WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2018024464) TESTSYSTEM ZUR ÜBERPRÜFUNG VON ELEKTRISCHEN VERBINDUNGEN VON ELEKTRONISCHEN BAUTEILEN MIT EINER LEITERPLATTE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2018/024464    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2017/067813
Veröffentlichungsdatum: 08.02.2018 Internationales Anmeldedatum: 14.07.2017
IPC:
G01R 31/04 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Anmelder: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG [CH/CH]; Kägenstr. 7 4153 Reinach (CH)
Erfinder: BÖHLER, Thomas; (DE).
BRUDERMANN, Matthias; (CH).
WERLE, Christoph; (CH).
WUCHER, Markus; (DE).
KOLLMER, Daniel; (DE).
ADAM, Ludovic; (FR)
Vertreter: ANDRES, Angelika; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2016 114 145.3 01.08.2016 DE
Titel (DE) TESTSYSTEM ZUR ÜBERPRÜFUNG VON ELEKTRISCHEN VERBINDUNGEN VON ELEKTRONISCHEN BAUTEILEN MIT EINER LEITERPLATTE
(EN) TEST SYSTEM FOR TESTING ELECTRIC CONNECTIONS BETWEEN ELECTRONIC COMPONENTS AND A PRINTED CIRCUIT BOARD
(FR) SYSTÈME DE TEST DESTINÉ À CONTRÔLER DES CONNEXIONS ÉLECTRIQUES DE COMPOSANTS ÉLECTORNIQUE COMPORTANT UNE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ
Zusammenfassung: front page image
(DE)Ein Testsystem (1 ) zur Überprüfung von elektrischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischen elektronischen Bauteilen mit einer zu überprüfenden Leiterplatte (6), dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem (1) eine beweglich in einem Gehäuse (1a) des Testsystems gelagerte Baugruppe und eine Strom- und/oder Spannungsquelle (14) zur Energieversorgung der zu prüfende Leiterplatte (6) aufweist, wobei die Strom- und/oder Spannungsquelle (14) beweglich in mindestens zwei Raumrichtungen innerhalb des Gehäuses (1a) des Testsystems (1) angeordnet ist.
(EN)Disclosed is a test system (1) for testing electric connections, in particular soldered connections, between electronic components and a printed circuit board (6) to be tested, characterized in that the test system (1) includes a subassembly, which is movably mounted in a housing (1a) of the test system, and a current and/or voltage source (14) for energizing the circuit board (6) to be tested, the current and/or voltage source (14) being arranged in the housing (1a) of the test system (1) in such a way as to be movable in at least two directions in space.
(FR)Système de test (1) destiné à contrôler des connexions électriques, notamment des connexion soudées, entre des composants électroniques comportant une carte de circuit imprimé (6) à contrôler, ledit système de test (1) étant caractérisé en ce qu’il présente un module monté de manière mobile dans un boîtier (1a) du système de test ainsi qu’une source de courant et/ou de tension (14) pour l'alimentation électrique de la carte de circuit imprimé (6) à contrôler, ladite source de courant et/ou de tension (14) étant montée de manière à pouvoir se déplacer dans au moins deux directions spatiales à l’intérieur du boîtier (1a) du système de test (1).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)