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1. (WO2018050907) MIKROSKOPSYSTEM
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Veröff.-Nr.: WO/2018/050907 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2017/073580
Veröffentlichungsdatum: 22.03.2018 Internationales Anmeldedatum: 19.09.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 21/08 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01)
Anmelder: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH[DE/DE]; Ernst-Leitz-Str. 17 - 37 35578 Wetzlar, DE
Erfinder: SCHUMANN, Christian; DE
Vertreter: SCHAUMBURG UND PARTNER PATENTANWÄLTE MBB; Postbox 86 07 48 81634 München, DE
Prioritätsdaten:
10 2016 011 227.119.09.2016DE
Titel (EN) MICROSCOPE SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE MICROSCOPE
(DE) MIKROSKOPSYSTEM
Zusammenfassung: front page image
(EN) The invention relates to a microscope system (10), comprising a light sheet microscopic functional unit (12) which illuminates and images a sample (16) in a first operating state of the microscope system (10) by means of a light sheet-like illumination light distribution, a functional unit using scanning microscopy (14) which illuminates and images the sample (16) in a second operating state of the microscope system (10) by means of a point-like illumination light distribution, a first scanning element (66) which uniaxially scans the sample (16) in the first operating state with light sheet-like illumination light distribution and uniaxially scans the sample (16) in the second operating state with point-like illumination light distribution, a second scanning element which uniaxially scans the sample (16) in a further axis in the second operating state with the point-like illumination light distribution generated by the functional unit using scanning microscopy (14) and thus, in the second operating state, generates together with the first scanning element a biaxial scanning of the sample (16) with the point-like illumination light distribution generated by the functional unit using scanning microscopy (14), and further comprising a control unit which switches between the first operating state and the second operating state.
(FR) L’invention concerne un système de microscope (10) comprenant une unité fonctionnelle (12) de microscopie à feuillet de lumière qui, dans un premier état de fonctionnement du système de microscope (10), éclaire et représente un échantillon (16) au moyen d’une répartition de la lumière d’éclairage de type à feuillet de lumière, une unité fonctionnelle (14) de microscopie à balayage qui, dans un second état de fonctionnement du système de microscope, éclaire et représente l’échantillon (16) au moyen d’une répartition de la lumière d’éclairage ponctuelle, un premier élément de balayage (66) qui effectue dans le premier état de fonctionnement un balayage de l’échantillon (16) suivant un seul axe avec la répartition de lumière d’éclairage de type à feuillet de lumière et effectue dans le second état de fonctionnement un balayage de l’échantillon (16) suivant un seul axe avec la répartition de lumière d’éclairage ponctuelle, un second élément de balayage qui effectue dans le second état de fonctionnement un balayage de l’échantillon (16) suivant un seul autre axe avec la répartition de la lumière d’éclairage ponctuelle produite par l’unité fonctionnelle (14) de microscopie à balayage, et produit ainsi dans le second état de fonctionnement avec le premier élément de balayage un balayage de l’échantillon (16) suivant deux axes avec la répartition de la lumière d’éclairage ponctuelle produite par l’unité fonctionnelle (14) de microscopie à balayage, et une unité de commande qui commute entre le premier état de fonctionnement et le second état de fonctionnement.
(DE) Ein Mikroskopsystem (10) umfasst eine lichtblattmikroskopische Funktionseinheit (12), die eine Probe (16) in einem ersten Betriebszustand des Mikroskopsystems (10) mittels einer lichtblattartigen Beleuchtungslichtverteilung beleuchtet und abbildet, eine rastermikroskopische Funktionseinheit (14), welche die Probe (16)in einem zweiten Betriebszustand des Mikroskopsystems (10) mittels einer punktartigen Beleuchtungslichtverteilung beleuchtet und abbildet, ein erstes Abtastelement (66), das die Probe (16) in dem ersten Betriebszustand mit der lichtblattartigen Beleuchtungslichtverteilung einachsig abtastet und die Probe (16) in dem zweiten Betriebszustand mit der punktartigen Beleuchtungslichtverteilung einachsig abtastet, ein zweites Abtastelement, das die Probe (16) in dem zweiten Betriebszustand mit der durch die rastermikroskopische Funktionseinheit (14) erzeugten punktartigen Beleuchtungslichtverteilung in einer weiteren Achse einachsig abtastet und dadurch in dem zweiten Betriebszustand gemeinsam mit dem ersten Abtastelement eine zweiachsige Abtastung der Probe (16) mit der durch die rastermikroskopische Funktionseinheit (14) erzeugten punktartigen Beleuchtungslichtverteilung erzeugt, und eine Steuereinheit, die zwischen dem ersten Betriebszustand und dem zweiten Betriebszustand umschaltet.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)