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1. (WO2018038262) MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT METHOD AND PROGRAM
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Veröff.-Nr.: WO/2018/038262 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2017/030588
Veröffentlichungsdatum: 01.03.2018 Internationales Anmeldedatum: 25.08.2017
IPC:
G01S 17/89 (2006.01) ,G01S 13/93 (2006.01) ,G01S 17/93 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
S
Funkpeilung; Funknavigationssysteme; Bestimmen der Entfernung oder der Geschwindigkeit mittels Funkwellen; Orten oder Ermitteln der Anwesenheit mittels Reflexion oder Wiederausstrahlung von Funkwellen; vergleichbare Anordnungen mit anderen Wellen
17
Systeme, bei denen die Reflexion oder Wiederausstrahlung elektromagnetischer Wellen außer Funkwellen verwendet werden, z.B. Lidarsysteme
88
Lidarsysteme, besonders ausgebildet für spezifische Anwendungen
89
für Kartierung oder Bilderzeugung
G Physik
01
Messen; Prüfen
S
Funkpeilung; Funknavigationssysteme; Bestimmen der Entfernung oder der Geschwindigkeit mittels Funkwellen; Orten oder Ermitteln der Anwesenheit mittels Reflexion oder Wiederausstrahlung von Funkwellen; vergleichbare Anordnungen mit anderen Wellen
13
Systeme, die die Reflexion oder Wiederausstrahlung von Funkwellen anwenden, z.B. Radarsysteme; vergleichbare Systeme, die die Reflexion oder Wiederausstrahlung von Wellen, deren Art oder Wellenlänge unerheblich oder unspezifiziert ist, anwenden
88
Radar- oder vergleichbare Systeme, besonders ausgebildet für spezifische Anwendungen
93
zum Verhindern von Zusammenstößen
G Physik
01
Messen; Prüfen
S
Funkpeilung; Funknavigationssysteme; Bestimmen der Entfernung oder der Geschwindigkeit mittels Funkwellen; Orten oder Ermitteln der Anwesenheit mittels Reflexion oder Wiederausstrahlung von Funkwellen; vergleichbare Anordnungen mit anderen Wellen
17
Systeme, bei denen die Reflexion oder Wiederausstrahlung elektromagnetischer Wellen außer Funkwellen verwendet werden, z.B. Lidarsysteme
88
Lidarsysteme, besonders ausgebildet für spezifische Anwendungen
93
zum Verhindern von Zusammenstößen
Anmelder:
パイオニア株式会社 PIONEER CORPORATION [JP/JP]; 東京都文京区本駒込二丁目28番8号 28-8, Honkomagome 2-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1130021, JP
Erfinder:
松田 武浩 MATSUDA Takehiro; JP
宮鍋 庄悟 MIYANABE Shogo; JP
Vertreter:
速水 進治 HAYAMI Shinji; JP
天城 聡 AMAGI Satoshi; JP
Prioritätsdaten:
2016-16581826.08.2016JP
Titel (EN) MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT METHOD AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE ET PROGRAMME
(JA) 計測装置、計測方法及びプログラム
Zusammenfassung:
(EN) This measurement device (200) is provided with a measurement unit (202) which emits electromagnetic waves and which scans a target with the electromagnetic waves to perform a measurement, and a control unit (204) which controls the measurement unit (202). The measurement unit (202) can operate in a first scan mode, in which a target is scanned in a first direction, or a second scan mode, in which the target is scanned in a second direction different from the first direction. The control unit (204) determines the scan mode to be carried out by the measurement unit (202).
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure (200) pourvu d'une unité de mesure (202) qui émet des ondes électromagnétiques et qui balaie une cible au moyen des ondes électromagnétiques pour effectuer une mesure, et d'une unité de commande (204) qui commande l'unité de mesure (202). L'unité de mesure (202) peut fonctionner dans un premier mode de balayage, dans lequel une cible est balayée dans une première direction, ou dans un second mode de balayage, dans lequel la cible est balayée dans une seconde direction différente de la première direction. L'unité de commande (204) détermine le mode de balayage que l'unité de mesure (202) doit effectuer.
(JA) 計測装置(200)は、電磁波を出射し、当該電磁波によって対象物を走査して計測を行う計測部(202)と、計測部(202)を制御する制御部(204)と、を有する。計測部(202)は、対象物を第1の方向に沿って走査する第1の走査モード、又は、第1の方向とは異なる第2の方向に沿って走査する第2の走査モードで動作可能である。制御部(204)は、計測部(202)が実行する走査モードを決定する。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)