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1. (WO2018037901) COMPARATOR, AD CONVERTER, SOLID STATE IMAGING DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND COMPARATOR CONTROL METHOD
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Veröff.-Nr.: WO/2018/037901 Internationale Anmeldenummer PCT/JP2017/028673
Veröffentlichungsdatum: 01.03.2018 Internationales Anmeldedatum: 08.08.2017
IPC:
H04N 5/3745 (2011.01) ,H03K 5/08 (2006.01) ,H03K 19/0185 (2006.01) ,H04N 5/378 (2011.01)
H Elektrotechnik
04
Elektrische Nachrichtentechnik
N
Bildübertragung, z.B. Fernsehen
5
Einzelheiten von Fernsehsystemen
30
Umwandeln von Licht oder ähnlicher Information in elektrische Information
335
unter Verwendung von Festkörper- /Halbleiter-Bildsensoren [SSIS]
369
Festkörper- /Halbleiter-Bildsensor [SSIS]-Architektur, dazugehörige Schaltungen
374
Adressierte Sensoren, z.B. MOS- oder CMOS-Sensoren
3745
mit zusätzlichen Komponenten, eingebettet innerhalb eines Pixels oder mit einer Pixelgruppe innerhalb einer Sensormatrix verbunden, z.B. Speicher, A/D-Wandler, Pixelverstärker, gemeinsam benutzte Schaltkreise oder Komponenten
H Elektrotechnik
03
Grundlegende elektronische Schaltkreise
K
Impulstechnik
5
Verarbeitung von Impulsen, soweit diese nicht von einer der anderen Hauptgruppen in dieser Unterklasse umfasst ist
01
Impulsformung
08
durch Begrenzen, durch Schwellwertbildung, durch Herausschneiden, d.h. Begrenzen und Schwellwertbildung kombiniert
H Elektrotechnik
03
Grundlegende elektronische Schaltkreise
K
Impulstechnik
19
Verknüpfungsschaltungen, d.h. Schaltungen, bei denen wenigstens zwei Eingangssignale zu einem Ausgangssignal verknüpft werden; Inverterschaltungen
0175
Kopplungsanordnungen; Schnittstellenanordnungen
0185
unter ausschließlicher Verwendung von Feldeffekttransistoren
H Elektrotechnik
04
Elektrische Nachrichtentechnik
N
Bildübertragung, z.B. Fernsehen
5
Einzelheiten von Fernsehsystemen
30
Umwandeln von Licht oder ähnlicher Information in elektrische Information
335
unter Verwendung von Festkörper- /Halbleiter-Bildsensoren [SSIS]
369
Festkörper- /Halbleiter-Bildsensor [SSIS]-Architektur, dazugehörige Schaltungen
378
Auslese-Schaltungen, z.B. Schaltungen für korrelierte Doppelabtastung [CDS], Ausgangsverstärker oder A/D-Wandler
Anmelder:
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP/JP]; 神奈川県厚木市旭町四丁目14番1号 4-14-1, Asahi-cho, Atsugi-shi, Kanagawa 2430014, JP
Erfinder:
榊原 雅樹 SAKAKIBARA Masaki; JP
Vertreter:
西川 孝 NISHIKAWA Takashi; JP
稲本 義雄 INAMOTO Yoshio; JP
Prioritätsdaten:
2016-16189222.08.2016JP
Titel (EN) COMPARATOR, AD CONVERTER, SOLID STATE IMAGING DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND COMPARATOR CONTROL METHOD
(FR) COMPARATEUR, CONVERTISSEUR A/N, DISPOSITIF D'IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEURS, APPAREIL ÉLECTRONIQUE, ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE COMPARATEUR
(JA) 比較器、AD変換器、固体撮像装置、電子機器、および、比較器の制御方法
Zusammenfassung:
(EN) The present disclosure relates to a comparator, an AD converter, a solid-state imaging device, an electronic apparatus, and a comparator control method with which it is possible to reduce the power consumption while improving the determination speed of the comparator. A comparison circuit provided with: a differential input circuit operating with a first power supply voltage, for outputting a signal when the voltage of an input signal is higher than the voltage of a reference signal; a positive feedback circuit operating with a second power supply voltage lower than the first power supply voltage, for accelerating a transition speed, on the basis of an output signal from the differential input circuit, when a comparison result signal indicating the result of comparison of the voltages of the input signal and reference signal is inverted; and a voltage conversion circuit for converting the output signal of the differential input circuit to a signal that corresponds to the second power supply voltage. The comparison circuit is configured so that the source voltage of the differential input circuit is lower than 0 V. The present disclosure can be applied to, for example, a ADC or the like that is arranged for each pixel of a solid-state imaging device.
(FR) La présente invention concerne un comparateur, un convertisseur A/N, un dispositif d'imagerie à semi-conducteurs, un appareil électronique, et un procédé de commande de comparateur à l'aide desquels il est possible de réduire la consommation énergétique tout en améliorant la vitesse de détermination du comparateur. Un circuit de comparaison selon l'invention comporte: un circuit d'entrée différentielle fonctionnant avec une première tension d'alimentation, pour délivrer un signal lorsque la tension d'un signal d'entrée est supérieure à la tension d'un signal de référence; un circuit à réaction positive fonctionnant avec une deuxième tension d'alimentation inférieure à la première tension d'alimentation, pour accélérer une vitesse de transition, sur la base d'un signal de sortie provenant du circuit d'entrée différentielle, lorsqu'un signal de résultat de comparaison indiquant le résultat de comparaison des tensions du signal d'entrée et du signal de référence est inversé; et un circuit de conversion de tension servant à convertir le signal de sortie du circuit d'entrée différentielle en un signal qui correspond à la deuxième tension d'alimentation. Le circuit de comparaison est configuré de telle façon que la tension de source du circuit d'entrée différentielle soit inférieure à 0 V. La présente invention peut être appliquée, par exemple, à un CAN ou similaire qui est agencé pour chaque pixel d'un dispositif d'imagerie à semi-conducteurs.
(JA) 本開示は、比較器の判定速度を向上させつつ、消費電力を低減させることができるようにする比較器、AD変換器、固体撮像装置、電子機器、および、比較器の制御方法に関する。 比較回路は、第1の電源電圧で動作し、入力信号の電圧が参照信号の電圧よりも高いときに信号を出力する差動入力回路と、第1の電源電圧よりも低い第2の電源電圧で動作し、差動入力回路からの出力信号に基づいて、入力信号と参照信号の電圧の比較結果を表す比較結果信号が反転するときの遷移速度を高速化する正帰還回路と、差動入力回路の出力信号を、第2の電源電圧に対応する信号に変換する電圧変換回路とを備え、差動入力回路のソース電圧が0Vよりも低い電圧であるように構成される。本開示は、例えば、固体撮像装置の画素ごとに配置されるADC等に適用できる。
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Japanisch (JA)
Anmeldesprache: Japanisch (JA)