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1. (WO2018042056) VERFAHREN ZUM JUSTIEREN EINES LASERSCANNING-FLUORESZENZMIKROSKOPS UND LASERSCANNING-FLUORESZENZMIKROSKOP MIT EINER AUTOMATISCHEN JUSTIERVORRICHTUNG
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Veröff.-Nr.: WO/2018/042056 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2017/072262
Veröffentlichungsdatum: 08.03.2018 Internationales Anmeldedatum: 05.09.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G01N 21/63 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
Anmelder: ABBERIOR INSTRUMENTS GMBH[DE/DE]; Hans-Adolf-Krebs-Weg 1 37077 Göttingen, DE
Erfinder: HEINE, Jörn; DE
REUSS, Matthias; DE
HARKE, Benjamin; DE
KASTRUP, Lars; DE
Vertreter: REHBERG HÜPPE + PARTNER PATENTANWÄLTE PARTG MBB; Robert-Gernhardt-Platz 1 37073 Göttingen, DE
Prioritätsdaten:
16187303.905.09.2016EP
Titel (EN) METHOD FOR ADJUSTING A LASER-SCANNING FLUORESCENCE MICROSCOPE AND LASER-SCANNING FLUORESCENCE MICROSCOPE HAVING AN AUTOMATIC ADJUSTMENT DEVICE
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT D’AJUSTER UN MICROSCOPE À FLUORESCENCE À BALAYAGE LASER ET MICROSCOPE À FLUORESCENCE À BALAYAGE LASER COMPRENANT UN DISPOSITIF D’AJUSTEMENT AUTOMATIQUE
(DE) VERFAHREN ZUM JUSTIEREN EINES LASERSCANNING-FLUORESZENZMIKROSKOPS UND LASERSCANNING-FLUORESZENZMIKROSKOP MIT EINER AUTOMATISCHEN JUSTIERVORRICHTUNG
Zusammenfassung: front page image
(EN) The invention relates to a method for setting a correct adjustment of a laser scanning fluorescence microscope (15), in which an intensity maximum (1) of stimulation light (6) and an intensity maximum (4) of fluorescence prevention light (7) and/or an imaging of a pinhole aperture (2) arranged in front of a fluorescence light detector (18) coincide in the focus of a lens (20), wherein a structure marked by a fluorescence dye is scanned in a sample (22) at the intensity maximum (1) of the stimulation light (6), in order to produce images (A, B) of the sample (22) having maps (3, 30, 31, 32) of the structure, and, from the maps (3, 30, 31, 32) of the structure in the images, an offset (8) between positions of the maps of the structure in the generated images is calculated and balanced. The generated images correspond to different intensities of the fluorescence prevention light (7) and/or to different aperture openings of the pinhole aperture (2).
(FR) L’invention vise à régler un ajustement correct d’un microscope à fluorescence à balayage laser (15), ajustement conformément auquel un maximum d’intensité (1) de la lumière d’excitation (6) et un minium d’intensité (4) de la lumière empêchant la fluorescence (7) et/ou une image d’un diaphragme perforé (2) disposé devant un détecteur de lumière fluorescente (18) coïncident dans le foyer d’un objectif (20). À cet effet, une structure marquée par un fluorochrome est balayée dans un échantillon (22) au maximum d’intensité (1) de la lumière d’excitation (6), afin de produire des images (A, B) de l’échantillon (22) comprenant des représentations (3, 30, 31, 32) de la structure et, à partir des représentations (3, 30, 31, 32) de la structure dans les images, un décalage (8) entre des positions des représentations de la structure dans les images produites est calculé et compensé. Les images produites correspondent à différentes intensités de la lumière empêchant la fluorescence (7) et/ou à différentes ouvertures du diaphragme perforé (2).
(DE) Zum Einstellen einer korrekten Justierung eines Laserscanning-Fluoreszenzmikroskops (15), in der ein Intensitätsmaximum (1) von Anregungslicht (6) und ein Intensitätsminimum (4) von Fluoreszenzverhinderungslicht (7) und/oder eine Abbildung einer vor einem Fluoreszenzlichtdetektor (18) angeordneten Lochblende (2) im Fokus eines Objektivs (20) zusammenfallen, wird eine mit einem Fluoreszenzfarbstoff markierte Struktur in einer Probe (22) mit dem Intensitätsmaximum (1) des Anregungslichts (6) abgetastet, um Bilder (A, B) der Probe (22) mit Abbildern (3, 30, 31, 32) der Struktur zu erzeugen, und wird aus den Abbildern (3, 30, 31, 32) der Struktur in den Bildern ein Versatz (8) zwischen Lagen der Abbilder der Struktur in den erzeugten Bildern berechnet und ausgeglichen. Die erzeugten Bilder entsprechen dabei unterschiedlichen Intensitäten des Fluoreszenzverhinderungslichts (7) und/oder unterschiedlichen Blendenöffnungen der Lochblende (2).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)