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1. (WO2018063418) COMPACT TESTING SYSTEM
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2018/063418 Internationale Anmeldenummer PCT/US2016/055780
Veröffentlichungsdatum: 05.04.2018 Internationales Anmeldedatum: 06.10.2016
IPC:
G01R 31/3177 (2006.01) ,G06F 9/00 (2006.01) ,G06F 11/26 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
317
Prüfen von digitalen Schaltungen
3177
Prüfen der logischen Operation, z.B. mittels Logik-Analysatoren
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
F
Elektrische digitale Datenverarbeitung
9
Anordnungen zur Programmsteuerung, z.B. Leitwerk
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
F
Elektrische digitale Datenverarbeitung
11
Fehlererkennung; Fehlerkorrektur; Überwachung
22
Erkennen oder Lokalisieren von defekter Computer-Hardware durch Prüfen während des Standby-Betriebs oder während der Leerlaufzeit, z.B. Prüfen beim Einschalten
26
Funktionsprüfung
Anmelder:
XCERRA CORPORATION [US/US]; 825 University Avenue Norwood, Massachusetts 02062, US
Erfinder:
BROWN, Benjamin; US
POFFENBERGER, Russel; US
Vertreter:
COLANDREO, Brian J.; US
ABRAMSON, Michael T.; US
PLACKER, Jeffrey T.; US
WHITTENBERGER, Mark H.; US
Prioritätsdaten:
15/281,96630.09.2016US
Titel (EN) COMPACT TESTING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TEST COMPACT
Zusammenfassung:
(EN) An automated test platform includes a CPU subsystem housed in an enclosure and configured to execute an automated test process. A test head is housed in the enclosure and is configured to apply one or more test signals to a device under test. A power supply is housed in the enclosure and is configured to provide electrical power to the CPU subsystem and the test head.
(FR) L’invention concerne une plate-forme de test automatisée comprenant un sous-système de CPU logé dans une enceinte et conçu pour exécuter un processus de test automatisé. Une tête de test est logée dans l'enceinte et est conçue pour appliquer un ou plusieurs signaux de test à un dispositif soumis au test. Une alimentation électrique est logée dans l'enceinte et est conçue pour fournir de l'énergie électrique au sous-système de CPU et à la tête de test.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Englisch (EN)
Anmeldesprache: Englisch (EN)