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1. (WO2018038251) FOREIGN MATTER INSPECTING DEVICE, FOREIGN MATTER INSPECTING METHOD, FOREIGN MATTER CONTAMINATION INSPECTING SYSTEM, AND FOREIGN MATTER CONTAMINATION INSPECTING METHOD
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Veröff.-Nr.: WO/2018/038251 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2017/030494
Veröffentlichungsdatum: 01.03.2018 Internationales Anmeldedatum: 25.08.2017
IPC:
G01N 21/88 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 21/85 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84
Systeme, speziell ausgebildet für besondere Anwendungen
88
Untersuchen der Anwesenheit von Fehlern oder Verunreinigungen
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
62
Systeme, in welchen das untersuchte Material so angeregt wird, dass es Licht emittiert oder die Wellenlänge des auffallenden Lichts ändert
63
optisch angeregt
64
Fluoreszenz; Phosphoreszenz
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84
Systeme, speziell ausgebildet für besondere Anwendungen
85
Untersuchen von bewegten Strömungsmitteln oder körnigen Feststoffen
Anmelder:
三井金属計測機工株式会社 MITSUI KINZOKU INSTRUMENTATIONS TECHNOLOGY CORPORATION [JP/JP]; 愛知県小牧市小木東2-88 2-88, Kokihigashi, Komaki-shi, Aichi 4850059, JP
DIC株式会社 DIC CORPORATION [JP/JP]; 東京都板橋区坂下三丁目35番58号 35-58, Sakashita 3-chome, Itabashi-ku, Tokyo 1748520, JP
Erfinder:
早瀬 広志 HAYASE Hiroshi; JP
櫻井 直人 SAKURAI Naoto; JP
Vertreter:
特許業務法人SSINPAT SSINPAT PATENT FIRM; 東京都品川区西五反田七丁目13番6号 五反田山崎ビル6階 Gotanda Yamazaki Bldg. 6F, 13-6, Nishigotanda 7-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1410031, JP
Prioritätsdaten:
2016-16587226.08.2016JP
Titel (EN) FOREIGN MATTER INSPECTING DEVICE, FOREIGN MATTER INSPECTING METHOD, FOREIGN MATTER CONTAMINATION INSPECTING SYSTEM, AND FOREIGN MATTER CONTAMINATION INSPECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE MATIÈRE ÉTRANGÈRE, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE MATIÈRE ÉTRANGÈRE, SYSTÈME D'INSPECTION DE CONTAMINATION PAR MATIÈRE ÉTRANGÈRE ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CONTAMINATION PAR MATIÈRE ÉTRANGÈRE
(JA) 異物検査装置及び異物検査方法並びに異物混入検査システム及び異物混入検査方法
Zusammenfassung:
(EN) [Problem] To provide a foreign matter inspecting device, a foreign matter inspecting method, a foreign matter contamination inspecting system, and a foreign matter contamination inspecting method, with which it is possible to improve the accuracy of detection of foreign matter, and to prevent an object to be inspected, such as a food product, being distributed in a state of contamination with foreign matter resulting from a resin member such as cleaning brush, a cleaning duster (cloth), or rubber gloves worn by an operator. [Solution] Illuminating light including at least a wavelength that excites near infrared emitting pigment contained in foreign matter is radiated onto an object to be inspected, light emission information based on near infrared emitted light that is emitted when the near infrared emitting pigment is excited is acquired, and the presence or absence of foreign matter is assessed on the basis of the light emission information.
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir un dispositif d'inspection de matière étrangère, un procédé d'inspection de matière étrangère, un système d'inspection de contamination par matière étrangère, et un procédé d'inspection de contamination par matière étrangère, grâce auxquels il est possible d'améliorer la précision de détection de matière étrangère, et d'empêcher un objet à inspecter, tel qu'un produit alimentaire, d'être distribué à l'état contaminé par une matière étrangère résultant d'un élément en résine tel qu'une brosse de nettoyage, un chiffon de nettoyage (tissu) ou des gants en caoutchouc portés par un opérateur. La solution selon l'invention porte sur une lumière d'éclairage comportant au moins une longueur d'onde qui excite un pigment émettant dans le proche infrarouge compris dans une matière étrangère rayonnée sur un objet à inspecter, des informations d'émission de lumière fondées sur la lumière émise dans le proche infrarouge qui est émise lorsque le pigment émettant dans le proche infrarouge est excité sont acquises, et la présence ou l'absence de matière étrangère est évaluée sur la base des informations d'émission de lumière.
(JA) [課題]異物の検出精度を向上させ、食品などの被検査物品に、清掃用ブラシや清掃用ダスター(ふきん)、作業者が装着するゴム手袋などの樹脂部材に起因する異物が混入した状態で流通することを防ぐことができる異物検査装置及び異物検査方法並びに異物混入検査システム及び異物混入検査方法を提供する。 [解決手段]被検査物品に対して、異物に含まれる近赤外発光色素の励起波長を少なくとも含む照明光を照射するとともに、近赤外発光色素が励起して発光する近赤外発光に基づく発光情報を取得し、該発光情報に基づき、異物の有無を判定する。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)