildet für besondere Anwendungen
87
Untersuchen von Edelsteinen
H Elektrotechnik
01
Grundlegende elektrische Bauteile
J
Elektrische Entladungsröhren oder Entladungslampen
49
Teilchenspektrometer oder -trennröhren
02
Einzelheiten
04
Anordnungen zum Einführen oder Herausnehmen von Proben, die analysiert werden sollen, z.B. Vakuumverschlüsse; Anordnungen, um von außen elektronen- oder ionenoptische Bauelemente einzustellen
B Arbeitsverfahren; Transportieren
23
Werkzeugmaschinen; Metallbearbeitung, soweit nicht anderweitig vorgesehen
K
Löten; Schweißen; Beschichten oder Plattieren durch Löten oder Schweißen; Schneiden durch örtliches Zuführen von Hitze, z.B. Brennschneiden; Arbeiten mit Laserstrahlen
103
Werkstoffe, die gelötet, geschweißt oder geschnitten werden sollen
Anmelder: SWISS GEMMOLOGICAL INSTITUTE - SSEF[CH/CH]; Falknerstrasse 9 4001 Basel, CH
Erfinder: WANG, Hao; CH
KRZEMNICKI, Michael S.; CH
Vertreter: BOVARD AG; Optingenstrasse 16 3013 Bern, CH
Prioritätsdaten:
16192271.104.10.2016EP
Titel (EN) SYSTEM FOR MARKING AND ANALYSING GEMSTONES
(FR) SYSTÈME DE MARQUAGE ET D'ANALYSE DE PIERRES PRÉCIEUSES
(DE) SYSTEM FOR MAKING AND ANALYSING GEMSTONES
Zusammenfassung:
(EN) A method for marking (8) a gemstone (4) by an ablation process and for analysing the material composition of said gemstone suggested, wherein, the material that is set free by the ablation process is used for analysing the material composition of the gemstone (4). Furthermore, an appropriate system for carrying out the method is suggested.
(FR) L'invention concerne un procédé pour marquer (8) une pierre précieuse (4) par un processus d'ablation et analyser la composition de matière de ladite pierre précieuse, la matière qui est libérée par le processus d'ablation étant utilisée pour analyser la composition de matière de la pierre précieuse (4). L'invention concerne également un système approprié pour la mise en œuvre du procédé.
(DE) 24 Abstract A method for marking (8) a gemstone (4) by an ablation process and for analysing the material composition of said gemstone suggested, wherein, the material that is set free by the ablation process is used for analysing the material composition of the gemstone (4). Furthermore, an appropriate system 5 for carrying out the method is suggested. (Fig. 1)
front page image
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Englisch (EN)
Anmeldesprache: Englisch (EN)