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1. (WO2018059657) OPERATIONSMIKROSKOP MIT EINEM INFRAROTSPEKTROMETER UND VERFAHREN ZUR FESTSTELLUNG PATHOLOGISCHER IMPLIKATIONEN DAMIT
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2018/059657 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2016/072931
Veröffentlichungsdatum: 05.04.2018 Internationales Anmeldedatum: 27.09.2016
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G01J 3/28 (2006.01) ,G02B 5/20 (2006.01) ,G02B 27/12 (2006.01) ,G02B 21/18 (2006.01) ,G02B 21/16 (2006.01) ,G02B 27/09 (2006.01) ,G02B 27/10 (2006.01) ,G02B 27/14 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
G Physik
01
Messen; Prüfen
J
Messen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
3
Spektrometrie; Spektrofotometrie; Monochromatoren; Farbmessung
28
Untersuchen des Spektrums
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
5
Optische Elemente außer Linsen
20
Filter
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
10
Strahlteilende oder -vereinigende Systeme
12
durch Brechung
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
18
Anordnungen mit mehr als einem Strahlenweg, z.B. zum Vergleichen zweier Objekte
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
16
für Ultraviolett-Beleuchtung
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
09
Strahlformung, z.B. Änderung des Strahlquerschnitts, soweit nicht anderweitig vorgesehen
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
10
Strahlteilende oder -vereinigende Systeme
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
10
Strahlteilende oder -vereinigende Systeme
14
durch Reflexion
Anmelder:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München, DE
Erfinder:
ENGEL, Thomas; DE
FLEISCHER, Maximilian; DE
GIGLER, Alexander Michael; DE
PASTUSIAK, Remigiusz; DE
PAUST, Tobias; DE
SIMON, Elfriede; DE
STÜTZ, Evamaria; DE
Prioritätsdaten:
Titel (EN) SURGICAL MICROSCOPE COMPRISING AN INFRARED SPECTROMETER AND METHOD FOR DETERMINING PATHOLOGICAL IMPLICATIONS THEREWITH
(FR) MICROSCOPE CHIRURGICAL DOTÉ D'UN SPECTROMÈTRE À INFRAROUGE ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DES INCIDENCES PATHOLOGIQUES FAISANT APPEL À CELUI-CI
(DE) OPERATIONSMIKROSKOP MIT EINEM INFRAROTSPEKTROMETER UND VERFAHREN ZUR FESTSTELLUNG PATHOLOGISCHER IMPLIKATIONEN DAMIT
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to an assembly and a method for determining pathological implications in which an infrared, in particular near infrared spectrometer integrated into an operational microscope is operated.
(FR) L'invention concerne un ensemble et un procédé de détermination des incidences pathologiques comprenant la mise en oeuvre d’un spectromètre à infrarouge, en particulier à infrarouge proche, intégré dans un microscope chirurgical.
(DE) Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zur Feststellung pathologischer Implikationen bei denen ein in einem Operationsmikroskop integriertes Infrarot-, insbesondere Nahinfrarot-, Spektrometer betrieben wird.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)